-
公开(公告)号：CN109696788B
公开(公告)日：2021-12-14
申请号：CN201910015537.8
申请日：2019-01-08
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明属于显示面板缺陷检测技术领域，公开了一种基于显示面板的快速自动对焦方法，采集显示面板对焦画面图像，在全焦段范围内采用二分法进行调焦，通过大步长调焦法确定图像清晰的对焦范围，再通过小步长调焦法在对焦范围内确定清晰对焦位置；在清晰对焦位置处采集清晰对焦位置对应的图像，进行对焦清晰度判断，若满足预设阈值要求则输出图像，否则进行自动对焦微调后再次采集图像进行对焦清晰度判，直至满足预设阈值要求，输出图像；本发明提供的自动对焦方法，粗对焦计算清晰对焦位置，根据该对焦位置处图像的清晰度进行微调，进一步提高了对焦精度，防止出现误对焦，并且可提高缺陷检测的精度，缩短检测时长。
-
公开(公告)号：CN110830795B
公开(公告)日：2020-05-19
申请号：CN202010020753.4
申请日：2020-01-09
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备，涉及数字图像处理技术领域；该检测方法包括：获取图像传感器在不同曝光时间下采集的外部图像并进行坏点检测，记录每一外部图像中检出的备选坏点的位置坐标；比较不同曝光时间下的外部图像中的各备选坏点的位置坐标，若出现相同位置坐标的备选坏点的外部图像个数与外部图像总数的比值不小于预设的比例阈值，则确认该位置坐标的备选坏点为所述图像传感器中的实际坏点像素；本发明通过对不同曝光时间下采集的图像进行坏点检测，再对不同曝光时间下检测到的疑似坏点进行比较，通过设置比例阈值对备选坏点作进一步筛选，大大提高了坏点检测的准确性。
-
公开(公告)号：CN116183169B
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN202310485760.5
申请日：2023-05-04
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种显示产品图像中心对位方法，该方法包括：调整已点亮的待测显示产品与图像获取模块的相对角度和/或相对位置；通过第一图像中显示产品的发光中心与第一图像中心的偏移量，以及第一图像中参考区域的第一参数作为图像中心对位的判断依据。本发明根据图像获取模块所取图像进行实时算法计算，调整显示产品与图像获取模块的相对位置和相对角度，减少人为经验主义干预判断，提高测试精度和重复性。
-
公开(公告)号：CN109696788A
公开(公告)日：2019-04-30
申请号：CN201910015537.8
申请日：2019-01-08
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明属于显示面板缺陷检测技术领域，公开了一种基于显示面板的快速自动对焦方法，采集显示面板对焦画面图像，在全焦段范围内采用二分法进行调焦，通过大步长调焦法确定图像清晰的对焦范围，再通过小步长调焦法在对焦范围内确定清晰对焦位置；在清晰对焦位置处采集清晰对焦位置对应的图像，进行对焦清晰度判断，若满足预设阈值要求则输出图像，否则进行自动对焦微调后再次采集图像进行对焦清晰度判，直至满足预设阈值要求，输出图像；本发明提供的自动对焦方法，粗对焦计算清晰对焦位置，根据该对焦位置处图像的清晰度进行微调，进一步提高了对焦精度，防止出现误对焦，并且可提高缺陷检测的精度，缩短检测时长。
-
公开(公告)号：CN116183169A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202310485760.5
申请日：2023-05-04
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种显示产品图像中心对位方法，该方法包括：调整已点亮的待测显示产品与图像获取模块的相对角度和/或相对位置；通过第一图像中显示产品的发光中心与第一图像中心的偏移量，以及第一图像中参考区域的第一参数作为图像中心对位的判断依据。本发明根据图像获取模块所取图像进行实时算法计算，调整显示产品与图像获取模块的相对位置和相对角度，减少人为经验主义干预判断，提高测试精度和重复性。
-
公开(公告)号：CN110830795A
公开(公告)日：2020-02-21
申请号：CN202010020753.4
申请日：2020-01-09
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备，涉及数字图像处理技术领域；该检测方法包括：获取图像传感器在不同曝光时间下采集的外部图像并进行坏点检测，记录每一外部图像中检出的备选坏点的位置坐标；比较不同曝光时间下的外部图像中的各备选坏点的位置坐标，若出现相同位置坐标的备选坏点的外部图像个数与外部图像总数的比值不小于预设的比例阈值，则确认该位置坐标的备选坏点为所述图像传感器中的实际坏点像素；本发明通过对不同曝光时间下采集的图像进行坏点检测，再对不同曝光时间下检测到的疑似坏点进行比较，通过设置比例阈值对备选坏点作进一步筛选，大大提高了坏点检测的准确性。
-
公开(公告)号：CN112819758A
公开(公告)日：2021-05-18
申请号：CN202110070078.0
申请日：2021-01-19
申请人： 武汉精测电子集团股份有限公司 , 武汉精立电子技术有限公司
摘要： 本发明提供一种训练数据集的生成方法、装置、设备及可读存储介质。该方法包括：生成缺陷样本图片集；将所述缺陷样本图片集中的至少一张图片分别输入失真干扰系统，所述失真干扰系统为使输入的图片失真的系统；所述失真干扰系统包括面板显示失真系统和成像失真系统，所述面板显示失真系统为由于面板显示参数的不同使得图片具有不同失真的系统，所述成像失真系统为由于成像的干扰因素使得图片失真的系统；将所述失真干扰系统输出的图片集作为训练数据集。通过本发明，生成多样性以及真实性均较高的训练数据集，从而使得基于该训练数据集训练得到的用于缺陷检测的深度神经网络模型具有高度泛化性和通用性。
-
公开(公告)号：CN109167928B
公开(公告)日：2020-11-03
申请号：CN201811037816.6
申请日：2018-09-06
申请人： 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明涉及面板检测技术领域，具体涉及一种基于显示面板缺陷检测的快速自动曝光方法及系统。从显示屏画面图像中提取屏幕ROI区域；根据显示屏屏幕亮度和画面灰阶的gamma关系计算显示面板待检测画面的曝光参数；根据计算出的显示面板待检测画面的曝光参数调节相机曝光时间和增益，采集屏幕相应待检测画面，判断屏幕亮度是否合格；若屏幕亮度合格，则切换下一个待检测画面进行曝光参数计算。制作gamma画面计算屏幕实际gamma参数，再利用实际的屏幕gamma参数预测各灰阶画面的相机曝光参数，可以有效的一次性达到自动曝光效果，运算速度快，实时性强。
-
公开(公告)号：CN109167928A
公开(公告)日：2019-01-08
申请号：CN201811037816.6
申请日：2018-09-06
申请人： 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明涉及面板检测技术领域，具体涉及一种基于显示面板缺陷检测的快速自动曝光方法及系统。从显示屏画面图像中提取屏幕ROI区域；根据显示屏屏幕亮度和画面灰阶的gamma关系计算显示面板待检测画面的曝光参数；根据计算出的显示面板待检测画面的曝光参数调节相机曝光时间和增益，采集屏幕相应待检测画面，判断屏幕亮度是否合格；若屏幕亮度合格，则切换下一个待检测画面进行曝光参数计算。制作gamma画面计算屏幕实际gamma参数，再利用实际的屏幕gamma参数预测各灰阶画面的相机曝光参数，可以有效的一次性达到自动曝光效果，运算速度快，实时性强。
-
公开(公告)号：CN109302571B
公开(公告)日：2020-06-23
申请号：CN201811437835.8
申请日：2018-11-29
申请人： 武汉精立电子技术有限公司
摘要： 本发明属于显示面板缺陷检测技术领域，公开了一种快速自动曝光图形及其生成方法，在图形区域中取第一限定区域，在第一限定区域中取多个图块，在多个图块中取出四个特征图块和至少三个灰阶图块，不同的特征图块分别填充不同的特征颜色，不同的灰阶图块分别填充不同的灰阶颜色，三个特征图块中分别取不同个数的识别块，在识别块中填充识别颜色，在未限定区域内填充第一对比颜色。本发明解决了现有技术中显示面板自动曝光的时间复杂度较高的问题，本发明可通过一张图形预测所有待检测画面的相机曝光参数，可以一次性达到自动曝光效果，运算速度快、实时性强，能够降低时间复杂度。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
11 条记录 (耗时 0.061 秒)
