-
公开(公告)号：CN104917467B
公开(公告)日：2017-08-25
申请号：CN201510351874.6
申请日：2015-06-24
申请人： 江苏博普电子科技有限责任公司
摘要： 本发明公开了一种GaN微波功率放大器用漏极调制电路，调制信号及其经反相器后的反相信号同时输入逻辑电路，经延时后，输出高端NMOS驱动器输入信号和低端NMOS驱动器输入信号；高端NMOS驱动器输入信号和低端NMOS驱动器输入信号分别输入至高端NMOS驱动器和低端NMOS管驱动器中，高端NMOS驱动器和低端NMOS管驱动器的输出端分别连接至高端NMOS管和低端NMOS管的栅极；高端NMOS管的源极作为GaN 微波脉冲功率放大器的漏极电压端。本发明的电路避免了GaN微波脉冲功率放大器漏极电压端放电速度慢而产生拖尾现象，降低调制信号到漏极电压端的上升沿和下降沿延时时间，降低了漏极电压端的过冲电压幅度。
-
公开(公告)号：CN105510697A
公开(公告)日：2016-04-20
申请号：CN201610003315.0
申请日：2016-01-06
申请人： 江苏博普电子科技有限责任公司
IPC分类号： G01R19/25
CPC分类号： G01R19/2516
摘要： 本发明公开了一种GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路，包括MCU、译码器、多路选择器、ADC、DAC、栅极驱动功率放大器和采样电阻；多路并列的被测GaN微波功率器件，每路被测GaN微波功率器件栅极均与一栅极驱动功率放大器的输出端连接，每路栅极驱动功率放大器的输入端均对应地与一路DAC的信号输出端连接，每路DAC的信号输入端连接至MCU，每路DAC的片选信号端均连接至译码器，译码器由MCU控制工作；每路被测GaN微波功率器件的漏极电流分别经多路选择器对应的一路采集至MCU中。本电路能达到每路的被测器件漏极电流一致，大大减少了调试工作量，提高了工作效率。
-
公开(公告)号：CN105445508A
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201610005766.8
申请日：2016-01-06
申请人： 江苏博普电子科技有限责任公司
IPC分类号： G01R1/04
CPC分类号： G01R1/0425
摘要： 本发明公开了一种用于微波功率放大器的测试夹具，包括底座、调节压片和夹持块；底座的一端具有一凸出于底座上表面的定位挡墙，与定位挡墙相对的底座的另一端上表面安装一可滑动的夹持块；由夹持块与定位挡墙将微波功率放大器载片的两侧夹持；载片的另外两侧的底座的上表面上设置有多个螺孔，与调节压片上设置的长槽相配合，通过连接件穿过对应的同侧的调节压片的长槽和底座上表面的螺孔，将调节压片固定到底座上表面，使载片的另外两侧分别由一调节压片进行夹持固定。本发明的用于微波功率放大器的测试夹具，可以根据微波功率放大器的大小进行调节，适用于各种尺寸和规格的小型化的微波功率放大器的夹持测试，调节方便快捷，不损伤载片。
-
公开(公告)号：CN104375028A
公开(公告)日：2015-02-25
申请号：CN201410625958.X
申请日：2014-11-07
申请人： 江苏博普电子科技有限责任公司
IPC分类号： G01R31/00
摘要： 本发明公开了一种验证C波段GaN微波功率器件用测试板性能的装置，其特征是，包括散热底座、测试板和测试器件；所述测试板焊接在散热底座上；所述测试板的输入端和输出端均采用焊接方式，并采用螺丝钉固定接地；所述测试板上焊接有无源元器件。本发明所达到的有益效果：散热底座采用铜底座可以增强电特性和散热特性。测试板和散热底座采用焊接的方式连接，有利于C波段频率下的接地性能。测试器件采用RF2417SPC-E封装,该器件的封装形式和C波段GaN微波功率器件采用了同一种封装形式，从而可以尽量的减小因为封装不同而在匹配上带来的误差。整个装置结构简单，且尽量避免了一切外界因素的干扰，提高了检测的准确度，且成本低，操作起来简易。
-
公开(公告)号：CN104377416A
公开(公告)日：2015-02-25
申请号：CN201410621951.0
申请日：2014-11-07
申请人： 江苏博普电子科技有限责任公司
IPC分类号： H01P5/00
摘要： 本发明公开了一种适用于C波段的GaN微波大功率器件宽带匹配电路，其特征是，包括封装管壳、输入端宽带匹配电路、输出端宽带匹配电路以及GaN芯片；所述宽带匹配电路分为两级，第一级为T型匹配网络，第二级为四路功率分配器网络；所述功率分配器同时完成功率分配和阻抗匹配功能；所述功率分配器输出端采用隔离电阻。本发明匹配网络采用二级匹配网络，增加了器件的带宽。四路功率分配器输出端各金丝键合点的相位不一致性控制在5度以内,保证了器件整体的输出功率和合成效率。传输线比较宽，没有电迁移现象，不会出现长期可靠性问题。此外，在功率分配器的输出端口采用隔离电阻，增加器件各个端口的隔离度和回波损耗，防止器件发生奇模振荡。
-
公开(公告)号：CN105510697B
公开(公告)日：2018-04-20
申请号：CN201610003315.0
申请日：2016-01-06
申请人： 江苏博普电子科技有限责任公司
IPC分类号： G01R19/25
摘要： 本发明公开了一种GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路，包括MCU、译码器、多路选择器、ADC、DAC、栅极驱动功率放大器和采样电阻；多路并列的被测GaN微波功率器件，每路被测GaN微波功率器件栅极均与一栅极驱动功率放大器的输出端连接，每路栅极驱动功率放大器的输入端均对应地与一路DAC的信号输出端连接，每路DAC的信号输入端连接至MCU，每路DAC的片选信号端均连接至译码器，译码器由MCU控制工作；每路被测GaN微波功率器件的漏极电流分别经多路选择器对应的一路采集至MCU中。本电路能达到每路的被测器件漏极电流一致，大大减少了调试工作量，提高了工作效率。
-
公开(公告)号：CN104917467A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：CN201510351874.6
申请日：2015-06-24
申请人： 江苏博普电子科技有限责任公司
摘要： 本发明公开了一种GaN微波功率放大器用漏极调制电路，调制信号及其经反相器后的反相信号同时输入逻辑电路，经延时后，输出高端NMOS驱动器输入信号和低端NMOS驱动器输入信号；高端NMOS驱动器输入信号和低端NMOS驱动器输入信号分别输入至高端NMOS驱动器和低端NMOS管驱动器中，高端NMOS驱动器和低端NMOS管驱动器的输出端分别连接至高端NMOS管和低端NMOS管的栅极；高端NMOS管的源极作为GaN微波脉冲功率放大器的漏极电压端。本发明的电路避免了GaN微波脉冲功率放大器漏极电压端放电速度慢而产生拖尾现象，降低调制信号到漏极电压端的上升沿和下降沿延时时间，降低了漏极电压端的过冲电压幅度。
-
公开(公告)号：CN104374424A
公开(公告)日：2015-02-25
申请号：CN201410623373.4
申请日：2014-11-07
申请人： 江苏博普电子科技有限责任公司
摘要： 本发明公开了一种远程监控微波功率器件长期可靠性测试系统，其特征是，包括检测模块、数据采集分析模块和电源系统；所述数据分析模块包括依次连接的数据采集器、控制器和数据处理模块；所述控制器和数据处理模块通过无线模块连接；所述数据采集器分别与被测装置和功率计相连接。本发明所达到的有益效果：本系统是一种加载射频功率及满功率输出，模拟实际工作状态进行长期可靠性测试系统方案。采用了可以采用远程监控的方式，大大地方便了检测人员，实时监控数据采集电路采集的偏置电压、功耗电流、微波输入输出功率、温度参数、故障告警等信息，并设置有故障告警模块，能够及时地提醒工作人员出现故障，采取合适的措施。
-
公开(公告)号：CN204633719U
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：CN201520436419.1
申请日：2015-06-24
申请人： 江苏博普电子科技有限责任公司
摘要： 本实用新型公开了一种GaN微波功率放大器用漏极调制电路，调制信号及其经反相器后的反相信号输入逻辑电路经延时后，输出高端NMOS驱动器输入信号和低端NMOS驱动器输入信号；高端NMOS驱动器输入信号和低端NMOS驱动器输入信号分别输入至高端NMOS驱动器和低端NMOS管驱动器中，高端NMOS驱动器和低端NMOS管驱动器的输出端分别连接至高端NMOS管和低端NMOS管的栅极；高端NMOS管的源极作为GaN 微波脉冲功率放大器的漏极电压端。本实用新型的电路避免了GaN微波脉冲功率放大器漏极电压端放电速度慢产生拖尾现象，降低调制信号到漏极电压端的上升沿和下降沿延时时间，降低了漏极电压端的过冲电压幅度。
-
公开(公告)号：CN205333728U
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：CN201620005412.9
申请日：2016-01-06
申请人： 江苏博普电子科技有限责任公司
IPC分类号： G01R19/25
摘要： 本实用新型公开了一种GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路，包括MCU、译码器、多路选择器、ADC、DAC、栅极驱动功率放大器和采样电阻；多路并列的被测GaN微波功率器件，每路被测GaN微波功率器件栅极均与一栅极驱动功率放大器的输出端连接，每路栅极驱动功率放大器的输入端均对应地与一路DAC的信号输出端连接，每路DAC的信号输入端连接至MCU，每路DAC的片选信号端均连接至译码器，译码器由MCU控制工作；每路被测GaN微波功率器件的漏极电流分别经多路选择器对应的一路采集至MCU中。本电路能达到每路的被测器件漏极电流一致，大大减少了调试工作量，提高了工作效率。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
14 条记录 (耗时 0.039 秒)
