公开(公告)号：CN107704889B

公开(公告)日：2020-09-11

申请号：CN201711052084.3

申请日：2017-10-30

申请人： 沈阳航空航天大学

发明人： 屈力刚 ,  李亮 ,  万景洋 ,  张杰 ,  卫青廷 ,  丁来军 ,  张丹雅 ,  李静

IPC分类号： G06K9/62

摘要： 本发明提供一种面向数字化检测的MBD模型阵列特征快速标注方法，涉及数字化检测技术领域。该方法首先对MBD模型上的一组阵列特征进行均匀采样，获得采样点云；然后采用PCA算法和改进的ICP算法进行采样点云间的粗配准和精确配准，确立采样点云间的匹配关系；最后根据采样点云间的对应关系，完成对阵列特征所缺失标注信息的补全。本发明提供的面向数字化检测的MBD模型阵列特征快速标注方法，在不干预设计人员对MBD模型的阵列特征标注习惯的基础上，自动地完成缺失信息的补全，提高了阵列特征尺寸标注的效率和准确性，使经过快速标注方法标注的阵列特征对象满足可测量性的要求，实现待检对象与检测要求的一一对应。

公开(公告)号：CN107704889A

公开(公告)日：2018-02-16

申请号：CN201711052084.3

申请日：2017-10-30

申请人： 沈阳航空航天大学

发明人： 屈力刚 ,  李亮 ,  万景洋 ,  张杰 ,  卫青廷 ,  丁来军 ,  张丹雅 ,  李静

IPC分类号： G06K9/62

CPC分类号： G06K9/6202

摘要： 本发明提供一种面向数字化检测的MBD模型阵列特征快速标注方法，涉及数字化检测技术领域。该方法首先对MBD模型上的一组阵列特征进行均匀采样，获得采样点云；然后采用PCA算法和改进的ICP算法进行采样点云间的粗配准和精确配准，确立采样点云间的匹配关系；最后根据采样点云间的对应关系，完成对阵列特征所缺失标注信息的补全。本发明提供的面向数字化检测的MBD模型阵列特征快速标注方法，在不干预设计人员对MBD模型的阵列特征标注习惯的基础上，自动地完成缺失信息的补全，提高了阵列特征尺寸标注的效率和准确性，使经过快速标注方法标注的阵列特征对象满足可测量性的要求，实现待检对象与检测要求的一一对应。