一种高频同轴探针塔和测试探针孔

    公开(公告)号:CN116203293B

    公开(公告)日:2023-07-14

    申请号:CN202310486753.7

    申请日:2023-05-04

    IPC分类号: G01R1/073 G01R1/04

    摘要: 本发明涉及一种高频同轴探针塔和测试探针孔。本发明所述的高频同轴探针塔的同轴模块装入测试探针后,测试探针充当导体,金属屏蔽装针壳体内的空气与金属屏蔽盖板内的绝缘材料形成内绝缘,金属屏蔽装针壳体作为屏蔽层,形成同轴结构。可分别调控金属屏蔽盖板和金属屏蔽装针壳体部分,使得其阻抗值一致。且高频同轴探针塔工作时,测试探针压缩至同轴模块内,测试探针在工作时各部分阻抗值一致,从而大大提升高速率、低损耗、高信号屏蔽的信号传输。

    一种高频同轴探针塔和测试探针孔

    公开(公告)号:CN116203293A

    公开(公告)日:2023-06-02

    申请号:CN202310486753.7

    申请日:2023-05-04

    IPC分类号: G01R1/073 G01R1/04

    摘要: 本发明涉及一种高频同轴探针塔和测试探针孔。本发明所述的高频同轴探针塔的同轴模块装入测试探针后,测试探针充当导体,金属屏蔽装针壳体内的空气与金属屏蔽盖板内的绝缘材料形成内绝缘,金属屏蔽装针壳体作为屏蔽层,形成同轴结构。可分别调控金属屏蔽盖板和金属屏蔽装针壳体部分,使得其阻抗值一致。且高频同轴探针塔工作时,测试探针压缩至同轴模块内,测试探针在工作时各部分阻抗值一致,从而大大提升高速率、低损耗、高信号屏蔽的信号传输。