碳化硅晶体的生长装置及其制备方法和应用

    公开(公告)号:CN118374883A

    公开(公告)日:2024-07-23

    申请号:CN202410524115.4

    申请日:2024-04-28

    IPC分类号: C30B29/36 C30B23/00 C23C16/26

    摘要: 本发明涉及一种碳化硅晶体的生长装置及其制备方法和应用,该碳化硅晶体的生长装置,包括石墨坩埚底、籽晶底座以及坩埚顶盖,籽晶底座位于石墨坩埚底与坩埚顶盖形成的空腔内,籽晶底座包括籽晶托以及依次层叠设置于籽晶托表面的第一热解石墨层以及碳化硅层,坩埚顶盖的内表面层叠设置有第二热解石墨层;其中,第一热解石墨层的厚度为a,碳化硅层的厚度为b,第一热解石墨层的厚度大于或等于籽晶托的粗糙度,a与b的比值为0.5‑1。该碳化硅晶体的生长装置不仅能够防止SiC籽晶与籽晶底座之间出现气孔,还能够使籽晶底座与SiC籽晶的贴合面温度均匀,进而在通过PVT法生长SiC晶体时,避免平面六方空洞缺陷的形成,很好的提高SiC晶体的质量。