一种用于大尺寸蓝宝石晶体生长制备装置

    公开(公告)号:CN116121879A

    公开(公告)日:2023-05-16

    申请号:CN202310398638.4

    申请日:2023-04-14

    IPC分类号: C30B33/02 C30B29/20 C30B17/00

    摘要: 本发明提供了一种用于大尺寸蓝宝石晶体生长制备装置,属于蓝宝石晶体生长制备技术领域,制备组件包括炉体以及用于承接晶体的坩埚,炉体的炉底板上具有托盘,托盘上连接有供坩埚升降的驱动件,加热组件包括加热器以及与加热器相连的第一电极,其中,炉底板的下方设有一升降结构,升降结构可驱动第一电极在炉底板上滑动,以推动加热器进行反复升降动作,第一电极与炉底板相交处设有密封座,密封座上设有易融结构,当坩埚泄露时,其熔融液体可将易融结构融穿,形成排液通道。该装置能够使得晶体内应力及开裂问题得到根本改善和解决,同时,当坩埚发生相应的开裂情况下,使其熔融状态的氧化铝液体排出,避免存储在炉体底壁上。

    一种双向生长碳化硅晶体的装置

    公开(公告)号:CN116136030A

    公开(公告)日:2023-05-19

    申请号:CN202310350285.0

    申请日:2023-04-04

    IPC分类号: C30B29/36 C30B23/00

    摘要: 本发明提供了一种双向生长碳化硅晶体的装置,属于晶体生长技术领域,该双向生长碳化硅晶体的装置包括下坩埚组件和上坩埚组件。其中,下坩埚组件中下坩埚体具有一向上开口的第一腔室,第一多孔石墨板设置于第一腔室,且第一多孔石墨板和第一腔室的下部配合构成第一容料腔;上坩埚组件中上坩埚体具有一向下开口的第二腔室,第二多孔石墨板设置于第二腔室,且第二多孔石墨板和第二腔室的上部配合构成第二容料腔,上坩埚体设置于下坩埚体上时,第一腔室和第二腔室连通,且第一容料腔和第二容料腔之间能够放置至少一块籽晶件,通过本装置的设置,使得籽晶可在双向进行生长,以获得较厚的晶体。

    一种双向生长碳化硅晶体的装置

    公开(公告)号:CN116136030B

    公开(公告)日:2023-06-30

    申请号:CN202310350285.0

    申请日:2023-04-04

    IPC分类号: C30B29/36 C30B23/00

    摘要: 本发明提供了一种双向生长碳化硅晶体的装置,属于晶体生长技术领域,该双向生长碳化硅晶体的装置包括下坩埚组件和上坩埚组件。其中,下坩埚组件中下坩埚体具有一向上开口的第一腔室,第一多孔石墨板设置于第一腔室,且第一多孔石墨板和第一腔室的下部配合构成第一容料腔;上坩埚组件中上坩埚体具有一向下开口的第二腔室,第二多孔石墨板设置于第二腔室,且第二多孔石墨板和第二腔室的上部配合构成第二容料腔,上坩埚体设置于下坩埚体上时,第一腔室和第二腔室连通,且第一容料腔和第二容料腔之间能够放置至少一块籽晶件,通过本装置的设置,使得籽晶可在双向进行生长,以获得较厚的晶体。

    一种引晶方法
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN116575114B

    公开(公告)日:2023-11-28

    申请号:CN202310863980.7

    申请日:2023-07-14

    IPC分类号: C30B17/00 C30B29/20

    摘要: 本发明涉及一种引晶方法,包括:控制籽晶进行引晶以形成晶结;当所述晶结的底锥开始生长后,控制所述底锥在熔融液面处移动,以使所述底锥在所述熔融液面处的横截面半径变化;获取所述底锥在移动前位于所述熔融液面处的横截面半径、所述底锥在移动后位于所述熔融液面处的横截面半径、所述晶结的移动距离以及所述晶结在移动前后的称重值变化量中的三个数据;基于获得的三个数据,获得所述底锥的顶角值;基于所述底锥的顶角值调节引晶过程中的控制参数。本发明解决了底锥的顶角值在熔融液面下方无法被检测的问题。

    一种蓝宝石晶体生长热场结构及其生长方法

    公开(公告)号:CN113061981A

    公开(公告)日:2021-07-02

    申请号:CN202110271473.5

    申请日:2021-03-12

    摘要: 本发明公开一种蓝宝石晶体生长热场结构及其生长方法,包括坩埚的侧、顶和底部均设置加热器,分别为侧加热器、顶加热器和底加热器,这些加热器可独立控制功率。所述生长方法中原位退火包括:侧和底加热器分别缓慢降低功率,顶加热器缓慢增加功率,直到顶部测温单元测温度达1900℃,降温过程下降不超过20℃/hr;顶、侧、底加热器功率不变,维持20hr;顶、侧、底加热器分别缓慢降低功率,直到顶部测温单元测温度达1000℃,降温过程下降不超过20℃/hr;顶、侧、底加热器功率不变,维持20hr;顶、侧、底加热器分别缓慢降低功率到零,冷却到晶体常温,降温过程下降不超过30℃/hr。