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公开(公告)号：CN112235478A
公开(公告)日：2021-01-15
申请号：CN202011202173.3
申请日：2017-10-04
申请人： 浜松光子学株式会社
摘要： 本发明的放射线图像读取装置包括：对于记录了放射线图像的记录介质的表面沿扫描线扫描激励光的光扫描部；在包含扫描线且与记录介质的表面交叉的检测面内，检测通过激励光的扫描从记录介质的表面放出的信号光的光检测部；和配置在记录介质的表面与光检测部之间的滤光器。在记录介质的表面反射的激励光透射滤光器的透射率、和在检测面内相对于与扫描线垂直的方向成比规定角度大的角度而从记录介质的表面放出的信号光透射滤光器的透射率，分别比在检测面内相对于与扫描线垂直的方向成比规定角度小的角度而从记录介质的表面放出的信号光透射滤光器的透射率小。
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公开(公告)号：CN106662738A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201580040106.7
申请日：2015-07-10
申请人： 浜松光子学株式会社
摘要： 本发明的光学元件(1A)具备：光学块(10)，对象光沿着光透过轴(Ax)的方向透过；第1波长选择滤光片(23)，被设置于以法线相对于光透过轴成角度α的形式进行设定的第1滤光面(13)；第2波长选择滤光片，被设置于以随着相对于第1波长选择滤光片(23)位于后方侧并且法线相对于光透过轴成角度α而非平行且倾斜方向相对于第1滤光面(13)以逆方向成角度2α的形式进行设定的第2滤光面(14)。另外，组合以相同材料以及相同形状形成的入射侧块(30)、第1滤光块(35)、第2滤光块(40)以及出射侧块(45)来构成光学块(10)。由此，就能够实现可靠性高另外能够以简单的结构控制对象光的透过条件的光学元件。
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公开(公告)号：CN106463567A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201580021630.X
申请日：2015-04-23
申请人： 浜松光子学株式会社
IPC分类号： H01L31/12
CPC分类号： H01L31/165 , G01C2009/066 , H01L31/02325 , H01L33/60
摘要： 本发明的光学式传感器包括：发光元件基板(10)，在与下部基板(20)之间的空间内配置有发光元件(40)；及光学块(30)，设置于上部基板(10)上；上部基板(10)包括分割光电二极管(SD)；光学块(30)以将自发光元件(40)出射的光向测定对象物(R)的方向反射的方式构成，由测定对象物(R)反射的光入射至分割光电二极管(SD)。(40)；下部基板(20)，配置有发光元件(40)；上部
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公开(公告)号：CN112235478B
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202011202173.3
申请日：2017-10-04
申请人： 浜松光子学株式会社
摘要： 本发明的放射线图像读取装置包括：对于记录了放射线图像的记录介质的表面沿扫描线扫描激励光的光扫描部；在包含扫描线且与记录介质的表面交叉的检测面内，检测通过激励光的扫描从记录介质的表面放出的信号光的光检测部；和配置在记录介质的表面与光检测部之间的滤光器。在记录介质的表面反射的激励光透射滤光器的透射率、和在检测面内相对于与扫描线垂直的方向成比规定角度大的角度而从记录介质的表面放出的信号光透射滤光器的透射率，分别比在检测面内相对于与扫描线垂直的方向成比规定角度小的角度而从记录介质的表面放出的信号光透射滤光器的透射率小。
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公开(公告)号：CN112235480B
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202011202643.6
申请日：2017-10-04
申请人： 浜松光子学株式会社
摘要： 本发明的放射线图像读取装置包括：对于记录了放射线图像的记录介质的表面沿扫描线扫描激励光的光扫描部；在包含扫描线且与记录介质的表面交叉的检测面内，检测通过激励光的扫描从记录介质的表面放出的信号光的光检测部；和配置在记录介质的表面与光检测部之间的滤光器。在记录介质的表面反射的激励光透射滤光器的透射率、和在检测面内相对于与扫描线垂直的方向成比规定角度大的角度而从记录介质的表面放出的信号光透射滤光器的透射率，分别比在检测面内相对于与扫描线垂直的方向成比规定角度小的角度而从记录介质的表面放出的信号光透射滤光器的透射率小。
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公开(公告)号：CN112235480A
公开(公告)日：2021-01-15
申请号：CN202011202643.6
申请日：2017-10-04
申请人： 浜松光子学株式会社
摘要： 本发明的放射线图像读取装置包括：对于记录了放射线图像的记录介质的表面沿扫描线扫描激励光的光扫描部；在包含扫描线且与记录介质的表面交叉的检测面内，检测通过激励光的扫描从记录介质的表面放出的信号光的光检测部；和配置在记录介质的表面与光检测部之间的滤光器。在记录介质的表面反射的激励光透射滤光器的透射率、和在检测面内相对于与扫描线垂直的方向成比规定角度大的角度而从记录介质的表面放出的信号光透射滤光器的透射率，分别比在检测面内相对于与扫描线垂直的方向成比规定角度小的角度而从记录介质的表面放出的信号光透射滤光器的透射率小。
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公开(公告)号：CN112235479A
公开(公告)日：2021-01-15
申请号：CN202011202621.X
申请日：2017-10-04
申请人： 浜松光子学株式会社
摘要： 本发明的放射线图像读取装置包括：对于记录了放射线图像的记录介质的表面沿扫描线扫描激励光的光扫描部；在包含扫描线且与记录介质的表面交叉的检测面内，检测通过激励光的扫描从记录介质的表面放出的信号光的光检测部；和配置在记录介质的表面与光检测部之间的滤光器。在记录介质的表面反射的激励光透射滤光器的透射率、和在检测面内相对于与扫描线垂直的方向成比规定角度大的角度而从记录介质的表面放出的信号光透射滤光器的透射率，分别比在检测面内相对于与扫描线垂直的方向成比规定角度小的角度而从记录介质的表面放出的信号光透射滤光器的透射率小。
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公开(公告)号：CN118284832A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202280077207.1
申请日：2022-11-01
申请人： 浜松光子学株式会社
IPC分类号： G02B5/28
摘要： 本发明的带通滤波器的制造方法是由电介质多层膜(2)构成的带通滤波器(1)的制造方法，该电介质多层膜(2)包括：由TiO2构成的腔层(3)；和以夹持腔层(3)的方式配置的、由高折射率材料构成的第1电介质层(4)与由低折射率材料构成的第2电介质层(5)交替层叠而成的层叠部分(6)，在电介质多层膜(2)的成膜工序中，设定有：通过在该工序中暂时停止成膜，而使成膜基板(15)的温度降低的成膜停止期间(T1)。
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公开(公告)号：CN109804613B
公开(公告)日：2020-11-24
申请号：CN201780062934.X
申请日：2017-10-04
申请人： 浜松光子学株式会社
摘要： 本发明的放射线图像读取装置包括：对于记录了放射线图像的记录介质的表面沿扫描线扫描激励光的光扫描部；在包含扫描线且与记录介质的表面交叉的检测面内，检测通过激励光的扫描从记录介质的表面放出的信号光的光检测部；和配置在记录介质的表面与光检测部之间的滤光器。在记录介质的表面反射的激励光透射滤光器的透射率、和在检测面内相对于与扫描线垂直的方向成比规定角度大的角度而从记录介质的表面放出的信号光透射滤光器的透射率，分别比在检测面内相对于与扫描线垂直的方向成比规定角度小的角度而从记录介质的表面放出的信号光透射滤光器的透射率小。
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公开(公告)号：CN103229029A
公开(公告)日：2013-07-31
申请号：CN201180056110.4
申请日：2011-09-21
申请人： 浜松光子学株式会社
CPC分类号： G01J3/28 , G01J3/26 , G02B5/201 , G02B5/288 , Y10T156/1111 , Y10T156/1195
摘要： 分光传感器（1）的制造方法具备：在处理基板上通过纳米印刷法形成腔体层（21）的第1工序；在第1工序后，在腔体层（21）上形成第1镜面层（22）的第2工序；在第2工序后，在第1镜面层（22）上接合光透过基板（3）的第3工序；在第3工序后，从腔体层（21）除去处理基板的第4工序；在第4工序后，在除去了处理基板的腔体层（21）上形成第2镜面层（23）的第5工序；以及在第5工序后，在第2镜面层（23）上接合光检测基板（4）的第6工序。
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