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公开(公告)号：CN103234483B
公开(公告)日：2016-03-09
申请号：CN201210582845.7
申请日：2012-12-28
Applicant: 深圳华用科技有限公司 , 清华大学深圳研究生院
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明提供了一种相机芯片平行度的检测方法和检测装置，采用一字激光在芯片和电路板上投影的方式获得在同一个与芯片和电路板平面相交的检测平面，并通过计算得到检测平面与芯片和电路板平面相交的两条线之间的夹角，通过上述检测，最终获得相机芯片与电路板之间是否平行的结果。
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公开(公告)号：CN103234483A
公开(公告)日：2013-08-07
申请号：CN201210582845.7
申请日：2012-12-28
Applicant: 深圳华用科技有限公司 , 清华大学深圳研究生院
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明提供了一种相机芯片平行度的检测方法和检测装置，采用一字激光在芯片和电路板上投影的方式获得在同一个与芯片和电路板平面相交的检测平面，并通过计算得到检测平面与芯片和电路板平面相交的两条线之间的夹角，通过上述检测，最终获得相机芯片与电路板之间是否平行的结果。
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公开(公告)号：CN103234475A
公开(公告)日：2013-08-07
申请号：CN201210490109.9
申请日：2012-11-27
Applicant: 深圳华用科技有限公司 , 清华大学深圳研究生院
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明提供了一种基于激光三角测量法的亚像素表面形态检测方法，该方法通过测量零件不同位置轮廓切片，叠加得到整个零件轮廓。本发明充分利用图像的彩色信息，在激光条纹是红色，背景是黑色的先验知识指导下，提取RGB图像的红色通道分量，减小噪声影响，提高高斯拟合条纹中心精度。通过对同一位置多次拍摄叠加激光条纹图像提高精度，降低了对激光条纹宽度和亮度的要求，降低了激光器的成本。通过先粗略确定条纹中心位置然后采用固定数量的像素拟合确定亚像素中心的方法避免了确定激光条纹边界而采用复杂算法，降低了算法复杂度。
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公开(公告)号：CN103234475B
公开(公告)日：2017-02-08
申请号：CN201210490109.9
申请日：2012-11-27
Applicant: 深圳华用科技有限公司 , 清华大学深圳研究生院
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明提供了一种基于激光三角测量法的亚像素表面形态检测方法，该方法通过测量零件不同位置轮廓切片，叠加得到整个零件轮廓。本发明充分利用图像的彩色信息，在激光条纹是红色，背景是黑色的先验知识指导下，提取RGB图像的红色通道分量，减小噪声影响，提高高斯拟合条纹中心精度。通过对同一位置多次拍摄叠加激光条纹图像提高精度，降低了对激光条纹宽度和亮度的要求，降低了激光器的成本。通过先粗略确定条纹中心位置然后采用固定数量的像素拟合确定亚像素中心的方法避免了确定激光条纹边界而采用复杂算法，降低了算法复杂度。
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