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公开(公告)号：CN118628772A
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202410639321.X
申请日：2024-05-21
Applicant: 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司
IPC: G06V10/75 , G06T5/80 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本发明公开了一种图像特征点匹配方法、装置、计算机设备及存储介质。首先，获取待检测图像的检测特征点列表，并且该待检测图像对应有模板图像，模板图像对应有模板特征点列表。接着，基于检测特征点列表中检测特征点与模板特征点列表中模板特征点之间的偏差数据对检测特征点列表进行校正，得到校正特征点列表。然后，根据校正特征点列表中校正特征点和模板特征点之间的距离数据，在校正特征点列表中确定满足预设距离筛选条件的待验证特征点。最后，基于待验证特征点在校正特征点列表与模板特征点列表之间进行筛选和匹配，以确定检测特征点列表中的目标匹配特征点。通过确定是否可以用于进行特征点配对的待验证特征点，提高特征点匹配的准确度。
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公开(公告)号：CN118918048A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202410635406.0
申请日：2024-05-21
Applicant: 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司
IPC: G06T5/80 , G06V10/74 , G06V10/762 , G06V10/764 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本发明公开了一种图像校正方法、装置、计算机设备及存储介质。首先，获取待检测图像的第一特征点集合与参考图像的第二特征点集合进行特征点匹配，得到第一特征点集合中与第二特征点集合匹配的目标特征点。若目标特征点的数量小于预设数量阈值，确定第二特征点集合中的第二特征点在参考图像上的分布情况。然后，根据分布情况、第一特征点集合以及第二特征点集合进行聚类和特征点配对，得到数量大于预设数量阈值的多个特征点匹配对。最后，基于多个特征点匹配对待检测图像进行校正，得到校正后检测图像。通过在目标特征点的数量小于预设数量阈值时，根据分布情况确定数量大于预设数量阈值的多个特征点匹配，以提高校正后检测图像的质量。
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公开(公告)号：CN118469905A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410427458.9
申请日：2024-04-07
Applicant: 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司
IPC: G06T7/00 , G06V10/764 , G06V10/44 , G06N3/0455 , G06N3/08
Abstract: 本发明公开了一种电路板缺陷检测装置、模型的训练方法、训练装置及设备。首先，通过基础特征提取单元从待检电路板图像中提取图像基础特征。然后，通过与基础特征提取单元连接的缺陷检测单元基于图像基础特征进行分类，得到待检电路板图像对应的缺陷预测结果。在利用缺陷检测单元确定缺陷预测结果的同时，通过与缺陷检测单元并行的图像筛选单元基于图像基础特征进行高层特征提取，得到元件形态特征，接着基于元件形态特征判断待检电路板图像是否能够保留。若待检电路板图像能够保留，利用待检电路板图像作为训练样本图像对缺陷检测单元进行更新训练。控制样本图像的多样性，避免数据冗余，保证类别的平衡度，提升缺陷检测单元的缺陷检测性能。
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公开(公告)号：CN118966401A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202410882188.0
申请日：2024-07-02
Applicant: 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种分布式光伏发电预测方法、装置及存储介质、控制器，该方法包括：接收用户预测请求，用户预测请求包括目标分布式光伏在过去第一预设时间内的历史发电数据、目标分布式光伏所在地未来第二预设时间内的天气预报数据，以及预测目标分布式光伏在未来第二预设时间内的发电数据的请求信息；将用户预测请求输入至预先训练好的大语言模型，输出回复信息，其中，回复信息包括目标分布式光伏在未来第二预设时间内的预测发电数据。该方法基于大语言模型的数学推理能力，以对话的形式完成分布式光伏发电预测，解决了预测的可解释性问题，保证光伏预测的准确性，同时又能够避免不同分布式光伏数据预测的通用性问题。
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公开(公告)号：CN118626873A
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202410637644.5
申请日：2024-05-21
Applicant: 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F18/22 , G06F18/214 , G06F18/24 , G06N3/08
Abstract: 本发明公开了一种数据集处理方法、装置、计算机设备及存储介质。首先，获取包括不同类别数据集的源数据集。接着，确定源数据集中每个样本数据对应的特征向量以及用于表征每个类别数据集数据分布情况的类中心点数据。然后，针对任一类别数据集，基于任一类别数据集的类中心点数据以及任一类别数据集中样本数据对应的特征向量，确定样本数据与任一类别数据集间的相似数据。最后，根据相似数据在任一类别数据集中保留与任一类别数据集的差异最大的样本数据、与任一类别数据集的理论采样点最近的样本数据中的至少一个的差异样本，在保证样本数据多样性的情况下，增加了数据的均衡性，降低了数据存储的空间，提高数据集的质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118469906A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410430767.1
申请日：2024-04-10
Applicant: 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司
IPC: G06T7/00 , G06T7/90 , G06V10/764 , G06N3/08
Abstract: 本发明公开了一种PCB图像检测方法、存储介质和电子设备，所述PCB图像检测方法包括：获得印刷电路板PCB图像；将预设的PCB模板图像与所述PCB图像进行对比，得到所述PCB图像中每一元件的第一元件信息以及第一匹配分数；将所述PCB图像输入预先训练的深度学习网络模型，得到所述深度学习网络模型输出的、所述PCB图像中的第二元件信息，并计算第二匹配分数；对于每一元件，对比该元件的第一元件信息和第二元件信息得到对比结果、并计算第一匹配分数和第二匹配分数的匹配分数差，基于所述对比结果和/或所述匹配分数差选择目标信息，并根据所选择的目标信息确定该元件的检测结果。应用上述方案能提高PCB图像检测的准确性。
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公开(公告)号：CN118537290A
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202410432871.4
申请日：2024-04-08
Applicant: 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本申请公开了一种AOI检测系统及AOI检测方法，系统包括与各产线一一对应的AOI设备、与各AOI设备一一对应的AOI辅助检测设备；AOI设备，用于获取产线上的待测产品的图像，根据待测产品的图像对待测产品进行AOI初判，确定待测产品是否合格；AOI辅助检测设备，用于获取不合格的待测产品的图像，利用预先训练得到的检测模型对不合格的待测产品的图像进行AOI复判，得到不合格的待测产品的复判结果。本申请公开的技术方案，通过设置与各AOI设备一一对应的AOI辅助检测设备，由AOI辅助检测设备对AOI设备初判不合格的待测产品进行二次判定，以降低人工复判的工作量，提高待测产品的复判效率和复判准确性。
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公开(公告)号：CN118196044A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410342414.6
申请日：2024-03-22
Applicant: 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本说明书实施方式提供了一种电路板锡膏缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取待检测电路板的目标图像和对应的模板图像；基于同一图像分割模型对目标图像和模板图像进行分割，得到目标分割图像和模板分割图像；在目标分割图像的锡膏区域与模板分割图像的锡膏区域相匹配的情况下，从目标图像获取目标锡膏区域掩膜图像，以及从模板图像获取模板锡膏区域掩膜图像；将目标锡膏区域掩膜图像和模板锡膏区域掩膜图像进行LAB颜色空间转换，获取多个目标LAB颜色空间值和多个模板LAB颜色空间值；基于多个目标LAB颜色空间值和多个模板LAB颜色空间值，确定电路板是否存在引脚区域虚焊缺陷。如此，可以降低电路板锡膏缺陷的检测成本。
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公开(公告)号：CN118196006A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410183780.1
申请日：2024-02-19
Applicant: 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种电路板元件检测方法、装置、设备、芯片及可读存储介质，该方法包括：获取待检测位置图像以及待检测元件的模板图像；确定待检测位置图像和模板图像在主体区域的主体匹配数据以及在背景区域的背景匹配数据；基于主体匹配数据和背景匹配数据确定待检测元件的检测结果。由此通过利用背景区域的匹配数据来辅助判定元件的检测结果，可以有效提高检测准确度。
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公开(公告)号：CN116109851A
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN202310151634.6
申请日：2023-02-09
Applicant: 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种PCB板上电子元件的错件检测方法、装置及电子设备，其中，方法包括：获取电子元件的丝印信息；将丝印信息与关键丝印信息进行匹配，生成匹配字符串，其中，关键丝印信息为电子元件的固定丝印信息；根据匹配字符串和模板丝印信息确定匹配分数，其中，模板丝印信息是将电子元件的模板图像与关键丝印信息进行匹配后得到的丝印信息；根据匹配分数检测电子元件是否错件。该方法通过将电子元件的丝印信息与关键丝印信息进行匹配，得到匹配字符串，并根据匹配字符串与模板丝印信息生成的匹配分数检测电子元件是否错件，实现了对电子元件的错件进行判定，提高了检测效率，并降低了漏检率和误检率。
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