老化测试设备及其加热组件
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113740628A

    公开(公告)日:2021-12-03

    申请号:CN202010469524.0

    申请日:2020-05-28

    IPC分类号: G01R31/00 H05B3/14

    摘要: 本发明公开一种老化测试设备及其加热组件,该加热组件包括控制板、发热件和传热件,控制板上设有控制线路;发热件与控制板电连接,发热件用于在控制板的控制下发热;传热件与发热件接触并能够与发热件进行热传导,传热件用于与待测芯片接触,以加热待测芯片。通过设置能够与发热件进行热传导的传热件,可以使用传热件抵接待测芯片以对待测芯片进行加热,相比于现有的高温老化测试设备,本申请中的加热组件可以很好的与现有的常温测试用底座兼容,故而,可以节约成本,并可以节约空间,同时也可以提升待测芯片的检测效率,并且本申请中的发热件的热量直接作用于待测芯片,热量的利用率高,且发热件所需的功率较小,可以极大得节省检测成本。

    一种转接件及测试机构
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116165405A

    公开(公告)日:2023-05-26

    申请号:CN202111413417.7

    申请日:2021-11-25

    发明人: 燕祖德 王平

    IPC分类号: G01R1/04 G01R31/28

    摘要: 本申请公开一种转接件及测试机构。转接件包括:基座,连接组件以及盖体;基座上设置有元件放置部,用于安装待测试电子元件;盖体套设于基座且与基座活动配合;连接组件包括第一转动杆和第二转动杆;第一转动杆的第一端与盖体转动连接,第二端朝向元件放置部设置;第二转动杆的一端与基座转动连接,另一端与第一转动杆的中间区域转动连接;其中,第一转动杆的第二端具有抵压待测试电子元件的第一状态,及远离待测试电子元件设置的第二状态;通过盖体沿靠近或者远离元件放置部运动,以使得第一转动杆的第二端切换于第一状态和第二状态。

    测试座
    3.
    发明公开
    测试座 审中-实审

    公开(公告)号:CN117990953A

    公开(公告)日:2024-05-07

    申请号:CN202211387460.5

    申请日:2022-11-07

    发明人: 王平

    IPC分类号: G01R1/04 G01R31/00 G01R1/02

    摘要: 本申请公开了一种测试座,测试座包括电路板,底座,导电体和限位件。底座设置在电路板上,且底座中部形成第一开口;导电体设置于第一开口内;限位件通过接触式可拆卸地固定于底座上,用于将导电体固定在第一开口内。限位件通过接触式可拆卸地固定在底座上,可拆卸固定方式包括有例如可拆卸卡扣连接,插接连接或磁吸连接等方式,通过限位件固定导电体,需要更换导电体时,手动掰开限位件放入或取出导电体,再手动将限位件固定在底座上,即完成导电体的安装拆卸,取代了传统的螺丝方案锁紧导电体,在安装拆卸导电体时,无需借助工具,使用方便,提高测试效率。

    固态硬盘存储模组、固态硬盘组件以及固态硬盘

    公开(公告)号:CN106409320B

    公开(公告)日:2018-12-11

    申请号:CN201610957976.7

    申请日:2016-10-27

    IPC分类号: G11B33/12

    摘要: 本发明属于存储介质技术领域,尤其涉及一种固态硬盘存储模组、固态硬盘组件以及固态硬盘,其中,固态硬盘存储模组包括存储区印刷电路板以及固定于存储区印刷电路板的存储模块,存储模块包括具备数据存储功能的存储电路、SATA数据传输触片组、用于控制存储电路经SATA数据传输触片组传输数据的存储控制电路以及与辅助电路模块电性连接的第一辅助电路触片组。本发明中,存储区印刷电路板仅搭载存储模块,而没有搭载辅助电路模块,当需要更换存储容量时,只需单独更换固态硬盘存储模组即可,而不需要一并更换辅助电路模块,减少了零部件的更换,有利于降低更换成本,并避免当单个功能电路出现故障或者损坏时,辅助电路模块和存储模块整体报废。

    一种转接测试板的制造方法、转接测试板以及测试机构

    公开(公告)号:CN115151067A

    公开(公告)日:2022-10-04

    申请号:CN202110343189.4

    申请日:2021-03-30

    IPC分类号: H05K3/46 G01R31/00

    摘要: 本申请公开一种转接测试板的制造方法、转接测试板以及测试机构。转接测试板的制造方法包括:提供预设的第一电路板和第二电路板,第一电路板上设置有第一导电线路层,第二电路板上设置有第二导电线路层;其中,第一电路板和/或第二导电路板还设置有电连接待检测元件的元件安装部;元件安装部电连接第一导电线路层和/或第二导电线路层;采用导电线将第一导电线路层和第二导电线路层电连接;在第一电路板和第二电路板之间设置柔性固定层,以将第一电路板和第二电路板固连。

    连接器以及存储装置
    6.
    实用新型

    公开(公告)号:CN221328259U

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202322984200.2

    申请日:2023-11-03

    发明人: 王平 周富

    摘要: 本实用新型公开了一种连接器以及存储装置,其中,连接器包括:连接主体,连接主体的相对两侧面分别设置有接地件,接地件与连接主体连接;外壳,外壳套设连接主体,且与各接地件接触。通过上述结构,本实用新型能够提高连接器对信号的抗干扰能力,提高连接器的屏蔽效果,减少对连接对象的干扰,保证信号的传输。

    存储卡读卡器
    7.
    实用新型

    公开(公告)号:CN208240910U

    公开(公告)日:2018-12-14

    申请号:CN201820407400.8

    申请日:2018-03-23

    发明人: 庞卫文 王平

    IPC分类号: H01R12/71 H01R13/22 G06K7/00

    摘要: 本实用新型属于读卡器技术领域,更具体地说,是涉及存储卡读卡器。外壳内设有电路板,电路板上设有连接器,连接头与电路板电连接。将存储卡放置于卡托的存储卡槽,将放置有存储卡的卡托插接于外壳的插口,使得存储卡的触点抵接于连接器的连接端子。在连接头连接于外部设备时,存储卡、连接端子、电路板、连接头与外部设备依次电连接,通过电路板的接口转换电路,实现非标准存储卡的读写。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种存储卡测试组件
    8.
    实用新型

    公开(公告)号:CN214377682U

    公开(公告)日:2021-10-08

    申请号:CN202022699389.7

    申请日:2020-11-19

    IPC分类号: G11C29/56

    摘要: 本申请公开了一种存储卡测试组件,包括第一绝缘件和至少两个第一探针,至少两个第一探针贯穿第一绝缘件,第一探针包括相对的第一端和第二端,第一端和第二端分别位于第一绝缘件相对的两侧面,至少两个第一探针的第一端分别用于与待测存储卡的金属触片可弹性接触,至少两个第一探针的第二端分别用于与电路板电连接。本申请存储卡测试组件能够便于多个第一探针组装以及更换,减小了成本。

    老化测试设备及其加热组件

    公开(公告)号:CN212658771U

    公开(公告)日:2021-03-05

    申请号:CN202020939037.1

    申请日:2020-05-28

    IPC分类号: G01R31/00 H05B3/14

    摘要: 本实用新型公开一种老化测试设备及其加热组件,该加热组件包括控制板、发热件和传热件,控制板上设有控制线路;发热件与控制板电连接,发热件用于在控制板的控制下发热;传热件与发热件接触并能够与发热件进行热传导,传热件用于与待测芯片接触,以加热待测芯片。通过设置能够与发热件进行热传导的传热件,可以使用传热件抵接待测芯片以对待测芯片进行加热,相比于现有的高温老化测试设备,本申请中的加热组件可以很好的与现有的常温测试用底座兼容,故而,可以节约成本,并可以节约空间,同时也可以提升待测芯片的检测效率,并且本申请中的发热件的热量直接作用于待测芯片,热量的利用率高,且发热件所需的功率较小,可以极大得节省检测成本。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    连接器及存储卡读卡器
    10.
    实用新型

    公开(公告)号:CN208241027U

    公开(公告)日:2018-12-14

    申请号:CN201820587465.5

    申请日:2018-04-23

    发明人: 庞卫文 王平

    摘要: 本实用新型属于连接器技术领域,更具体地说,是涉及连接器及存储卡读卡器。第一连接端子、第二连接端子、第三连接端子通过固定框固定,并焊接于印刷电路板,形成一种三合一的连接器,该连接器及存储卡读卡器设置有支持三种接口协议的导电端子,能够兼容多种接口协议,方便加工,方便使用,用户体验提高。