一种姿态校验方法、装置、设备和存储介质

    公开(公告)号:CN116465430A

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202310453554.6

    申请日:2023-04-18

    IPC分类号: G01C25/00

    摘要: 本申请涉及姿态校验领域,公开了一种姿态校验方法、装置、设备和存储介质。该方法包括获取多面体的目标边以及目标边的一相邻边的顶点坐标,计算目标边的第一单位向量和目标面的法向量;根据第一单位向量和法向量计算待测IMU中垂直边的第二单位向量;根据第一单位向量、法向量和第二单位向量,计算得到待测IMU在目标面的第一位姿方向余弦矩阵以及第一位姿信息;获取待测IMU当前输出的第二位姿信息,通过第一位姿信息对第二位姿信息进行校验。本申请通过多面体的结构信息计算该待测IMU的姿态信息,并将其与待测IMU自身输出的姿态信息进行比较,从而验证待测IMU自身输出的姿态信息的准确度。