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公开(公告)号：CN118376605B
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202410801428.X
申请日：2024-06-20
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种有色玻璃材料内透过率的测量方法，用于提高有色玻璃材料的内透过率的测量精度。本申请方法包括：将待测有色玻璃材料制备为具有目标厚度、目标形状的待测样品，并对所述待测样品的两侧表面进行抛光处理，得到目标待测样品；通过所述分光光度计、样品台及光电探测器获取目标波段内所述目标待测样品的外透过率；将所述分光光度计切换为反射率测试模式，并通过所述分光光度计、所述样品台及所述光电探测器获取所述目标波段内所述目标待测样品的反射率；通过所述外透过率及所述反射率根据第一公式获取所述目标待测样品的内透过率。
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公开(公告)号：CN118691618A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202411183579.X
申请日：2024-08-27
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种用于显示屏异物分层检测的定位方法、系统及装置，用于在显示屏异物分层检测中快速定位相机拍图的基准位置，提升显示屏异物分层检测的效率。本申请方法包括：点亮待测显示屏，控制相机采集初始图像；在初始图像上创建模板，并确定目标图像；基于目标图像、预设的模板搜索区域以及基准层的参考图像进行相关性计算，判断相关性校验分数是否大于或者等于预设校验分数；若否，则根据目标图像、模板搜索区域以及标定图像集进行相关性定位分析；根据相关性定位分析的结果计算相机的移动距离，并再次执行图像采集、创建模板和相关性计算的步骤，直至计算得到的相关性校验分数大于或者等于预设校验分数，此时确定相机当前的位置为基准位置。
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公开(公告)号：CN118393720B
公开(公告)日：2024-09-20
申请号：CN202410825409.0
申请日：2024-06-25
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种轮转式多镜片的平行矫正方法及相关装置，用于提高轮转式多镜片中各个镜片之间的平行度。本申请方法包括：确定第一光斑原位以及第二光斑原位；将第一光斑原位和第二光斑原位作为坐标系原点分别绘制第一坐标系和第二坐标系；获取待矫正轮转式多镜片中的第一目标镜片的第一反射光斑和第二反射光斑；将第一反射光斑和第二反射光斑分别折射至第一坐标系和第二坐标系上，并进行坐标分解，分别得到第一偏移量和第二偏移量；对第一偏移量和第二偏移量进行求和，得到第一目标偏移量；根据第一目标偏移量控制镜片角度调整机构对第一目标镜片进行角度调整；以此循环，直至对待矫正轮转式多镜片中的所有目标镜片都完成角度调整。
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公开(公告)号：CN118629371A
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202411088173.3
申请日：2024-08-09
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
IPC分类号： G09G5/10
摘要： 本申请公开了一种显示面板边缘亮度补偿的方法、相关装置及存储介质，用于解决亮度补偿后边缘容易出现显示亮度过渡不均匀的问题。本申请包括：采集显示面板在预设灰阶下所显示的目标图像，并获取目标图像的图像数据；获取图像数据中位于第一边缘区域或者第二边缘区域中，且自中心区域向边缘区域方向依次排布的多个像素的第一坐标数据和第一亮度数据；获取第一坐标数据和第一亮度数据之间的关系系数；根据第一坐标数据、第一亮度数据以及关系系数计算得到第一亮度补偿数据；根据第一亮度补偿数据对位于第一边缘区域和第二边缘区域中的至少一者的像素进行亮度补偿，以获得像素的第二亮度数据；根据第二亮度数据对位于重叠区域的像素进行亮度补偿。
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公开(公告)号：CN118623760A
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202410640727.X
申请日：2024-05-22
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种微显示器件的缺陷检测方法、系统及装置，用于提高微显示器的缺陷检测精度。本申请方法包括：获取微显示器的第一初始图像和第二初始图像；根据第一初始图像获取多个灯珠对应的第一初始坐标参数，以及根据第二初始图像获取多个灯珠对应的第二初始坐标参数；根据标准坐标参数获取第一初始坐标参数中的第一有效坐标参数和异常坐标参数；根据第一有效坐标参数获取异常坐标参数对应的第二有效坐标参数；根据第一有效坐标参数和第二有效坐标参数获取任一灯珠的第一物理坐标参数；根据第二初始坐标参数和标准坐标参数获取任一灯珠的第二物理坐标参数；根据第一物理坐标参数和第二物理坐标参数计算任一灯珠的坐标偏移量。
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公开(公告)号：CN118411402B
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202410877337.4
申请日：2024-07-02
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种曲面屏曲面点阵图定位方法、装置、系统和存储介质，用于降低畸变校正的难度。本申请曲面屏曲面点阵图定位方法包括：对被点亮的待检测显示屏进行拍摄，获取曲面拍摄图像，曲面拍摄图像上有多个点阵点，每一个点阵点中包括若干个像素点；将曲面拍摄图像上的点阵点进行像素摆正处理；确定曲面拍摄图像上每一个像素点的灰度值，生成灰度数据；根据灰度数据确定目标像素点，目标像素点为处于点阵点左上边缘区域的像素点；根据目标像素点生成包络框；根据包络框里的像素点的平均灰度M和标准方差S计算第一灰度阈值；获取包络框里灰度值大于第一灰度阈值的计算像素点；根据计算像素点的坐标数据计算当前点阵点的质心坐标。
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公开(公告)号：CN118469858A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410910555.3
申请日：2024-07-09
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种显示屏图像的预处理方法、装置、系统和存储介质，用于减少显示屏在缺陷检测上的干扰，以此降低显示屏缺陷检测的难度。本申请包括：点亮待检测显示屏，获取所述待检测显示屏的显示屏拍摄图像；对所述显示屏拍摄图像进行区域定位，生成显示屏区域图像；对所述显示屏区域图像的像素点进行校正；对所述显示屏区域图像进行频域变换，生成频域空间的频率域图像；对所述频率域图像的缺陷行列的频域数据进行过滤；对所述频率域图像进行反频域变换，生成时域空间的主干图像。
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公开(公告)号：CN118212230A
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202410612712.2
申请日：2024-05-17
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种显示屏的缺陷提取方法、装置、电子设备和存储介质，用于提高显示屏图像缺陷检测的精确度。本申请缺陷提取方法包括：将显示屏图像划分成多个小区域图像块；对多个所述小区域图像块进行降采样处理，生成多个降采样分块图像；构建所述降采样分块图像的重建曲面；对所述重建曲面和所述显示屏图像进行加权处理，生成对比度增强图像；对所述对比度增强图像的灰度值进行阈值卡控，筛选出满足的目标对比度增强图像；对所述目标对比度增强图像进行缺陷特征分析，生成所述显示屏图像的缺陷类型集合。
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公开(公告)号：CN118018715A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202410424576.4
申请日：2024-04-10
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种多相机曝光时间一致性调节的方法及相关装置，用于提高缺陷检测系统对屏幕缺陷检测的可靠性和准确性。本申请包括：装配并调试多工业相机系统；从多工业相机系统中确定标准相机和待校正相机；使标准样品分别达到255显示灰阶和j显示灰阶；使用标准相机和待校正相机对两种不同显示灰阶的标准样品拍摄获取若干张曝光时间不同的参考图像，依次生成第一、第二、第三和第四图像集合；根据第一、第二、第三和第四图像集合中各自的检测灰度值和曝光时间进行梯度计算，生成梯度集合；根据梯度集合中的梯度计算待校正相机中待校正图像和待校正图像的曝光时间校正系数；根据曝光时间校正系数对待校正相机的曝光时间进行校正。
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公开(公告)号：CN116912276B
公开(公告)日：2024-01-09
申请号：CN202311168388.1
申请日：2023-09-12
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种圆弧屏体AA区抓取方法、装置电子设备和存储介质，用于提高圆弧屏AA区抓取的准确度。本申请方法包括：点亮待检测显示屏；对圆弧屏区域待检测显示屏进行图像采集，获取原始图像；在圆弧屏区域原始图像上生成初始搜索框；在圆弧屏区域初始搜索框上等距离生成边缘搜索框；确定每一个边缘搜索框中的边缘点，并生成边缘点坐标集合；对边缘点坐标集合进行线性拟合，生成一维边缘轮廓；求取一维边缘轮廓上的极值点，生成极值点集合；根据预设的梯度阈值对极值点进行筛除，生成临界点坐标集合；为圆弧屏区域圆弧屏区域生成一个XLD轮廓；对XLD轮廓进行椭圆弧拟合，生成圆弧屏轮廓方程，并在原始图像上生成圆弧屏有效区域。
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