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公开(公告)号：CN105717395A
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201610102045.9
申请日：2016-02-24
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种待测产品的对位方法，包括：通过单个或两个相机分别获取待测产品上的标记位置信息和压接治具上预置的标记位置信息；根据所述待测产品上的标记位置信息和所述压接治具上预置的标记位置信息，获取所述待测产品上的标记和所述压接治具上预置的标记之间的补偿角度，以及在横轴方向和纵轴方向上的相对位置偏差；根据所述补偿角度，以及所述横轴方向和纵轴方向上相对位置偏差对所述待测产品进行对位。本发明还公开了一种待测产品的对位装置。本发明实现了使用单个或两个相机获取标记位置信息对待测产品进行对位，降低硬件成本及简化调试操作过程，同时提高了对待测产品进行自动对位的效率及精度。
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公开(公告)号：CN118735908A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202411183580.2
申请日：2024-08-27
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
IPC分类号： G06T7/00 , G06T7/11 , G06T7/70 , H01R43/26 , H01R43/048
摘要： 本申请公开了一种显示面板与FPC的对位压接方法和系统，用于提升显示面板与FPC的对位压接精度。本申请方法包括：获取第一图像数据和第二图像数据；根据第一图像数据和第二图像数据计算显示面板与FPC的mark偏差值；根据mark偏差值控制对位调整平台对显示面板和FPC进行初步对位；获取第三图像数据和第四图像数据；根据第三图像数据和第四图像数据计算显示面板与FPC在X轴方向上的引脚偏差值；判断引脚偏差值是否小于预设的第一卡控阈值；若是，则根据引脚偏差值计算FPC在X轴方向上的位移调整值；根据位移调整值控制对位调整平台对显示面板和FPC进行二次对位，以完成显示面板与FPC的对位压接。
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公开(公告)号：CN116029942B
公开(公告)日：2023-07-25
申请号：CN202310301317.8
申请日：2023-03-27
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种深度学习图像边缘强化的方法、相关装置及存储介质，用于加强图像的边缘特征，使得图像特征信息更加全面。本申请方法包括：将初始特征输入至目标神经网络中，通过第一卷积模块生成至少一个分层特征；对所述分层特征进行Canny算子处理和差分处理，得到第一中间特征通过叠加模块对所述第一中间特征和所述初始特征进行通道叠加处理，得到叠加结果；通过第二卷积模块对所述叠加结果进行特征融合处理，得到第二中间特征；对所述第二中间特征进行Canny算子处理和差分处理，输出边缘信息强化后的目标特征。
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公开(公告)号：CN118623760A
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202410640727.X
申请日：2024-05-22
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种微显示器件的缺陷检测方法、系统及装置，用于提高微显示器的缺陷检测精度。本申请方法包括：获取微显示器的第一初始图像和第二初始图像；根据第一初始图像获取多个灯珠对应的第一初始坐标参数，以及根据第二初始图像获取多个灯珠对应的第二初始坐标参数；根据标准坐标参数获取第一初始坐标参数中的第一有效坐标参数和异常坐标参数；根据第一有效坐标参数获取异常坐标参数对应的第二有效坐标参数；根据第一有效坐标参数和第二有效坐标参数获取任一灯珠的第一物理坐标参数；根据第二初始坐标参数和标准坐标参数获取任一灯珠的第二物理坐标参数；根据第一物理坐标参数和第二物理坐标参数计算任一灯珠的坐标偏移量。
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公开(公告)号：CN118018715A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202410424576.4
申请日：2024-04-10
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种多相机曝光时间一致性调节的方法及相关装置，用于提高缺陷检测系统对屏幕缺陷检测的可靠性和准确性。本申请包括：装配并调试多工业相机系统；从多工业相机系统中确定标准相机和待校正相机；使标准样品分别达到255显示灰阶和j显示灰阶；使用标准相机和待校正相机对两种不同显示灰阶的标准样品拍摄获取若干张曝光时间不同的参考图像，依次生成第一、第二、第三和第四图像集合；根据第一、第二、第三和第四图像集合中各自的检测灰度值和曝光时间进行梯度计算，生成梯度集合；根据梯度集合中的梯度计算待校正相机中待校正图像和待校正图像的曝光时间校正系数；根据曝光时间校正系数对待校正相机的曝光时间进行校正。
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公开(公告)号：CN118036669A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410445122.5
申请日：2024-04-15
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
IPC分类号： G06N3/0455 , G06N3/088 , G06N3/084 , G06T7/00
摘要： 本申请公开了一种稀疏自编码模型的训练方法、装置、设备和介质，用于提高显示器像素点外观缺陷检测精确度和速度。本申请训练方法包括：获取训练样本集合；构建稀疏自编码模型并设置初始权重参数，稀疏自编码模型包括编码器和解码器，编码器包括卷积层、稀疏限制组和池化层，解码器包括反卷积层和反池化层；将训练样本集合作为输入数据输入稀疏自编码模型中，根据初始权重参数获取稀疏自编码模型输出的解码器重构数据；根据输入数据、解码器重构数据和初始权重参数进行差异计算，生成误差集合；根据误差集合和损失函数逐层反向传递更新稀疏自编码模型的权重参数；更新完成后，重复迭代的环节，直到稀疏自编码模型达到预设条件。
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公开(公告)号：CN115112969A
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202210581359.7
申请日：2022-05-26
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
IPC分类号： G01R31/00 , G05B19/042
摘要： 本申请公开了一种电容触摸屏响应时间的测试系统以及测试方法，用于减少测试成本。本申请包括：笔头接触模块分别与震动感应模块以及点亮模块连接，MCU模块分别与震动感应模块以及光敏感应模块连接，震动感应模块用于当检测到待测试电容触摸屏发生震动时，输出第一电信号；光敏感应模块用于当检测到待测试电容触摸屏点亮时，输出第二电信号；MCU模块用于当接收到第一电信号时，开始计数；当接收到第二电信号时，停止计数；数据处理模块与MCU模块连接，数据处理模块用于接收MCU模块在开始计数时所对应的第一计数值以及停止计数时所对应的第二计数值，并根据第一计数值与第二计数值的差值计算得到待测试电容触摸屏的响应时间。
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公开(公告)号：CN118464935A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410910561.9
申请日：2024-07-09
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
IPC分类号： G01N21/95 , G01N21/88 , G06V10/82 , G06N3/0464 , G06N3/092
摘要： 本申请公开了一种自主优化的光学检测方法、装置、系统和存储介质，用于提高检测系统效率和适应性。本申请包括：初始化AOI检测系统的光学检测参数，对样本显示屏进行压接点亮；使用样本显示屏确定当前AOI检测系统的第一光学检测状态；选取并执行参数调整动作；使用AOI检测系统对样本显示屏进行拍摄，并使用AOI检测系统对拍摄的图像进行缺陷检测，生成AOI检测系统的第二光学检测状态；根据第一光学检测状态和第二光学检测状态为参数调整动作生成调整激励；使用贝尔曼算法结合调整激励对参数调整动作的初始化期望进行调整；重新对样本显示屏进行拍摄、缺陷检测、光学检测状态生成和调整期望，直到满足终止条件。
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公开(公告)号：CN118018715B
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202410424576.4
申请日：2024-04-10
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种多相机曝光时间一致性调节的方法及相关装置，用于提高缺陷检测系统对屏幕缺陷检测的可靠性和准确性。本申请包括：装配并调试多工业相机系统；从多工业相机系统中确定标准相机和待校正相机；使标准样品分别达到255显示灰阶和j显示灰阶；使用标准相机和待校正相机对两种不同显示灰阶的标准样品拍摄获取若干张曝光时间不同的参考图像，依次生成第一、第二、第三和第四图像集合；根据第一、第二、第三和第四图像集合中各自的检测灰度值和曝光时间进行梯度计算，生成梯度集合；根据梯度集合中的梯度计算待校正相机中待校正图像和待校正图像的曝光时间校正系数；根据曝光时间校正系数对待校正相机的曝光时间进行校正。
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公开(公告)号：CN116029942A
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202310301317.8
申请日：2023-03-27
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种深度学习图像边缘强化的方法、相关装置及存储介质，用于加强图像的边缘特征，使得图像特征信息更加全面。本申请方法包括：将初始特征输入至目标神经网络中，通过第一卷积模块生成至少一个分层特征；对所述分层特征进行Canny算子处理和差分处理，得到第一中间特征通过叠加模块对所述第一中间特征和所述初始特征进行通道叠加处理，得到叠加结果；通过第二卷积模块对所述叠加结果进行特征融合处理，得到第二中间特征；对所述第二中间特征进行Canny算子处理和差分处理，输出边缘信息强化后的目标特征。
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