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公开(公告)号：CN118691618A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202411183579.X
申请日：2024-08-27
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种用于显示屏异物分层检测的定位方法、系统及装置，用于在显示屏异物分层检测中快速定位相机拍图的基准位置，提升显示屏异物分层检测的效率。本申请方法包括：点亮待测显示屏，控制相机采集初始图像；在初始图像上创建模板，并确定目标图像；基于目标图像、预设的模板搜索区域以及基准层的参考图像进行相关性计算，判断相关性校验分数是否大于或者等于预设校验分数；若否，则根据目标图像、模板搜索区域以及标定图像集进行相关性定位分析；根据相关性定位分析的结果计算相机的移动距离，并再次执行图像采集、创建模板和相关性计算的步骤，直至计算得到的相关性校验分数大于或者等于预设校验分数，此时确定相机当前的位置为基准位置。
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公开(公告)号：CN118393720B
公开(公告)日：2024-09-20
申请号：CN202410825409.0
申请日：2024-06-25
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种轮转式多镜片的平行矫正方法及相关装置，用于提高轮转式多镜片中各个镜片之间的平行度。本申请方法包括：确定第一光斑原位以及第二光斑原位；将第一光斑原位和第二光斑原位作为坐标系原点分别绘制第一坐标系和第二坐标系；获取待矫正轮转式多镜片中的第一目标镜片的第一反射光斑和第二反射光斑；将第一反射光斑和第二反射光斑分别折射至第一坐标系和第二坐标系上，并进行坐标分解，分别得到第一偏移量和第二偏移量；对第一偏移量和第二偏移量进行求和，得到第一目标偏移量；根据第一目标偏移量控制镜片角度调整机构对第一目标镜片进行角度调整；以此循环，直至对待矫正轮转式多镜片中的所有目标镜片都完成角度调整。
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公开(公告)号：CN118629371A
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202411088173.3
申请日：2024-08-09
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
IPC分类号： G09G5/10
摘要： 本申请公开了一种显示面板边缘亮度补偿的方法、相关装置及存储介质，用于解决亮度补偿后边缘容易出现显示亮度过渡不均匀的问题。本申请包括：采集显示面板在预设灰阶下所显示的目标图像，并获取目标图像的图像数据；获取图像数据中位于第一边缘区域或者第二边缘区域中，且自中心区域向边缘区域方向依次排布的多个像素的第一坐标数据和第一亮度数据；获取第一坐标数据和第一亮度数据之间的关系系数；根据第一坐标数据、第一亮度数据以及关系系数计算得到第一亮度补偿数据；根据第一亮度补偿数据对位于第一边缘区域和第二边缘区域中的至少一者的像素进行亮度补偿，以获得像素的第二亮度数据；根据第二亮度数据对位于重叠区域的像素进行亮度补偿。
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公开(公告)号：CN118623760A
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202410640727.X
申请日：2024-05-22
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种微显示器件的缺陷检测方法、系统及装置，用于提高微显示器的缺陷检测精度。本申请方法包括：获取微显示器的第一初始图像和第二初始图像；根据第一初始图像获取多个灯珠对应的第一初始坐标参数，以及根据第二初始图像获取多个灯珠对应的第二初始坐标参数；根据标准坐标参数获取第一初始坐标参数中的第一有效坐标参数和异常坐标参数；根据第一有效坐标参数获取异常坐标参数对应的第二有效坐标参数；根据第一有效坐标参数和第二有效坐标参数获取任一灯珠的第一物理坐标参数；根据第二初始坐标参数和标准坐标参数获取任一灯珠的第二物理坐标参数；根据第一物理坐标参数和第二物理坐标参数计算任一灯珠的坐标偏移量。
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公开(公告)号：CN118411402B
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202410877337.4
申请日：2024-07-02
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种曲面屏曲面点阵图定位方法、装置、系统和存储介质，用于降低畸变校正的难度。本申请曲面屏曲面点阵图定位方法包括：对被点亮的待检测显示屏进行拍摄，获取曲面拍摄图像，曲面拍摄图像上有多个点阵点，每一个点阵点中包括若干个像素点；将曲面拍摄图像上的点阵点进行像素摆正处理；确定曲面拍摄图像上每一个像素点的灰度值，生成灰度数据；根据灰度数据确定目标像素点，目标像素点为处于点阵点左上边缘区域的像素点；根据目标像素点生成包络框；根据包络框里的像素点的平均灰度M和标准方差S计算第一灰度阈值；获取包络框里灰度值大于第一灰度阈值的计算像素点；根据计算像素点的坐标数据计算当前点阵点的质心坐标。
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公开(公告)号：CN118469858A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410910555.3
申请日：2024-07-09
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种显示屏图像的预处理方法、装置、系统和存储介质，用于减少显示屏在缺陷检测上的干扰，以此降低显示屏缺陷检测的难度。本申请包括：点亮待检测显示屏，获取所述待检测显示屏的显示屏拍摄图像；对所述显示屏拍摄图像进行区域定位，生成显示屏区域图像；对所述显示屏区域图像的像素点进行校正；对所述显示屏区域图像进行频域变换，生成频域空间的频率域图像；对所述频率域图像的缺陷行列的频域数据进行过滤；对所述频率域图像进行反频域变换，生成时域空间的主干图像。
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公开(公告)号：CN110602918B
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN201911034021.4
申请日：2019-10-28
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
IPC分类号： H05K7/14
摘要： 本发明公开一种仿生治具、仿生系统及仿生系统的控制方法，仿生治具用于辅助柔性电路板贴附于电子通讯设备的骨架上，骨架包括底板和与底板连接的侧板，底板和侧板之间形成有容置槽，侧板和底板均用于贴附柔性电路板，底板设置有连接爪，仿生治具容置于容置槽，仿生治具包括：支撑部，侧板吸附于支撑部；连接部与支撑部连接，连接部面向连接爪的一侧设置有多个沿仿生治具的宽度方向间隔设置的第一真空槽组，第一真空槽组包括多个沿仿生治具的长度方向间隔设置的第一真空槽，连接部通过第一真空槽吸附于连接爪。本发明仅通过真空吸附的方式就完成了骨架与仿生治具之间的装配，无需采用现有技术的螺钉装配方式，简化了装配工艺。
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公开(公告)号：CN117824504B
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202410209964.0
申请日：2024-02-26
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种屏体与FPC的压接对位精度检测方法以及相关装置，用于提高屏体与FPC的压接对位精度检测结果的可靠性。本申请方法包括：生成第一参考图像以及第二参考图像；采集第一目标图像和第二目标图像；将第一参考图像分别与第一目标图像和第二目标图像进行相似度匹配；计算待压接屏体与待压接FPC之间的偏移量；根据偏移量驱动承载平台运动；驱动待压接FPC与待压接屏体进行压接；进行二次图像采集，得到第三目标图像和第四目标图像；将第二参考图像分别与第三目标图像和第四目标图像进行相似度匹配；计算pin边中心点坐标值与pin角中心点坐标值在X轴方向上的差值；根据差值计算待压接屏体与待压接FPC的压接对位精度。
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公开(公告)号：CN118212230A
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202410612712.2
申请日：2024-05-17
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种显示屏的缺陷提取方法、装置、电子设备和存储介质，用于提高显示屏图像缺陷检测的精确度。本申请缺陷提取方法包括：将显示屏图像划分成多个小区域图像块；对多个所述小区域图像块进行降采样处理，生成多个降采样分块图像；构建所述降采样分块图像的重建曲面；对所述重建曲面和所述显示屏图像进行加权处理，生成对比度增强图像；对所述对比度增强图像的灰度值进行阈值卡控，筛选出满足的目标对比度增强图像；对所述目标对比度增强图像进行缺陷特征分析，生成所述显示屏图像的缺陷类型集合。
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公开(公告)号：CN118018715A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202410424576.4
申请日：2024-04-10
申请人： 深圳精智达技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种多相机曝光时间一致性调节的方法及相关装置，用于提高缺陷检测系统对屏幕缺陷检测的可靠性和准确性。本申请包括：装配并调试多工业相机系统；从多工业相机系统中确定标准相机和待校正相机；使标准样品分别达到255显示灰阶和j显示灰阶；使用标准相机和待校正相机对两种不同显示灰阶的标准样品拍摄获取若干张曝光时间不同的参考图像，依次生成第一、第二、第三和第四图像集合；根据第一、第二、第三和第四图像集合中各自的检测灰度值和曝光时间进行梯度计算，生成梯度集合；根据梯度集合中的梯度计算待校正相机中待校正图像和待校正图像的曝光时间校正系数；根据曝光时间校正系数对待校正相机的曝光时间进行校正。
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