公开(公告)号：CN111751440B

公开(公告)日：2022-07-01

申请号：CN202010556179.4

申请日：2020-06-17

申请人： 清华大学

发明人： 黄松岭 ,  王文志 ,  赵伟 ,  王珅 ,  黄紫靖 ,  宋小春 ,  彭丽莎

IPC分类号： G01N27/82

摘要： 本申请公开了一种钢材缺陷内外磁扰动综合检测装置及检测方法，其中，装置包括：磁化器，磁化器包括磁化源和磁轭，以放置于样品表面后，用于产生适用于内外扰动综合检测的典型磁场；双排磁传感器，用于采集内、外磁扰动数据；主控机箱，用于对内、外磁扰动数据进行预处理，将处理后的数据进行存储；扫查轮，用于在进行扫查转动时，产生采样触发脉冲，以使主控机箱工作；上位机，用于对主控机箱上传的数据进行处理分析，从而对缺陷量化分析，得到缺陷量化分析结果。本申请实施例结构简单、操作容易、能耗低，可实现对全方向缺陷的精准检出，综合内外扰动数据，使得缺陷三维反演更加精确。

公开(公告)号：CN111089896B

公开(公告)日：2021-12-14

申请号：CN201911280680.6

申请日：2019-12-13

申请人： 清华大学

发明人： 黄松岭 ,  王文志 ,  彭丽莎 ,  赵伟 ,  王珅 ,  黄紫靖

IPC分类号： G01N27/82 ,  G01B11/24

摘要： 本发明公开了一种磁激各向同性缺陷轮廓成像装置及成像方法，其中，该装置包括：永磁体置于待检测构件上方，磁传感器阵列置于待检测构件与永磁体之间，用于拾取磁场信号；永磁体和磁传感器阵列升降控制模块用于控制永磁体和磁传感器阵列进行升降，调整永磁体和磁传感器阵列与待检测构件的距离；扫查驱动模块用于控制缺陷轮廓成像装置在待检测构件表面移动；数据采集模块用于采集磁传感器阵列拾取的磁场信号；数据分析及成像模块与数据采集模块通信连接用于对数据采集模块采集的磁场信号进行分析，并对待检测构件的缺陷轮廓进行成像。该装置可对金属构件表面缺陷进行全方向检测，通过检测磁场法向分量可直接对缺陷开口轮廓真实等比成像。

公开(公告)号：CN111751440A

公开(公告)日：2020-10-09

申请号：CN202010556179.4

申请日：2020-06-17

申请人： 清华大学

发明人： 黄松岭 ,  王文志 ,  赵伟 ,  王珅 ,  黄紫靖 ,  宋小春 ,  彭丽莎

IPC分类号： G01N27/82

摘要： 本申请公开了一种钢材缺陷内外磁扰动综合检测装置及检测方法，其中，装置包括：磁化器，磁化器包括磁化源和磁轭，以放置于样品表面后，用于产生适用于内外扰动综合检测的典型磁场；双排磁传感器，用于采集内、外磁扰动数据；主控机箱，用于对内、外磁扰动数据进行预处理，将处理后的数据进行存储；扫查轮，用于在进行扫查转动时，产生采样触发脉冲，以使主控机箱工作；上位机，用于对主控机箱上传的数据进行处理分析，从而对缺陷量化分析，得到缺陷量化分析结果。本申请实施例结构简单、操作容易、能耗低，可实现对全方向缺陷的精准检出，综合内外扰动数据，使得缺陷三维反演更加精确。

公开(公告)号：CN111089896A

公开(公告)日：2020-05-01

申请号：CN201911280680.6

申请日：2019-12-13

申请人： 清华大学

发明人： 黄松岭 ,  王文志 ,  彭丽莎 ,  赵伟 ,  王珅 ,  黄紫靖

IPC分类号： G01N27/82 ,  G01B11/24

摘要： 本发明公开了一种磁激各向同性缺陷轮廓成像装置及成像方法，其中，该装置包括：永磁体置于待检测构件上方，磁传感器阵列置于待检测构件与永磁体之间，用于拾取磁场信号；永磁体和磁传感器阵列升降控制模块用于控制永磁体和磁传感器阵列进行升降，调整永磁体和磁传感器阵列与待检测构件的距离；扫查驱动模块用于控制缺陷轮廓成像装置在待检测构件表面移动；数据采集模块用于采集磁传感器阵列拾取的磁场信号；数据分析及成像模块与数据采集模块通信连接用于对数据采集模块采集的磁场信号进行分析，并对待检测构件的缺陷轮廓进行成像。该装置可对金属构件表面缺陷进行全方向检测，通过检测磁场法向分量可直接对缺陷开口轮廓真实等比成像。

公开(公告)号：CN112630294B

公开(公告)日：2022-11-29

申请号：CN202011437251.8

申请日：2020-12-07

申请人： 清华大学 ,  北京麦格迪管道科技有限公司

发明人： 黄松岭 ,  王文志 ,  黄紫靖

IPC分类号： G01N27/904

摘要： 本申请提出一种基于Chirp信号的旋转层析缺陷检测方法和装置，涉及无损检测技术领域，其中，方法包括：控制磁化装置中多对磁化线圈激励电流，以使在被测结构件内部产生无极变频旋转磁场；磁传感阵列按照等旋转角度原则采集被测结构件表面的磁场数据，并实时传送到数据分析模块；数据分析模块对各个时刻下的磁场数据进行联合解耦，获取被测结构件内部的层析结果。由此，由于Chirp信号在不同时刻频率不同，因此感生涡流在各个时刻下的集肤深度不同，通过对Chirp信号频率变化率进行控制，实现对被测结构件不同深度处缺陷的同灵敏度检测，以及采集不同时刻下被测结构件的表面磁场信号，对特定时刻下的磁场信号进行联合解耦，从而实现对缺陷的层析检测。

公开(公告)号：CN111929356B

公开(公告)日：2022-08-16

申请号：CN202010646149.2

申请日：2020-07-07

申请人： 清华大学 ,  北京麦格迪管道科技有限公司

发明人： 黄松岭 ,  黄紫靖 ,  王文志 ,  彭丽莎 ,  龙跃

IPC分类号： G01N27/82

摘要： 本申请公开了一种钢材缺陷磁成像装置及方法，其中，装置包括：磁成像探头，磁成像探头用于获取被测物体表面无损处的第一磁通数据，并扫查被测物体的待检测区，得到第二磁通数据；数据处理模块，用于接收磁成像探头发送的第一磁通数据和第二磁通数据，根据第一磁通数据和第二磁通数据，计算得到变化磁通数据，从而根据变化磁通数据得到被测物体的三维轮廓图像；以及上位机，上位机用于为数据处理模块和磁成像探头供电，并显示三维轮廓图像。该装置结构简单、造价低、检测速度快，对缺陷危害的评估具有重要意义。

公开(公告)号：CN112630294A

公开(公告)日：2021-04-09

申请号：CN202011437251.8

申请日：2020-12-07

申请人： 清华大学 ,  北京麦格迪管道科技有限公司

发明人： 黄松岭 ,  王文志 ,  黄紫靖

IPC分类号： G01N27/90

摘要： 本申请提出一种基于Chirp信号的旋转层析缺陷检测方法和装置，涉及无损检测技术领域，其中，方法包括：控制磁化装置中多对磁化线圈激励电流，以使在被测结构件内部产生无极变频旋转磁场；磁传感阵列按照等旋转角度原则采集被测结构件表面的磁场数据，并实时传送到数据分析模块；数据分析模块对各个时刻下的磁场数据进行联合解耦，获取被测结构件内部的层析结果。由此，由于Chirp信号在不同时刻频率不同，因此感生涡流在各个时刻下的集肤深度不同，通过对Chirp信号频率变化率进行控制，实现对被测结构件不同深度处缺陷的同灵敏度检测，以及采集不同时刻下被测结构件的表面磁场信号，对特定时刻下的磁场信号进行联合解耦，从而实现对缺陷的层析检测。

公开(公告)号：CN111929356A

公开(公告)日：2020-11-13

申请号：CN202010646149.2

申请日：2020-07-07

申请人： 清华大学 ,  北京麦格迪管道科技有限公司

发明人： 黄松岭 ,  黄紫靖 ,  王文志 ,  彭丽莎 ,  龙跃

IPC分类号： G01N27/82

摘要： 本申请公开了一种钢材缺陷磁成像装置及方法，其中，装置包括：磁成像探头，磁成像探头用于获取被测物体表面无损处的第一磁通数据，并扫查被测物体的待检测区，得到第二磁通数据；数据处理模块，用于接收磁成像探头发送的第一磁通数据和第二磁通数据，根据第一磁通数据和第二磁通数据，计算得到变化磁通数据，从而根据变化磁通数据得到被测物体的三维轮廓图像；以及上位机，上位机用于为数据处理模块和磁成像探头供电，并显示三维轮廓图像。该装置结构简单、造价低、检测速度快，对缺陷危害的评估具有重要意义。