探测器阵列及设备
    5.
    实用新型

    公开(公告)号:CN200947086Y

    公开(公告)日:2007-09-12

    申请号:CN200620022987.8

    申请日:2006-05-19

    IPC分类号: G01N23/04 G01N23/083

    摘要: 公开了一种探测器阵列,包括:探测穿透被检物体的第一多个部分第一射线和第二射线的第一线阵探测器,其中第二射线和第一射线是交替发射的;以及与所述第一线阵探测器平行设置、探测穿透所述被检物体的第二多个部分的第一射线和第二射线的第二线阵探测器,其中所述第一多个部分和第二多个部分部分相同。利用所述探测器阵列,能够提高交替双能射线对被检物体的扫描检查效率和材料识别正确率。

    创建识别材料的函数曲线的方法和装置

    公开(公告)号:CN102519988B

    公开(公告)日:2014-08-20

    申请号:CN201110392171.X

    申请日:2008-05-09

    IPC分类号: G01N23/02

    摘要: 公开了一种利用前向散射辐射检查物体的系统中创建识别材料的函数曲线的方法和装置,该方法包括步骤:使得通过辐射源发射的直接辐射和散射体发射的前向散射辐射与不同厚度的已知材料相互作用,并探测得到穿透值;匹配两种能量对相同厚度的各种材料的穿透值,即计算两种能量下的透明度之间的比值;按照不同材料分组,根据所述比值拟合出各种材料随厚度的变化曲线,作为识别材料的函数曲线。本发明可用在海关、港口、机场对货物进行不开箱检查,也可用于生物学研究或医学检测。

    利用前向散射辐射检查物体的方法及其设备

    公开(公告)号:CN101576513B

    公开(公告)日:2011-12-21

    申请号:CN200810106278.1

    申请日:2008-05-09

    IPC分类号: G01N23/04 H05G1/02

    CPC分类号: G01N23/20083

    摘要: 公开了一种利用前向散射辐射来检查物体的方法和设备,该方法包括步骤:探测辐射源产生的第一辐射与被检物体相互作用后的第一穿透值;使辐射源产生的第二辐射与散射体相互作用,以产生与该第二辐射成预定角度的前向散射辐射;探测该前向散射辐射与被检物体相互作用后的第二穿透值;以及利用探测的第一穿透值和第二穿透值来获取该被检物体的材料属性信息。本发明可用在海关、港口、机场对货物进行不开箱检查,也可用于生物学研究或医学检测。

    创建识别材料的函数曲线的方法和装置

    公开(公告)号:CN102519988A

    公开(公告)日:2012-06-27

    申请号:CN201110392171.X

    申请日:2008-05-09

    IPC分类号: G01N23/02

    摘要: 公开了一种利用前向散射辐射检查物体的系统中创建识别材料的函数曲线的方法和装置,该方法包括步骤:使得通过辐射源发射的直接辐射和散射体发射的前向散射辐射与不同厚度的已知材料相互作用,并探测得到穿透值;匹配两种能量对相同厚度的各种材料的穿透值,即计算两种能量下的透明度之间的比值;按照不同材料分组,根据所述比值拟合出各种材料随厚度的变化曲线,作为识别材料的函数曲线。本发明可用在海关、港口、机场对货物进行不开箱检查,也可用于生物学研究或医学检测。