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    X射线计算机断层摄影装置以及校正方法
    4.
    发明授权
    X射线计算机断层摄影装置以及校正方法 有权 转让

    公开(公告)号：CN105025796B

    公开(公告)日：2018-07-31

    申请号：CN201480011872.6

    申请日：2014-04-18

    申请人： 东芝医疗系统株式会社

    发明人： 邹宇 ,  王霄岚 ,  曹春光 ,  梅斯尔·L·罗德里格斯 ,  张跃兴 ,  丹尼尔·加格农

    IPC分类号： A61B6/03

    CPC分类号： G01T1/171 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4241 ,  A61B6/482 ,  A61B6/5205

    摘要： 实施方式的X射线计算机断层摄影装置具备X射线管、X射线检测器、生成部、生成控制部、以及重建部。X射线管产生X射线。X射线检测器检测从上述X射线管产生的X射线光子并输出测定频谱。生成部根据包含与堆积事件的概率相关的参数和与上述X射线检测器的死时间相关的参数的参数向量,来生成合成频谱。生成控制部以边改变上述参数向量边生成上述合成频谱的方式控制上述生成部,以便由上述X射线检测器输出的测定频谱与由上述生成部生成的合成频谱的差异度低于规定的阈值。重建部根据上述差异度低于规定的阈值的合成频谱,生成校正了上述堆积事件的校正频谱,并根据生成的校正频谱来重建图像。

    用于直接转换x射线检测器的极化校正
    5.
    发明公开
    用于直接转换x射线检测器的极化校正 有权

    公开(公告)号：CN108139494A

    公开(公告)日：2018-06-08

    申请号：CN201680061282.3

    申请日：2016-10-11

    申请人： 皇家飞利浦有限公司

    发明人： R·斯特德曼布克 ,  E·罗塞尔 ,  H·德尔

    IPC分类号： G01T1/24

    CPC分类号： G01T7/005 ,  A61B6/4241 ,  A61B6/585 ,  G01T1/24 ,  G01T1/247

    摘要： 光子计数x射线检测器(3)遭受归因于极化的性能退化。为了校正极化对所生成的x射线图像的影响，本发明提出(i)将辐射检测器(3)暴露于由另一辐射源(11)发射的第一辐射脉冲，并且获得辐射检测器(3)响应于第一辐射脉冲而生成的第一电脉冲信号(3)，(ii)随后在采集图像期间将辐射检测器(3)暴露于由另一辐射源(11)发射的第二辐射脉冲，并且获得辐射检测器(3)响应于第二辐射脉冲而生成的第二电脉冲信号，以及(iii)比较第一电脉冲信号和第二电脉冲信号的幅度，并且基于该比较的结果生成x射线图像。本发明提供了一种对应的x射线设备和一种对应的方法。

    用于表征身体部分的特征的装置
    6.
    发明公开
    用于表征身体部分的特征的装置 有权

    公开(公告)号：CN108135558A

    公开(公告)日：2018-06-08

    申请号：CN201680058092.6

    申请日：2016-09-28

    申请人： 皇家飞利浦有限公司

    发明人： J·E·弗雷登贝里 ,  K·埃哈德

    IPC分类号： A61B6/02 ,  A61B6/00

    CPC分类号： A61B6/025 ,  A61B6/4241 ,  A61B6/469 ,  A61B6/482 ,  A61B6/502

    摘要： 本发明涉及一种用于表征身体部分中的特征的装置。本发明描述了提供(210)包括所述身体部分的多个图像的断层合成医学数据，其中，所述多个图像包括与已经穿过所述身体部分的多个辐射射线相关联的图像数据，其中，所述图像数据包括与所述多个辐射射线的至少两个光子能量水平相关联的谱数据，其中，所述医学数据包括所述特征的数据。确定(220)所述特征的描绘的边界。确定(240)所述描绘的边界内部的所述身体部分的至少一种材料成分，包括确定所述描绘的边界内部的所述谱数据的函数。所述特征被表征(250)为所述特征的所述描绘的边界内部的所述至少一种材料成分的函数。输出(260)表示所述特征的数据。

    计算机断层摄影X射线成像
    7.
    发明公开
    计算机断层摄影X射线成像 有权

    公开(公告)号：CN108135557A

    公开(公告)日：2018-06-08

    申请号：CN201780003448.0

    申请日：2017-09-04

    申请人： 皇家飞利浦有限公司

    发明人： B·J·布伦德尔 ,  T·克勒 ,  R·普罗克绍

    IPC分类号： A61B6/00 ,  A61B6/03

    CPC分类号： A61B6/482 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4241 ,  A61B6/5258

    摘要： 本发明涉及计算机断层摄影X射线成像。为了提供用于重建的进一步改进的数据，提供了一种用于计算机断层摄影X射线成像的系统(10)。所述系统包括数据接口(12)和处理单元(14)。所述数据接口被配置为提供针对至少第一X射线能量范围和第二X射线能量范围的至少第一CT X射线辐射投影数据和第二CT X射线辐射投影数据，所述第一X射线能量范围与所述第二X射线能量范围彼此不同。所述处理单元被配置为确定针对切片归一化的校正，并且对所述第一CT X射线投影数据和所述第二CT X射线投影数据应用均等切片归一化，并且由此生成经准备的第一CT X射线投影数据和经准备的第二CT X射线投影数据。为了校正，均等切片归一化基于外面的探测器元件的测得的数据。此外，数据接口被配置为提供经准备的第一CT X射线投影数据和经准备的第二CT X射线投影数据以供进一步处理。在范例中，所述系统还包括计算机断层摄影X射线成像采集装置(20)，所述计算机断层摄影X射线成像采集装置具有被配置为生成X射线束的X射线源(22)和被配置为能量分辨X射线探测器的X射线探测器(26)以同时提供分别针对至少两个不同的X射线能量范围的X射线辐射投影数据。所述计算机断层摄影X射线成像采集装置被配置为采集针对所述至少第一X射线能量范围和第二X射线能量范围的所述对象的感兴趣区域的至少第一CT X射线投影数据和第二CT X射线投影数据。

    光子计数X射线辐射探测系统中的光子计数的校正
    8.
    发明公开
    光子计数X射线辐射探测系统中的光子计数的校正 有权

    公开(公告)号：CN108027447A

    公开(公告)日：2018-05-11

    申请号：CN201680053904.8

    申请日：2016-09-09

    申请人： 皇家飞利浦有限公司

    发明人： H·德尔 ,  A·特伦

    IPC分类号： G01T1/24

    CPC分类号： G01T1/24 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4241 ,  G01T1/29

    摘要： 本发明涉及一种光子计数X射线辐射探测系统。所述系统(31)包括X射线辐射设备(2)，所述X射线辐射设备用于在扫描的探测时段期间提供用于穿过检查区(5)的多色X射线辐射(4)。包括探测元件(3)的光子计数探测设备(6)探测己经穿过所述检查区之后的所述X射线辐射，并且在所述探测时段期间测量针对每个探测元件的在一个或多个能量分箱中的光子计数。校正单元(12)估计针对每个探测元件的存在于所述探测元件中的积聚的电荷的量并且基于所述积聚的电荷的所估计的量来校正针对所述探测元件的测得的光子计数。这允许补偿由积聚的电荷引起的光子计数率的损坏并改进光子计数的确定。