公开(公告)号：CN106646639A

公开(公告)日：2017-05-10

申请号：CN201611097077.0

申请日：2016-12-02

申请人： 北京航星机器制造有限公司

发明人： 何竞择 ,  徐圆飞 ,  张文杰

IPC分类号： G01V5/00 ,  G01N23/04

CPC分类号： G01V5/0041 ,  G01N23/04 ,  G01N2223/03 ,  G01N2223/1016 ,  G01N2223/643 ,  G01V5/005

摘要： 一种可变速射线安检机，传送带传送被检物品，电动滚轮带动传送带传送被检物品，X射线源当被检物品通过检查通道中传送带时，发射入射X射线照射被检物品，光子计数探测器探测穿透被检物品后的X射线，得到入射光子脉冲，阈值鉴别器对入射光子脉冲进行能量鉴别，得到能量鉴别结果，计数器按照能量鉴别结果生成相应的计数信号，终端处理器根据不同能量鉴别结果对应的计数信号生成多个像素信息，进而得到包括多个像素信息的投影数据，将卷积函数核与投影数据进行卷积，获得滤波后的投影数据，然后将滤波后的投影数据进行加权反投影，完成被检物品投影数据图像重建。

公开(公告)号：CN105242322A

公开(公告)日：2016-01-13

申请号：CN201410291326.4

申请日：2014-06-25

申请人： 清华大学 ,  同方威视技术股份有限公司

发明人： 陈志强 ,  张丽 ,  金鑫 ,  黄清萍 ,  沈乐 ,  孙运达

IPC分类号： G01V5/00 ,  G01N23/10

CPC分类号： G01V5/0041 ,  A61B6/4266 ,  G01T1/202 ,  G01T1/362 ,  G01T7/08 ,  G01V5/005

摘要： 本发明公开一种探测器装置，包括多个探测器组件，每个组件包括：沿第一方向间隔排布的至少一个具有第一能量响应的探测晶体单元，每个这种探测晶体单元包括沿第二方向布置的至少一个具有第一能量响应的探测晶体，第二方向垂直于第一方向；沿第一方向间隔排布的至少一个具有第二能量响应的探测晶体单元，每个这种探测晶体单元包括沿第二方向布置的至少一个具有第二能量响应的探测晶体，第二能量高于第一能量；沿X射线入射方向观察时具有第一能量响应的探测晶体单元和具有第二能量响应的探测晶体单元沿第一方向至少部分地交错排布。本发明还公开一种具有该探测器装置的双能CT系统及用该系统进行CT检测的方法。

公开(公告)号：CN104570139A

公开(公告)日：2015-04-29

申请号：CN201410811888.7

申请日：2014-12-23

申请人： 清华大学 ,  同方威视技术股份有限公司

发明人： 张丽 ,  洪明志 ,  黄清萍 ,  金鑫

IPC分类号： G01V5/00 ,  G01N23/10

CPC分类号： G01V5/005 ,  G01N23/046 ,  G01V5/0041

摘要： 本发明提供一种双源安检CT扫描系统和方法，所述系统包括：两套扫描成像系统，每套扫描成像系统均具有各自独立的射线源和探测器，所述两套扫描成像系统并列位于同一套旋转机构上，所述两套扫描成像系统的成像平面具有预设间隔。本发明能够通过分别设置的两套成像系统确保两套成像光路互不干扰，有效避免了现有技术中双源CT扫描系统的双源之间的散射相互干扰问题。

公开(公告)号：CN102460067B

公开(公告)日：2015-02-25

申请号：CN201080031948.3

申请日：2010-05-16

申请人： 拉皮斯坎系统股份有限公司

发明人： 小罗伯特.A.阿米斯泰德 ,  J.A.布朗 ,  W.Z.常 ,  E.D.弗朗科 ,  J.本达汉

IPC分类号： G01B15/02

CPC分类号： G01V5/0016 ,  G01N23/04 ,  G01V5/0025 ,  G01V5/0041 ,  G06K9/00 ,  G06K9/4671 ,  G06K2209/09

摘要： 本发明贯注于一种检查系统，包括：辐射源、检测器阵列、检查范围和处理单元，其中所述处理单元：a)获得射线照相图像；b)基于辐射衰减或透射分割所述射线照相图像；c)在所述射线照相图像上识别至少一个分割区域；d)使用至少一个几何滤波器对所述至少一个分割区域滤波；e)使用所滤波的分割区域生成特征矢量；以及f)将所述特征矢量与预定值进行比较，以确定是否存在高原子数的对象。

公开(公告)号：CN103930772A

公开(公告)日：2014-07-16

申请号：CN201280054942.7

申请日：2012-08-22

申请人： 浜松光子学株式会社

发明人： 须山敏康

IPC分类号： G01N23/04 ,  G01T7/00 ,  G21K5/00 ,  G21K5/10

CPC分类号： G01N23/043 ,  G01N23/083 ,  G01N2223/423 ,  G01N2223/618 ,  G01N2223/643 ,  G01V5/0041

摘要： 本发明提供一种非破坏检查装置。非破坏检查装置(1)具备X射线照射器(20)、低能检测器(32)、高能检测器(42)、低能透过率计算部(72)、高能透过率计算部(74)、检测部(76)及补正部(78)。计算部(72)计算表示透过X射线的低能范围的透过率的值。计算部(74)计算表示透过X射线的高能范围的透过率的值。检测部(76)基于由两计算部(72、72)算出的透过率之比，检测X射线照射器(20)的错位内容。补正部(78)在由检测部(76)检测出X射线照射器(20)的错位内容的情况下，根据错位内容，对由检测器(32、42)检测出的X射线的亮度数据进行补正。

公开(公告)号：CN103926261A

公开(公告)日：2014-07-16

申请号：CN201410021694.7

申请日：2014-01-17

申请人： 清华大学 ,  同方威视技术股份有限公司

发明人： 康克军 ,  李荐民 ,  李营 ,  李元景 ,  印炜 ,  郑娟 ,  曾磊

IPC分类号： G01N23/10

CPC分类号： G01V5/0041 ,  G01V5/0025

摘要： 本发明提供了一种多能量多剂量加速器，包括：电子枪，提供第一电子枪电压和第二电子枪电压；和加速管，根据第一电子枪电压来产生具有第一剂量和第一能量的第一X射线，并且根据第二电子枪电压来产生具有第二剂量和第二能量的第二X射线，其中第一剂量是人体能够接受的剂量且远小于第二剂量，其中第一X射线用于检查人员所在的第一区域，并且第二X射线用于检查货物所在的第二区域。

公开(公告)号：CN101614683B

公开(公告)日：2011-10-05

申请号：CN200810115788.5

申请日：2008-06-27

申请人： 清华大学 ,  同方威视技术股份有限公司

发明人： 胡海峰 ,  康克军 ,  张丽 ,  王学武 ,  黄清萍 ,  李元景 ,  刘以农 ,  赵自然 ,  武祯

IPC分类号： G01N23/087 ,  G01N23/10 ,  G01N23/04

CPC分类号： G01N23/04 ,  G01N2223/303 ,  G01N2223/423 ,  G01V5/0041

摘要： 公开了一种用于高能X射线双能成像集装箱检查系统的实时标定设备和方法，涉及辐射成像领域。该方法包括：发射具有第一能量的第一主射线束和第一辅射线束，和具有第二能量的第二主射线束和第二辅射线束；使第一主射线束和第二主射线束透射被检物体；使第一辅射线束和第二辅射线束透射至少一个实时标定材料块；采集透射被检物体的第一主射线束和第二主射线束的值，作为双能数据；采集透射实时标定材料块的第一辅射线束和第二辅射线束的值，作调整参数；基于该调整参数对该组分类参数进行调整；以及根据调整后的分类参数对双能数据进行材料识别处理。本发明简化了高能双能系统的物质识别分系统的标定流程，提升了系统的材料分辨效果的稳定性。

公开(公告)号：CN101074935B

公开(公告)日：2011-03-23

申请号：CN200610011943.X

申请日：2006-05-19

申请人： 清华大学 ,  同方威视技术股份有限公司

发明人： 王学武 ,  陈志强 ,  李元景 ,  钟华强 ,  张清军 ,  赵书清

IPC分类号： G01N23/04 ,  G01N23/083

CPC分类号： G01N23/087 ,  A61B6/482 ,  G01N2223/5015 ,  G01V5/0041

摘要： 公开了一种探测器阵列，包括：第一线阵探测器，用于探测穿透被检物体的至少一个部分的第一射线；第二线阵探测器，与所述第一线阵探测器平行设置，用于探测与所述第一射线交替发射并穿透所述至少一个部分的第二射线。利用所述探测器阵列，能够提高交替双能射线对被检物体的扫描检查效率和材料识别正确率。

公开(公告)号：CN101846641A

公开(公告)日：2010-09-29

申请号：CN201010159537.4

申请日：2010-03-26

申请人： 莫弗探测公司

发明人： S·巴苏

IPC分类号： G01N23/10

CPC分类号： G06T7/0004 ,  G01V5/0041 ,  G01V5/005 ,  G06K9/00201 ,  G06T11/001 ,  G06T11/008 ,  G06T15/08 ,  G06T2200/24 ,  G06T2207/10081 ,  G06T2207/30112

摘要： 本发明名称为“用于容器的检查的方法和系统”。公开用于产生容器中至少一个关注的物体的图像的方法和系统。方法包括从容器的扫描接收三维容积扫描数据，从三维容积扫描数据重构容器的三维表示，以及检查三维表示以检测容器内的至少一个关注的物体。方法还包括从三维容积扫描数据和三维表示之一重新投射二维图像，并且识别二维图像中对应于至少一个关注的物体的位置的第一多个图像元素。方法还包括输出具有突出显示的第一多个图像元素的二维图像。

公开(公告)号：CN1995993B

公开(公告)日：2010-07-14

申请号：CN200510136319.8

申请日：2005-12-31

申请人： 清华大学 ,  同方威视技术股份有限公司

发明人： 康克军 ,  胡海峰 ,  陈志强 ,  李元景 ,  王学武 ,  唐传祥 ,  王利明 ,  刘以农 ,  刘耀红 ,  张丽 ,  李荐民 ,  钟华强 ,  程建平 ,  陈怀璧 ,  彭华 ,  谢亚丽 ,  李君利 ,  康宁 ,  李清华

IPC分类号： G01N23/08 ,  G01N23/04

CPC分类号： G01N23/087 ,  A61B6/4241 ,  A61B6/482 ,  G01V5/0041

摘要： 本发明公开了一种利用多种能量辐射扫描物质的方法和装置。该方法包括：1)探测多种能量的射线穿透被测物质后的探测值；2)初步判断物质属性及厚度信息；3)根据初步判断结果选择处理该物质的能量区间和处理函数；4)最终确定所含物质，并根据厚度信息调整图像。相应的装置包括：1)产生多种能量的射线源；2)针对不同能量所使用的能谱调制装置；3)对不同能量敏感的探测器阵列；4)相应的图像处理机构。本发明可用在海关、港口、机场对大型集装箱货物进行不开箱查验。