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公开(公告)号：CN105651761A
公开(公告)日：2016-06-08
申请号：CN201510999463.8
申请日：2015-12-28
申请人： 清华大学深圳研究生院 , 中国电力科学研究院
IPC分类号： G01N21/71
CPC分类号： G01N21/718
摘要： 本发明公开了一种覆冰盐分的测量方法及装置，所述方法包括配置不同浓度的盐溶液，并使每一份盐溶液冻结成冰块；利用激光诱导击穿光谱系统的激光聚焦照射每一份冰块，检测对应的盐成份的光谱；建立盐的浓度与对应光谱之间的浓度-光谱函数关系；利用激光诱导击穿光谱系统的激光聚焦照射待测覆冰层的某个部位，检测得到测量光谱；根据所述浓度-光谱函数关系和测量光谱，计算所述待测覆冰层的所述某个部位的盐分浓度。本发明可以对覆冰层的盐分进行直接测量，结果精确，利于实时监测冰层的成分分布情况，分析绝缘子的覆冰规律。
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公开(公告)号：CN106908435A
公开(公告)日：2017-06-30
申请号：CN201710075913.3
申请日：2017-02-13
申请人： 中国电力科学研究院 , 国家电网公司 , 清华大学深圳研究生院
摘要： 本发明提供了一种覆雪绝缘子上雪层可溶盐的测量方法及装置，其中，该方法包括如下步骤：测量带电的覆雪绝缘子的雪层中待测离子的光谱谱线；获取光谱谱线的光谱强度，并根据光谱强度查询预先测定的定标曲线，确定待测离子含量；定标曲线为预先测定的反映待测离子含量和光谱强度之间的对应关系曲线。本发明能够根据实际需求测量覆雪绝缘子表面任一位置处的雪层中待测离子的含量，无需将雪融化，从而能够更精准地确定覆雪绝缘子中雪层可溶盐的分布情况，进而确定覆雪绝缘子中雪层的电导率，便于分析和确定覆雪绝缘子的覆雪层的闪络规律；即使覆雪绝缘子施加正常工作的电压，也能够测量覆雪绝缘子上雪层的含盐量，更好地模拟覆雪绝缘子的实际工况。
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公开(公告)号：CN105251737A
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201510768064.0
申请日：2015-11-11
申请人： 清华大学深圳研究生院
CPC分类号： B08B7/0042 , B08B13/00
摘要： 一种干式清除绝缘子老化RTV涂料的方法，包括以下步骤：(1)确定绝缘子的尺寸、形状和RTV涂层厚度、使用时间、以及RTV材料组成；(2)根据步骤(1)确定的参数，确定激光输出的清除功率密度阈值和损伤功率密度阈值，其中所述清除功率密度阈值为能够将待清除的RTV涂层清除的最小功率密度，所述损伤功率密度阈值为所述待清除的RTV涂层覆盖的绝缘子表面被激光辐射时能够承受的最大功率密度，超出该最大功率密度将损伤绝缘子表面；(3)按照步骤(2)确定的清除功率密度阈值和损伤功率密度阈值，调节激光器的功率设置，输出激光对绝缘子表面进行扫描。该方法可在不损坏绝缘子表面的前提下，高效便捷地清除绝缘子表面的老化RTV涂料。
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公开(公告)号：CN106770070A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201610994918.1
申请日：2016-11-11
申请人： 清华大学深圳研究生院
IPC分类号： G01N21/63
CPC分类号： G01N21/63
摘要： 本发明公开了一种绝缘子表面等值盐密测量方法及装置，包括以下步骤：S1，将脉冲激光光源聚焦于待检测的绝缘子的污秽表面，利用激光光源发出脉宽小于等于20ns的激光使得所述绝缘子表面的污秽物质被诱导形成等离子体，采集等离子体膨胀冷却过程中发射的光谱信息；S2，建立绝缘子表面污秽中常见可溶性盐中的各离子的密度与激光激发产生等离子体后的光谱特征之间的关系模型；S3，将步骤S1中采集的光谱信息输入步骤S2中的关系模型中，分析得到所述待检测的绝缘子表面的污秽物质的离子组成和各种离子的离子密度；S4，根据各种离子的离子密度计算污秽物质的等值盐密。本发明的测量方法及装置，不用停电取样，可实现污秽成分以及等值盐密的在线测量。
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公开(公告)号：CN105572102A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201610029402.3
申请日：2016-01-15
申请人： 清华大学深圳研究生院
IPC分类号： G01N21/71
CPC分类号： G01N21/718 , G01J3/443 , G01N21/952 , H01B3/28 , H01B3/46
摘要： 一种复合绝缘材料老化状态检测方法，包括以下步骤：S1、用脉冲激光束多次轰击待检测的复合绝缘材料表面上的选取点，产生等离子体，并测量每次轰击在复合绝缘材料上形成的轰击深度；S2、采集每次轰击时等离子体发射的光谱信息，由采集到的光谱信息提取复合绝缘材料的特定组成元素每次轰击时的光谱特性指标，其至少包括特征谱线的谱线强度特征；S3、确定特定组成元素的光谱特性指标随轰击深度的变化关系；S4、根据特定组成元素的光谱特性指标随轰击深度的变化关系，确定复合绝缘材料的老化状态信息，老化状态信息至少包括复合绝缘材料的老化深度信息。该方法可实现对复合材料老化状态快速、准确的检测，且避免以往所需的破坏性试验。
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公开(公告)号：CN106770070B
公开(公告)日：2018-01-16
申请号：CN201610994918.1
申请日：2016-11-11
申请人： 清华大学深圳研究生院
IPC分类号： G01N21/63
CPC分类号： G01N21/63
摘要： 本发明公开了一种绝缘子表面等值盐密测量方法及装置，包括以下步骤：S1，将脉冲激光光源聚焦于待检测的绝缘子的污秽表面，利用激光光源发出脉宽小于等于20ns的激光使得所述绝缘子表面的污秽物质被诱导形成等离子体，采集等离子体膨胀冷却过程中发射的光谱信息；S2，建立绝缘子表面污秽中常见可溶性盐中的各离子的密度与激光激发产生等离子体后的光谱特征之间的关系模型；S3，将步骤S1中采集的光谱信息输入步骤S2中的关系模型中，分析得到所述待检测的绝缘子表面的污秽物质的离子组成和各种离子的离子密度；S4，根据各种离子的离子密度计算污秽物质的等值盐密。本发明的测量方法及装置，不用停电取样，可实现污秽成分以及等值盐密的在线测量。
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公开(公告)号：CN105572102B
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201610029402.3
申请日：2016-01-15
申请人： 清华大学深圳研究生院
IPC分类号： G01N21/71
CPC分类号： G01N21/718 , G01J3/443 , G01N21/952 , H01B3/28 , H01B3/46
摘要： 一种复合绝缘材料老化状态检测方法，包括以下步骤：S1、用脉冲激光束多次轰击待检测的复合绝缘材料表面上的选取点，产生等离子体，并测量每次轰击在复合绝缘材料上形成的轰击深度；S2、采集每次轰击时等离子体发射的光谱信息，由采集到的光谱信息提取复合绝缘材料的特定组成元素每次轰击时的光谱特性指标，其至少包括特征谱线的谱线强度特征；S3、确定特定组成元素的光谱特性指标随轰击深度的变化关系；S4、根据特定组成元素的光谱特性指标随轰击深度的变化关系，确定复合绝缘材料的老化状态信息，老化状态信息至少包括复合绝缘材料的老化深度信息。该方法可实现对复合材料老化状态快速、准确的检测，且避免以往所需的破坏性试验。
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公开(公告)号：CN105352443A
公开(公告)日：2016-02-24
申请号：CN201510733835.2
申请日：2015-11-02
申请人： 清华大学深圳研究生院
IPC分类号： G01B11/06
摘要： 本发明公开了一种绝缘子RTV涂层厚度的测量方法，包括如下步骤：S1、用设定的脉冲激光对RTV涂层进行轰击，记录所述RTV涂层被击穿时激光的轰击次数x；S2、根据f(x)＝ax+b计算所述RTV涂层的厚度f(x)；其中，参数a和b通过如下实验步骤确定：用所述设定的脉冲激光对所述RTV涂层进行轰击，记录击穿的RTV涂层的厚度与对应激光轰击的次数；拟合曲线f(x)＝ax+b，得到所述参数a和b。不论绝缘子RTV涂层运行年限，只要在校核后通过测量激光的轰击次数就可以获得RTV涂层的厚度值，适宜于现场应用。
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公开(公告)号：CN106501237A
公开(公告)日：2017-03-15
申请号：CN201610930829.0
申请日：2016-10-31
申请人： 清华大学深圳研究生院
IPC分类号： G01N21/71
CPC分类号： G01N21/718
摘要： 一种复合绝缘材料表面硬度测试方法，包括以下步骤：S1、准备已测得其表面硬度的复合绝缘材料样品；S2、使用激光诱导击穿光谱方法(LIBS)，用脉冲激光光束照射所述复合绝缘材料样品的表面，捕捉该表面的激光等离子体光谱；S3、建立所述激光等离子体光谱中选定元素的离子线与原子线比值与表面硬度值的函数关系；S4、使用激光诱导击穿光谱方法，用脉冲激光光束照射待测复合绝缘材料的表面，捕捉该表面的激光等离子体光谱；S5、根据步骤S4得到激光等离子体光谱，基于离子线与原子线比值与表面硬度值的函数关系确定待测复合绝缘材料的表面硬度。利用本方法可以对复合绝缘材料进行远程、带电的现场测试，快速获得精确的复合绝缘材料表面硬度值。
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公开(公告)号：CN105251737B
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201510768064.0
申请日：2015-11-11
申请人： 清华大学深圳研究生院
摘要： 一种干式清除绝缘子老化RTV涂料的方法，包括以下步骤：(1)确定绝缘子的尺寸、形状和RTV涂层厚度、使用时间、以及RTV材料组成；(2)根据步骤(1)确定的参数，确定激光输出的清除功率密度阈值和损伤功率密度阈值，其中所述清除功率密度阈值为能够将待清除的RTV涂层清除的最小功率密度，所述损伤功率密度阈值为所述待清除的RTV涂层覆盖的绝缘子表面被激光辐射时能够承受的最大功率密度，超出该最大功率密度将损伤绝缘子表面；(3)按照步骤(2)确定的清除功率密度阈值和损伤功率密度阈值，调节激光器的功率设置，输出激光对绝缘子表面进行扫描。该方法可在不损坏绝缘子表面的前提下，高效便捷地清除绝缘子表面的老化RTV涂料。
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