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公开(公告)号：CN113344804A
公开(公告)日：2021-09-03
申请号：CN202110513024.7
申请日：2021-05-11
申请人： 湖北工业大学
摘要： 本发明提供了一种弱光图像增强模型的训练方法和弱光图像增强方法，弱光图像增强模型的训练方法包括：将正常光图像和弱光图像输入初始分解模块，得到正常光反射图像、正常光照明图像、弱光反射图像和弱光照明图像；将弱光反射图像和弱光照明图像输入初始颜色恢复模块得到颜色恢复图像；确定第一损失函数值、第二损失函数值和第三损失函数值；根据第一损失函数值和第二损失函数值训练初始分解模块，根据第三损失函数值训练初始颜色恢复模块。本发明中，训练后的分解模块和颜色恢复模块可以取到较好的输出结果，逐步恢复图像的细节特征和颜色信息，通过训练得到的弱光图像增强模型生成的弱光增强图像，在图像细节和颜色恢复上可以得到更好的结果。
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公开(公告)号：CN110274551A
公开(公告)日：2019-09-24
申请号：CN201910509716.7
申请日：2019-06-13
申请人： 湖北工业大学
IPC分类号： G01B11/24
摘要： 本发明提供一种基于白光零差干涉的高灵敏表面形貌测量系统，其包括白光光源(1)、第一透镜(2)、第二透镜(3)、第一分光镜(4)、第二分光镜(5)、参考镜(6)、被测物(7)、闭环PZT(8)、反射镜(9)、第三分光镜(10)、第一光电探测器(11)、第二光电探测器(12)、频谱分析仪(13)和计算机(14)。本发明结构简单，利用白光光谱很宽，相干长度短的特点，且干涉零级条纹具有较好的对比度，其光强值也明显大于其它条纹。一次干涉后是暗条纹或亮条纹，斜率为零。经过二次干涉(零差探测)，斜率达到最大，以此来提高灵敏度。其中使用的闭环PZT可起到反馈的作用，减小外界的干扰，具有重要的应用价值。
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公开(公告)号：CN109974617A
公开(公告)日：2019-07-05
申请号：CN201910258078.6
申请日：2019-04-01
申请人： 湖北工业大学
摘要： 本发明属于多波长干涉测量技术领域，公开了一种多波长干涉测量中光强一致性的控制方法，获得多组滤光片的测量电压值，根据测量电压值反馈控制光源驱动电流，进行光强一致性的初步控制；根据CCD采集的干涉灰度图像获得信息容量值，根据信息容量值反馈控制光源驱动电流，进行光强一致性的精细控制。本发明解决了现有技术中多波长干涉微表面形貌干涉测量系统中存在波长切换时光强不一致的问题，从源头提高多波长干涉测量的精度，能够极大地提高后续测量结果的精度和可靠性。
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公开(公告)号：CN113344804B
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN202110513024.7
申请日：2021-05-11
申请人： 湖北工业大学
摘要： 本发明提供了一种弱光图像增强模型的训练方法和弱光图像增强方法，弱光图像增强模型的训练方法包括：将正常光图像和弱光图像输入初始分解模块，得到正常光反射图像、正常光照明图像、弱光反射图像和弱光照明图像；将弱光反射图像和弱光照明图像输入初始颜色恢复模块得到颜色恢复图像；确定第一损失函数值、第二损失函数值和第三损失函数值；根据第一损失函数值和第二损失函数值训练初始分解模块，根据第三损失函数值训练初始颜色恢复模块。本发明中，训练后的分解模块和颜色恢复模块可以取到较好的输出结果，逐步恢复图像的细节特征和颜色信息，通过训练得到的弱光图像增强模型生成的弱光增强图像，在图像细节和颜色恢复上可以得到更好的结果。
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公开(公告)号：CN110274551B
公开(公告)日：2020-12-01
申请号：CN201910509716.7
申请日：2019-06-13
申请人： 湖北工业大学
IPC分类号： G01B11/24
摘要： 本发明提供一种基于白光零差干涉的高灵敏表面形貌测量系统，其包括白光光源(1)、第一透镜(2)、第二透镜(3)、第一分光镜(4)、第二分光镜(5)、参考镜(6)、被测物(7)、闭环PZT(8)、反射镜(9)、第三分光镜(10)、第一光电探测器(11)、第二光电探测器(12)、频谱分析仪(13)和计算机(14)。本发明结构简单，利用白光光谱很宽，相干长度短的特点，且干涉零级条纹具有较好的对比度，其光强值也明显大于其它条纹。一次干涉后是暗条纹或亮条纹，斜率为零。经过二次干涉(零差探测)，斜率达到最大，以此来提高灵敏度。其中使用的闭环PZT可起到反馈的作用，减小外界的干扰，具有重要的应用价值。
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公开(公告)号：CN108414984A
公开(公告)日：2018-08-17
申请号：CN201810040731.7
申请日：2018-01-16
申请人： 湖北工业大学
IPC分类号： G01S5/22
CPC分类号： G01S5/22
摘要： 本发明公开了一种基于二阶干涉的水下目标定位方法，将光学测量的二阶干涉理论应用到水声场探测、进行水下目标定位；本发明通过计算任意两个阵元输出信号的二阶相关函数，搜索声源信号相对阵元的位相(时间)延迟，得到声源到这两个阵元之间的绝对直线距离之差。对于一个多阵元的阵列，计算多个二阶相关函数的乘积，即可快速准确地搜索到声源的位置。本发明的定位方法不受限于“传感器阵列的阵元间距需要满足1/2波长的要求”，大大降低阵列设计和加工的要求；并且本发明在单个传感器阵元输出信噪比远小于1时仍然表现出良好的定位能力，有利于对远距离目标的探测定位。因此，本发明对水声传感器阵列的水下目标定位探测有着重要的应用价值。
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公开(公告)号：CN108414984B
公开(公告)日：2021-02-19
申请号：CN201810040731.7
申请日：2018-01-16
申请人： 湖北工业大学
IPC分类号： G01S5/22
摘要： 本发明公开了一种基于二阶干涉的水下目标定位方法，将光学测量的二阶干涉理论应用到水声场探测、进行水下目标定位；本发明通过计算任意两个阵元输出信号的二阶相关函数，搜索声源信号相对阵元的位相(时间)延迟，得到声源到这两个阵元之间的绝对直线距离之差。对于一个多阵元的阵列，计算多个二阶相关函数的乘积，即可快速准确地搜索到声源的位置。本发明的定位方法不受限于“传感器阵列的阵元间距需要满足1/2波长的要求”，大大降低阵列设计和加工的要求；并且本发明在单个传感器阵元输出信噪比远小于1时仍然表现出良好的定位能力，有利于对远距离目标的探测定位。因此，本发明对水声传感器阵列的水下目标定位探测有着重要的应用价值。
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