半导体器件及其制备方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117222305A

    公开(公告)日:2023-12-12

    申请号:CN202311316375.4

    申请日:2023-10-11

    Abstract: 本公开实施例提供一种半导体器件及其制备方法,其中,半导体器件包括:基底;第一电极层,位于基底上;第一电极层包括多个间隔分布的第一凸起结构;第一凸起结构的横截面积自顶面至底面逐渐增大;功能层,覆盖第一电极层和基底;第二电极层,位于功能层上;其中,在第一电极层和第二电极层的电场作用下,第一凸起结构的顶面与第二电极层之间能够形成导电通道。

    半导体结构的制备方法及半导体结构

    公开(公告)号:CN119252798A

    公开(公告)日:2025-01-03

    申请号:CN202411777712.4

    申请日:2024-12-04

    Abstract: 本公开实施例提供了一种半导体的制备方法及半导体结构,其中,所述方法包括:在衬底的第一表面上形成凹槽结构;依次形成第一阻挡层和第一钝化层,第一阻挡层覆盖凹槽结构的侧壁和底部,第一钝化层覆盖第一阻挡层位于凹槽结构的底部的部分;将第一阻挡层与凹槽底部接触的表面定义为预设表面。在凹槽结构中形成掩埋式电源轨;在衬底的第二表面上形成通孔结构,通孔结构暴露出第一阻挡层的预设表面;其中,第一表面与第二表面为衬底相对设置的两个表。形成第二钝化层,第二钝化层位于通孔结构的底部并覆盖至少部分预设表面;在通孔结构中填充第二导电材料以形成导电结构;执行热处理工艺,以在导电结构与掩埋式电源轨之间形成目标界面。

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