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公开(公告)号:CN109523599A
公开(公告)日:2019-03-26
申请号:CN201811450031.1
申请日:2018-11-30
Applicant: 燕山大学
IPC: G06T7/80
CPC classification number: G06T7/80
Abstract: 本发明公开一种透射电镜高分辨原子图像中矢量的标定方法及系统。该方法包括:获取从待分析材料的晶体方向采用透射电镜拍摄的高分辨原子图像;在高分辨原子图像中标记待分析材料的单晶胞和超晶胞;以同一原子作为起始点,将单晶胞和超晶胞叠加,得到叠加后的图像;确定晶向坐标系的横向坐标轴和纵向坐标轴;确定晶向坐标系的刻度点,得到标定后的晶向坐标系;将高分辨原子图像中待标定的矢量平移至标定后的晶向坐标系;根据待标定的矢量在标定后的晶向坐标系中横向坐标轴和纵向坐标轴的分量,获得待标定的矢量的晶向值。本发明操作过程简单易行,可快速测量出透射电镜高分辨原子像上的矢量值,且可测量高分辨原子像上任意矢量的晶向值。
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公开(公告)号:CN103418885B
公开(公告)日:2016-01-06
申请号:CN201310306021.1
申请日:2013-07-19
Applicant: 燕山大学
Abstract: 一种提高铁素体球墨铸铁表面硬度的方法,其主要是自制直径为4mm的低碳合金焊条,其焊层金属化学成分质量分数为:C0.12%~0.20%、Mn0.30%~0.60%、Cr0.50%~0.80%、Ni1.20%~1.30%、Si≦0.40%、S≦0.030%、P≦0.035%,其余为Fe。使用前将上述焊条在300~400℃下烘干1h,用电焊机采用160~220A电流将焊条在球墨铸铁表面堆焊厚度为1~2mm的堆焊层,空冷至室温,将球墨铸铁表面1~2mm的堆焊层磨掉,即获得球墨铸铁表面的熔合层。本发明工艺方法简单、成本低廉,质量稳定,球墨铸铁表面硬度为48~52HRC,较处理前提高了360%~390%。
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公开(公告)号:CN102660717A
公开(公告)日:2012-09-12
申请号:CN201210103810.0
申请日:2012-04-11
Applicant: 燕山大学
IPC: C22F1/043
Abstract: 一种提高铝硅合金硬度的方法,主要是将化学成分质量分数wt%为:硅4.0%~6.0%,铜.0%~2.0%,镁0.3~0.7%,锰0.2~0.7%,其余量为铝的铝硅合金放入电阻炉中,加热515~525℃,保温120~150min,出炉水冷;再将上述经过固溶处理的铝硅合金放在六面顶压机上,压力为1~3GPa,加热180~200℃,保温120~150min,断电保压自然冷却至室温。本发明工艺方法简单、操作方便、成本低廉、质量稳定,经本发明处理后铝硅合金的硬度有较大幅度的提高,其硬度与未经过处理的铝硅合金相比提高60~68%,与常规热处理的铝硅合金相比提高8~13%。
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公开(公告)号:CN109523599B
公开(公告)日:2021-01-15
申请号:CN201811450031.1
申请日:2018-11-30
Applicant: 燕山大学
IPC: G06T7/80
Abstract: 本发明公开一种透射电镜高分辨原子图像中矢量的标定方法及系统。该方法包括:获取从待分析材料的晶体方向采用透射电镜拍摄的高分辨原子图像;在高分辨原子图像中标记待分析材料的单晶胞和超晶胞;以同一原子作为起始点,将单晶胞和超晶胞叠加,得到叠加后的图像;确定晶向坐标系的横向坐标轴和纵向坐标轴;确定晶向坐标系的刻度点,得到标定后的晶向坐标系;将高分辨原子图像中待标定的矢量平移至标定后的晶向坐标系;根据待标定的矢量在标定后的晶向坐标系中横向坐标轴和纵向坐标轴的分量,获得待标定的矢量的晶向值。本发明操作过程简单易行,可快速测量出透射电镜高分辨原子像上的矢量值,且可测量高分辨原子像上任意矢量的晶向值。
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公开(公告)号:CN110986802A
公开(公告)日:2020-04-10
申请号:CN201911287503.0
申请日:2019-12-14
Applicant: 燕山大学
Abstract: 本发明提供一种透射电镜样品厚度的测量方法,包括如下步骤:步骤一、建立孪晶面的第一模型;步骤二、建立孪晶面的第二模型;步骤三、通过将第一模型和第二模型组合获得孪晶面的第三模型;步骤四、将透射电镜样品放入电镜后,不倾转样品,采集所检测区域的明场图像和暗场图像,通过明场像和暗场像相结合的方式测量出孪晶面的投影宽度;步骤五、将透射电镜样品沿着平行于孪晶面的晶带轴倾转角度,采集步骤四中所述孪晶面在该工况下的投影宽度;步骤六、将步骤四中和步骤五中测量出的孪晶面的投影宽度均代入第三模型中,确定检测区域的样品厚度。本发明可快速精确的测量出透射电镜所检测区域的样品厚度。
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公开(公告)号:CN105364415B
公开(公告)日:2017-08-29
申请号:CN201510809911.3
申请日:2015-11-20
Applicant: 燕山大学
Abstract: 一种球墨铸铁表层石墨球细化的方法,其主要是制备直径为4mm的堆焊焊条,其焊层金属化学成分质量分数为C 0.30%~0.50%、Si 1.0%~1.5%、Ni0.80%~1.00%、Mn 0.20%~0.40%、Re 0.01%~0.04%、P≦0.030%,S≦0.030%,其余为Fe。将上述焊条烘干后,用直流电焊机采用200~240A电流将焊条在球墨铸铁表面堆焊厚度为2~3mm的堆焊层,焊后空冷至室温,然后磨掉球墨铸铁表面上1~2mm的堆焊层,即可在球墨铸铁表层获得尺寸细小、圆整度较好、分布均匀且数量较多的石墨球。本发明方法简单、成本低廉、质量稳定,球墨铸铁表层获得的石墨球径尺寸约6~10μm,较该球墨铸铁中的平均石墨球径减小了150%~320%,单位面积上石墨球数量也明显增多。
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公开(公告)号:CN106802306A
公开(公告)日:2017-06-06
申请号:CN201710146128.2
申请日:2017-03-13
Applicant: 燕山大学
IPC: G01N23/20
CPC classification number: G01N23/20
Abstract: 一种在透射电子显微镜下快速精确测量小角晶界取向差的方法,其步骤为:采用透射电子显微镜双倾杆倾转样品,使得坐标系Ⅰ中晶粒Ⅰ的晶带轴处在正带轴位置,并采集晶粒Ⅰ此时的会聚束电子衍射花样;保持透射电子显微镜的相机常数L和会聚束衍射条件的参数不变,采集坐标系Ⅱ中晶粒Ⅱ的会聚束电子衍射花样;使用软件叠加所采集晶粒Ⅰ的菊池花样和晶粒Ⅱ的菊池花样;测量晶粒Ⅰ的菊池极与晶粒Ⅱ的菊池极的距离s,以及晶粒Ⅱ的菊池极相对晶粒Ⅰ的菊池极垂直于图面的转角γ;计算θ角,根据菊池线的几何特性,θ=arctan(s/L)=s/L;采用公式(6)cosΘ=(cosγ+cosγcosθ+cosθ‑1)/2计算晶粒Ⅰ与晶粒Ⅱ的取向差。本发明不需要加装硬件和软件,可使用普通透射电子显微镜测量取向差。
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公开(公告)号:CN105624596A
公开(公告)日:2016-06-01
申请号:CN201610142701.8
申请日:2016-03-14
Applicant: 燕山大学
Abstract: 一种提高TC6钛合金高温抗压性能的方法,其步骤是将TC6钛合金加热至980℃~1020℃,保温20~40min后,快速浸入液氮中(-196℃)停留10~30分钟。本发明工艺方法简单、操作方便、质量稳定,经本发明处理后TC6钛合金具有较高的高温抗压强度,其高温抗压强度较同温度处理前提高了10%以上。
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公开(公告)号:CN110986802B
公开(公告)日:2021-01-15
申请号:CN201911287503.0
申请日:2019-12-14
Applicant: 燕山大学
Abstract: 本发明提供一种透射电镜样品厚度的测量方法,包括如下步骤:步骤一、建立孪晶面的第一模型;步骤二、建立孪晶面的第二模型;步骤三、通过将第一模型和第二模型组合获得孪晶面的第三模型;步骤四、将透射电镜样品放入电镜后,不倾转样品,采集所检测区域的明场图像和暗场图像,通过明场像和暗场像相结合的方式测量出孪晶面的投影宽度;步骤五、将透射电镜样品沿着平行于孪晶面的晶带轴倾转角度,采集步骤四中所述孪晶面在该工况下的投影宽度;步骤六、将步骤四中和步骤五中测量出的孪晶面的投影宽度均代入第三模型中,确定检测区域的样品厚度。本发明可快速精确的测量出透射电镜所检测区域的样品厚度。
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