公开(公告)号：CN1849519A

公开(公告)日：2006-10-18

申请号：CN200480026143.4

申请日：2004-09-10

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 佐藤浩

IPC分类号： G01R31/28 ,  G06F1/04

CPC分类号： G06F11/24 ,  G01R31/31908

摘要： 本发明提供一种写入控制电路，为一种将从多个主计算机所接收的多个命令数据写入多个寄存器部的写入控制电路。该写入控制电路包括多个要求信号保存部、主选择部与写入部。要求信号保存部与上述这些主计算机对应设置，并保存来自对应的主计算机的写入要求信号。主选择部依次选择多个要求信号保存部，且接收并输出所选择的要求信号保存部保存的保存数据。写入部接收主选择部输出的保存数据、应写入寄存器部的命令数据、及用于寄存器部指定数据，其中寄存器部指定数据是用来指定一个用来指定写入命令数据的寄存器部。当写入部所接收的保存数据为写入要求信号时，向由寄存器部指定数据所指定的寄存器部写入命令数据。

公开(公告)号：CN100485403C

公开(公告)日：2009-05-06

申请号：CN200480024340.2

申请日：2004-09-10

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 佐藤浩

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/31937 ,  G01R31/3191

摘要： 一种测试装置，具有测试模块、主信号供给部，及从信号供给部。测试模块供给至电子元件。主信号供给部依照被给予的时序信号的相位而生成第一时序信号，并将其供给到测试模块。从信号供给部接收自主信号供给部而来的时序信号，生成第二时序信号并供给到测试模块，此第二时序信号用以控制测试模块提供给电子元件的测试图案。从信号供给部具有相位调整电路，其通过延迟自主信号供给部接收的时序信号，使主信号供给部输出第一时序信号的时序，与从信号供给部输出第二时序信号的时序约略相同。

公开(公告)号：CN100434927C

公开(公告)日：2008-11-19

申请号：CN200480026143.4

申请日：2004-09-10

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 佐藤浩

IPC分类号： G01R31/28 ,  G06F1/04

CPC分类号： G06F11/24 ,  G01R31/31908

摘要： 本发明提供一种写入控制电路，为一种将从多个主计算机所接收的多个命令数据写入多个寄存器部的写入控制电路。该写入控制电路包括多个要求信号保存部、主选择部与写入部。要求信号保存部与上述这些主计算机对应设置，并保存来自对应的主计算机的写入要求信号。主选择部依次选择多个要求信号保存部，且接收并输出所选择的要求信号保存部保存的保存数据。写入部接收主选择部输出的保存数据、应写入寄存器部的命令数据、及用于寄存器部指定数据，其中寄存器部指定数据是用来指定一个用来指定写入命令数据的寄存器部。当写入部所接收的保存数据为写入要求信号时，向由寄存器部指定数据所指定的寄存器部写入命令数据。

公开(公告)号：CN1842715A

公开(公告)日：2006-10-04

申请号：CN200480024340.2

申请日：2004-09-10

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 佐藤浩

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/31937 ,  G01R31/3191

摘要： 一种测试装置，具有测试模块、主信号供给部，及从信号供给部。测试模块供给至电子元件。主信号供给部依照被给予的时序信号的相位而生成第一时序信号，并将其供给到测试模块。从信号供给部接收自主信号供给部而来的时序信号，生成第二时序信号并供给到测试模块，此第二时序信号用以控制测试模块提供给电子元件的测试图案。从信号供给部具有相位调整电路，其通过延迟自主信号供给部接收的时序信号，使主信号供给部输出第一时序信号的时序，与从信号供给部输出第二时序信号的时序约略相同。