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公开(公告)号：CN103207327B
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201310004454.1
申请日：2013-01-07
申请人： 爱德万测试株式会社
IPC分类号： G01R31/00
CPC分类号： G01R31/2891 , G01R31/2867 , G01R31/2874 , G01R31/2893
摘要： 本发明提供能够缩短测试时间的处理装置。是将多个被测试器件搬送到测试用插座上的处理装置，其具有：测试部，设置有插座；加热部，搬送在表面上载置了多个被测试器件的托盘，将多个被测试器件的温度控制成预先规定的测试温度后，将托盘搬送到测试部；器件摄像部，其在加热部内，沿互不平行的第1方向与第2方向两个方向，相对于托盘表面做相对的移动，来拍摄各个被测试器件的图像；以及位置调整部，其基于器件摄像部拍摄到的多个被测试器件的图像，调整多个被测试器件对插座的位置。
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公开(公告)号：CN104950242B
公开(公告)日：2017-10-17
申请号：CN201410495944.0
申请日：2014-09-24
申请人： 爱德万测试株式会社
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2891 , G01C11/00 , G01R1/0441 , G01R31/2893
摘要： 本发明提供一种分选装置及测试装置，其中的分选装置是将被测器件运送到测试用插座分选装置，其中包括：插座嵌合单元，在将保持被测器件的器件保持器嵌合到测试用插座之前，与测试用插座相嵌合；测试用插座位置检测部，检测在测试用插座与插座嵌合单元相嵌合的状态中插座嵌合单元相对于测试用插座的相对位置；执行器，基于检测到的插座嵌合单元的相对位置，调整器件保持器上的被测器件的位置；运送部，运送被测器件的位置被调整后的器件保持器并使其与测试用插座相嵌合。使被测器件与测试用插座准确电连接。
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公开(公告)号：CN103207329B
公开(公告)日：2015-07-29
申请号：CN201310005092.8
申请日：2013-01-07
申请人： 爱德万测试株式会社
IPC分类号： G01R31/00
CPC分类号： G01R1/02 , G01R31/01 , G01R31/2867 , G01R31/2874 , G01R31/2891 , G01R31/2893
摘要： 本发明提供能够缩短测试时间的处理装置。是将多个被测试器件搬送到测试用插座上的处理装置，具有：测试部，设置有插座；加热部，搬送在表面上载置多个被测试器件的托盘，将多个被测试器件的温度控制成预先规定的测试温度，将托盘搬送到测试部；器件摄像部，其在加热部内，具有沿第1方向与被测试器件同数目排列的多个摄像元件，将多个摄像元件沿与第1方向不平行的第2方向，相对于托盘的表面作相对的移动，来拍摄各个被测试器件的图像；以及位置调整部，其基于器件摄像部拍摄到的各个被测试器件的图像，调整被测试器件对插座的位置。
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公开(公告)号：CN104950245A
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201410497125.X
申请日：2014-09-25
申请人： 爱德万测试株式会社
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2891 , G01C11/00 , G01R1/0441 , G01R31/2893
摘要： 本发明提供一种分选装置及测试装置，其中的分选装置是将被测器件运送到测试用插座分选装置，其中包括：调整用插座，在将保持被测器件的器件保持器嵌合到测试用插座之前，与器件保持器嵌合；调整用插座位置检测部，检测在调整用插座与器件保持器相嵌合的状态中被测器件相对于调整用插座的相对位置；执行器，基于检测到的被测器件的相对位置，调整器件保持器上的被测器件的位置；运送部，运送被测器件的位置被调整后的器件保持器并使其与测试用插座相嵌合。使被测器件与测试用插座准确电连接。
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公开(公告)号：CN104950242A
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201410495944.0
申请日：2014-09-24
申请人： 爱德万测试株式会社
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2891 , G01C11/00 , G01R1/0441 , G01R31/2893
摘要： 本发明提供一种分选装置及测试装置，其中的分选装置是将被测器件运送到测试用插座分选装置，其中包括：插座嵌合单元，在将保持被测器件的器件保持器嵌合到测试用插座之前，与测试用插座相嵌合；测试用插座位置检测部，检测在测试用插座与插座嵌合单元相嵌合的状态中插座嵌合单元相对于测试用插座的相对位置；执行器，基于检测到的插座嵌合单元的相对位置，调整器件保持器上的被测器件的位置；运送部，运送被测器件的位置被调整后的器件保持器并使其与测试用插座相嵌合。使被测器件与测试用插座准确电连接。
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公开(公告)号：CN104941927A
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201410495997.2
申请日：2014-09-24
申请人： 爱德万测试株式会社
CPC分类号： G01R31/2891 , G01C11/00 , G01R1/0441 , G01R31/2893
摘要： 本发明提供一种分选装置、分选装置的调整方法及测试装置，其中的分选装置是将被测器件运送到测试用插座分选装置，其中包括：执行器，在将保持被测器件的器件保持器嵌合于测试用插座之前与器件保持器相嵌合，调整器件保持器上的被测器件的位置；以及执行器调整部，将执行器嵌合于执行器嵌合单元，调整执行器的驱动量。调整执行器的位置从而提高被测器件的位置精度。
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公开(公告)号：CN103207327A
公开(公告)日：2013-07-17
申请号：CN201310004454.1
申请日：2013-01-07
申请人： 爱德万测试株式会社
IPC分类号： G01R31/00
CPC分类号： G01R31/2891 , G01R31/2867 , G01R31/2874 , G01R31/2893
摘要： 本发明提供能够缩短测试时间的处理装置。是将多个被测试器件搬送到测试用插座上的处理装置，其具有：测试部，设置有插座；加热部，搬送在表面上载置了多个被测试器件的托盘，将多个被测试器件的温度控制成预先规定的测试温度后，将托盘搬送到测试部；器件摄像部，其在加热部内，沿互不平行的第1方向与第2方向两个方向，相对于托盘表面做相对的移动，来拍摄各个被测试器件的图像；以及位置调整部，其基于器件摄像部拍摄到的多个被测试器件的图像，调整多个被测试器件对插座的位置。
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公开(公告)号：CN104950245B
公开(公告)日：2017-08-11
申请号：CN201410497125.X
申请日：2014-09-25
申请人： 爱德万测试株式会社
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2891 , G01C11/00 , G01R1/0441 , G01R31/2893
摘要： 本发明提供一种分选装置及测试装置，其中的分选装置是将被测器件运送到测试用插座分选装置，其中包括：调整用插座，在将保持被测器件的器件保持器嵌合到测试用插座之前，与器件保持器嵌合；调整用插座位置检测部，检测在调整用插座与器件保持器相嵌合的状态中被测器件相对于调整用插座的相对位置；执行器，基于检测到的被测器件的相对位置，调整器件保持器上的被测器件的位置；运送部，运送被测器件的位置被调整后的器件保持器并使其与测试用插座相嵌合。使被测器件与测试用插座准确电连接。
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公开(公告)号：CN104941927B
公开(公告)日：2017-08-01
申请号：CN201410495997.2
申请日：2014-09-24
申请人： 爱德万测试株式会社
CPC分类号： G01R31/2891 , G01C11/00 , G01R1/0441 , G01R31/2893
摘要： 本发明提供一种分选装置、分选装置的调整方法及测试装置，其中的分选装置是将被测器件运送到测试用插座分选装置，其中包括：执行器，在将保持被测器件的器件保持器嵌合于测试用插座之前与器件保持器相嵌合，调整器件保持器上的被测器件的位置；以及执行器调整部，将执行器嵌合于执行器嵌合单元，调整执行器的驱动量。调整执行器的位置从而提高被测器件的位置精度。
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公开(公告)号：CN103207329A
公开(公告)日：2013-07-17
申请号：CN201310005092.8
申请日：2013-01-07
申请人： 爱德万测试株式会社
IPC分类号： G01R31/00
CPC分类号： G01R1/02 , G01R31/01 , G01R31/2867 , G01R31/2874 , G01R31/2891 , G01R31/2893
摘要： 本发明提供能够缩短测试时间的处理装置。是将多个被测试器件搬送到测试用插座上的处理装置，具有：测试部，设置有插座；加热部，搬送在表面上载置多个被测试器件的托盘，将多个被测试器件的温度控制成预先规定的测试温度，将托盘搬送到测试部；器件摄像部，其在加热部内，具有沿第1方向与被测试器件同数目排列的多个摄像元件，将多个摄像元件沿与第1方向不平行的第2方向，相对于托盘的表面作相对的移动，来拍摄各个被测试器件的图像；以及位置调整部，其基于器件摄像部拍摄到的各个被测试器件的图像，调整被测试器件对插座的位置。
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