公开(公告)号：CN102346236B

公开(公告)日：2013-06-05

申请号：CN201110166501.3

申请日：2011-06-21

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 詹惠琴 ,  刘凤伟 ,  古军 ,  古天祥 ,  温晓佩 ,  王敏 ,  刘田踪

IPC: G01R31/317

Abstract: 本发明公开了一种数字集成电路时间参数测量系统，通道电路单元将待测信号IN转换为时间间隔开始信号Start和停止信号Stop，以及脉冲信号RStart和RStop。然后将此四个信号分别提供给时间精测单元和时间粗测单元进行测量。其中，时间精测单元由多级延迟线和校准单元组成，用于待测信号上升沿陡峭情况下的测量。时间粗测单元由抖动屏蔽电路和工作频率互补的计数器1和计数器2组成，用于待测信号上升沿缓慢情况下的测量。系统不仅克服了现有技术高精度数字集成电路时间参数测量系统分辨率提高的困难，而且解决了通道电路比较器输出信号抖动，导致时间参数测量系统测量带宽受限的技术难点。

公开(公告)号：CN102346236A

公开(公告)日：2012-02-08

申请号：CN201110166501.3

申请日：2011-06-21

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 詹惠琴 ,  刘凤伟 ,  古军 ,  古天祥 ,  温晓佩 ,  王敏 ,  刘田踪

IPC: G01R31/317

Abstract: 本发明公开了一种数字集成电路时间参数测量系统，通道电路单元将待测信号IN转换为时间间隔开始信号Start和停止信号Stop，以及脉冲信号RStart和RStop。然后将此四个信号分别提供给时间精测单元和时间粗测单元进行测量。其中，时间精测单元由多级延迟线和校准单元组成，用于待测信号上升沿陡峭情况下的测量。时间粗测单元由抖动屏蔽电路和工作频率互补的计数器1和计数器2组成，用于待测信号上升沿缓慢情况下的测量。系统不仅克服了现有技术高精度数字集成电路时间参数测量系统分辨率提高的困难，而且解决了通道电路比较器输出信号抖动，导致时间参数测量系统测量带宽受限的技术难点。