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公开(公告)号：CN119727323A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411556180.1
申请日：2024-11-04
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种磁场生成线圈的驱动信号产生电路，包括直流电流施加及反馈电路和变压器交流耦合电路两个部分，将用于产生静磁场的直流电流施加及反馈电路与用于产生交变磁场的变压器交流耦合电路进行组合设计，并创新地通过变压器耦合的方式在磁场产生线圈上将交流分量叠加到直流分量上，即在控制静磁场加交变磁场时将静磁场和交变磁场分开控制，即分别控制磁场产生线圈上的直流电流与交流电流以实现交直流分开，以稳定控制交流、直流电流的效果，以产生稳定静磁场与交流磁场。实验证明，本发明能够为磁场产生线圈提供两个驱动源，一个为50kHz、50mA的交流电流，一个为20mA直流电流，实现了施加在磁场产生线圈上的直流电流波动小于5uA(实际峰峰值为1.3uA)的稳定直流电流驱动，减小交流电流对直流电流影响。
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公开(公告)号：CN110111351B
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN201910389276.6
申请日：2019-05-10
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种融合RGBD多模态信息的行人轮廓跟踪方法，构建包含RGB目标分割卷积网络模块、Depth目标分割卷积网络模块、特征图叠加模块、卷积模块和置信图融合模块的行人目标置信图获取模型，采用训练样本对行人目标置信图获取模型进行训练，在实际应用时，将RGB图像与Depth图像分别输入行人目标置信图，将得到的融合置信图作为引导主动轮廓进化的外部能量来获取目标轮廓。本发明引入了Depth图像作为输入，可以有效提高在背景光线不足或目标表观与背景表观相似的跟踪场景下的行人轮廓跟踪效果。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107884414B
公开(公告)日：2019-12-27
申请号：CN201711071265.0
申请日：2017-11-03
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种剔除灰尘影响的镜面物体表面缺陷检测系统及方法，属于光学成像技术领域。本发明在传统基于调制度分析原理的斜投斜拍式检测系统中引入检偏装置，基于线偏振结构光经灰尘散射发生偏振态改变的原理，实现了识别镜面物体的表面灰尘信息，故而通过与缺陷及灰尘分布信息图对比分析，即可得到剔除灰尘影响的待测镜面物体表面缺陷信息。本发明检测系统结构紧凑，克服了传统检测需要大量人工检测的局限性；避免了复杂的标定过程，也无需积分重建待测物体的高度信息，避免了积分算法带来的误差；同时，解决了传统基于调制度原理的检测系统存在点缺陷与灰尘点难以区分的问题；因此本发明检测系统和检测方法具有准确、简单、快速和实用的优势。
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公开(公告)号：CN109141224B
公开(公告)日：2020-05-22
申请号：CN201811166494.5
申请日：2018-10-08
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 一种基于结构光的干涉反射式光学薄膜显微测量方法，属于光学成像技术领域。包括如下步骤：步骤一、利用结构光作为光源，将结构光通过显微物镜后照射在待测样品表面，待测样品包括透明基底和光学薄膜，光学薄膜包括多个光学膜层，结构光通过待测样品的透明基底后在光学薄膜的多层光学膜层发生反射，所有光学膜层的反射光形成多光束干涉并在透明基底表面形成干涉图样，通过调节显微物镜与待测样品之间的距离在透明基底表面形成清晰的干涉图样；步骤二、拍摄透明基底表面的干涉图样经过显微物镜放大后的变形干涉图样，根据采集的变形干涉图样中各处的光强信息确定光学薄膜对应位置的膜层数量或表面形貌。本发明准确、简单、快速且适用范围广。
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公开(公告)号：CN110111351A
公开(公告)日：2019-08-09
申请号：CN201910389276.6
申请日：2019-05-10
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种融合RGBD多模态信息的行人轮廓跟踪方法，构建包含RGB目标分割卷积网络模块、Depth目标分割卷积网络模块、特征图叠加模块、卷积模块和置信图融合模块的行人目标置信图获取模型，采用训练样本对行人目标置信图获取模型进行训练，在实际应用时，将RGB图像与Depth图像分别输入行人目标置信图，将得到的融合置信图作为引导主动轮廓进化的外部能量来获取目标轮廓。本发明引入了Depth图像作为输入，可以有效提高在背景光线不足或目标表观与背景表观相似的跟踪场景下的行人轮廓跟踪效果。
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公开(公告)号：CN109141224A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201811166494.5
申请日：2018-10-08
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 一种基于结构光的干涉反射式光学薄膜显微测量方法，属于光学成像技术领域。包括如下步骤：步骤一、利用结构光作为光源，将结构光通过显微物镜后照射在待测样品表面，待测样品包括透明基底和光学薄膜，光学薄膜包括多个光学膜层，结构光通过待测样品的透明基底后在光学薄膜的多层光学膜层发生反射，所有光学膜层的反射光形成多光束干涉并在透明基底表面形成干涉图样，通过调节显微物镜与待测样品之间的距离在透明基底表面形成清晰的干涉图样；步骤二、拍摄透明基底表面的干涉图样经过显微物镜放大后的变形干涉图样，根据采集的变形干涉图样中各处的光强信息确定光学薄膜对应位置的膜层数量或表面形貌。本发明准确、简单、快速且适用范围广。
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公开(公告)号：CN107884414A
公开(公告)日：2018-04-06
申请号：CN201711071265.0
申请日：2017-11-03
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种剔除灰尘影响的镜面物体表面缺陷检测系统及方法，属于光学成像技术领域。本发明在传统基于调制度分析原理的斜投斜拍式检测系统中引入检偏装置，基于线偏振结构光经灰尘散射发生偏振态改变的原理，实现了识别镜面物体的表面灰尘信息，故而通过与缺陷及灰尘分布信息图对比分析，即可得到剔除灰尘影响的待测镜面物体表面缺陷信息。本发明检测系统结构紧凑，克服了传统检测需要大量人工检测的局限性；避免了复杂的标定过程，也无需积分重建待测物体的高度信息，避免了积分算法带来的误差；同时，解决了传统基于调制度原理的检测系统存在点缺陷与灰尘点难以区分的问题；因此本发明检测系统和检测方法具有准确、简单、快速和实用的优势。
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