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公开(公告)号：CN113759234A
公开(公告)日：2021-12-07
申请号：CN202111046387.0
申请日：2021-09-02
申请人： 电子科技大学
摘要： 一种光电探测器芯片频率响应的测试装置与方法，属于光电子技术领域，旨在提供一种光电探测器芯片频率响应测试的方法。本发明利用光学频率梳产生的相干光学梳状谱信号，输入到电光调制器中经微波网络分析模块信号源输出的扫频微波信号调制，调制后的光信号被光耦合到待测光电探测器芯片中进行光电转换，光电转换得到的电信号被微波网络分析模块接收机探测，通过分析探测到的电信号就能得到只包含光电探测器芯片频率响应和微波探针响应的联合响应。随后，进行微波参考面校准、微波功率校准和终端反射系数测试以获得计算微波探针响应所需的各项参数，由此计算得到微波探针的响应。最后，从联合响应中扣减微波探针的响应就可以得到待测光电探测器芯片的频率响应。本方法具备光电探测器裸芯片测试能力，无需进行额外的匹配封装就可以实现光电探测器芯片频率响应测试。
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公开(公告)号：CN114414993B
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202210061300.5
申请日：2022-01-19
申请人： 电子科技大学
摘要： 一种电光强度调制器芯片频率响应测试的方法，属于光电子技术领域，旨在提供可以实现电光强度调制器芯片本征频率响应测试的方法。本发明利用光学频率梳产生的相干光学梳状谱信号，输入到待测电光强度调制器芯片中，同时微波网络分析模块信号源输出的扫频微波信号经微波探针加载到待测电光强度调制器芯片上对光学频率梳进行调制，调制后的光信号被送入光电探测器中进行光电转换，光电转换得到的电信号被微波网络分析模块的接收机探测，通过分析探测到的低频电信号就能得到只包含微波探针响应和待测电光强度调制器响应的联合响应。随后，进行微波参考面校准、微波功率校准和终端反射系数测试，获得计算微波探针响应所需的各项参数，由此计算得到微波探针的响应。最后，从联合响应中扣减微波探针的响应就可以得到待测电光强度调制器芯片的相对电光频率响应。另外，针对马赫‑曾德尔型电光强度调制器芯片测试，功率校准后还可以获得输入到调制器的微波功率值，由此可以计算出调制器的半波电压。本方法具备电光强度调制器裸芯片测试的能力，无需进行额外的外部封装就可以实现电光强度调制器芯片的频率响应特性测试。
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公开(公告)号：CN114414993A
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202210061300.5
申请日：2022-01-19
申请人： 电子科技大学
摘要： 一种电光强度调制器芯片频率响应的测试装置与方法，属于光电子技术领域，旨在实现电光强度调制器裸芯片本征频率响应测试。本发明利用光学频率梳发生器产生的脉冲光信号对微波信号源输出的扫频微波信号进行采样下变频，采样后的光信号被光电探测器探测，并被微波网络分析模块的接收机接收测量，通过分析接收到的电信号就能得到只包含微波探针响应和待测电光强度调制器响应的联合响应。随后，进行微波校准和待测芯片反射系数测试，获得相关的参数并计算出微波探针的响应。最后，从联合响应中扣减微波探针的响应得到待测芯片的相对电光频率响应。另外，微波校准后还可以追踪被芯片吸收的微波功率，由此计算出电光调制器的绝对电光频率响应。
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公开(公告)号：CN114609437A
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN202210290414.7
申请日：2022-03-23
申请人： 电子科技大学
IPC分类号： G01R21/00
摘要： 本发明提供了一种微波负载的吸收功率的测试方法，属于微波技术领域。目的在于克服目前难以精确测量微波源工作状态下的反射系数，而缺乏精确测量微波负载吸收功率的难题。本发明将通过在微波源后级联高隔离度器件形成一个等效源结构。测量高隔离度器件的反向反射系数，就可以近似得到微波源工作状态下等效源系统的反射系数，误差极小。进而实现了对于微波负载实际吸收功率的精确测试。本方法通过微波源级联一个高隔离度器件的测试结构，建立完善的微波等效源系统信号传输模型，精确地测试微波负载的吸收功率，可用于微波测试系统中高频器件的表征，具有广泛的应用价值。
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公开(公告)号：CN113759234B
公开(公告)日：2022-12-09
申请号：CN202111046387.0
申请日：2021-09-02
申请人： 电子科技大学
摘要： 一种光电探测器芯片频率响应的测试方法，属于光电子技术领域。本发明利用光学频率梳产生的相干光学梳状谱信号，输入到电光调制器中经微波网络分析模块信号源输出的扫频微波信号调制，调制后的光信号被光耦合到待测光电探测器芯片中进行光电转换，光电转换得到的电信号被微波网络分析模块接收机探测，通过分析探测到的电信号就能得到只包含光电探测器芯片频率响应和微波探针响应的联合响应。随后，进行微波参考面校准、微波功率校准和终端反射系数测试以获得计算微波探针响应所需的各项参数，由此计算得到微波探针的响应。最后，从联合响应中扣减微波探针的响应就可以得到待测光电探测器芯片的频率响应。本方法具备光电探测器裸芯片测试能力，无需进行额外的匹配封装就可以实现光电探测器芯片频率响应测试。
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