公开(公告)号：CN119645875A

公开(公告)日：2025-03-18

申请号：CN202411859310.9

申请日：2024-12-17

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 刘震 ,  汪静元 ,  程玉华 ,  林义东 ,  李琪 ,  王敏 ,  邱根 ,  米金华 ,  周秀云 ,  龙兵

IPC: G06F11/3668 ,  G06F17/16 ,  G06F18/2415 ,  G06N3/006 ,  G06N5/01

Abstract: 本发明公开了一种基于序贯‑并行测试模式的复杂系统最优测试策略生成方法，首先构建故障测试模型，然后划分故障概率分布类别以及测试时间分布类别，在此基础上，利用启发函数对故障集合不断拓展生成复杂系统最优测试策略即生成最优的序贯‑并行测试策略(SPTS,Sequential‑Parallel Test Strategy)，其中，启发函数由双层感知器拟合，双层感知器的权重矩阵集合由粒子群算法迭代确定。本发明在测试流程中动态调整测试序列，平衡测试成本与准确度，提升复杂系统故障诊断的效率与精确性；与此同时，本发明通过建立混合分布模型，引入动态代价评估机制，将测试对待拓展节点的分割能力纳入判断依据，实现了对不同故障分布的最优测试策略生成，进一步提高了故障诊断的速度与准确度，确保在复杂测试环境下的高效故障隔离与诊断。