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公开(公告)号:CN109828023A
公开(公告)日:2019-05-31
申请号:CN201910249083.0
申请日:2019-03-29
Applicant: 电子科技大学 , 电子科技大学广东电子信息工程研究院
IPC: G01N27/90
Abstract: 本发明公开一种基于涡流成像的金属构件缺陷定量检测方法与装置,针对现有的涡流检测,无法实现对缺陷位置、宽度和深度的同时定量检测,且特征信号受噪声干扰严重,使得缺陷定量检测的精度不高的问题;本发明首先提取金属构件上不同扫描位置点的差分峰值特征信号;然后将提取的差分峰值特征信号作为涡流成像像素点,对缺陷进行涡流成像;其次根据得到的涡流成像获知缺陷区域;再次确定缺陷区域内的步长数量;最后根据扫描步长与得到的缺陷区域的步长数量,得到缺陷区域的宽度;当缺陷宽度确定后,根据缺陷深度反演计算模型,得到缺陷深度;本发明的方法及装置无需复杂的图像处理技术,简化了处理步骤。
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公开(公告)号:CN108663589B
公开(公告)日:2019-07-16
申请号:CN201810447308.9
申请日:2018-05-11
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开一种点源辐射场对带孔无限大屏蔽层内线缆干扰的计算方法,应用于电磁干扰领域,具有算法简洁、结果准确、效率高等优点,本发明通过将线缆上的电压波传播通道与空间电磁场传播通道以信号管道进行表示,将具有能量反射的位置以节点进行表示,建立反映系统电磁能量流动情况的信号流图,并采用磁流元辐射代替小孔透射,建立整个系统信号管道上的传播方程以及所有节点上的散射方程,综合得到系统电磁干扰的扩展BLT(Baum‑Liu‑Tesche)方程,并对扩展BLT方程进行求解得到线缆上的干扰强度,实现对点源辐射场透过带孔无限大屏蔽层耦合到传输线的电磁干扰的准确计算,本发明方法有效降低对计算资源的依赖并提高效率。
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公开(公告)号:CN108663589A
公开(公告)日:2018-10-16
申请号:CN201810447308.9
申请日:2018-05-11
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/001
Abstract: 本发明公开一种点源辐射场对带孔无限大屏蔽层内线缆干扰的计算方法,应用于电磁干扰领域,具有算法简洁、结果准确、效率高等优点,本发明通过将线缆上的电压波传播通道与空间电磁场传播通道以信号管道进行表示,将具有能量反射的位置以节点进行表示,建立反映系统电磁能量流动情况的信号流图,并采用磁流元辐射代替小孔透射,建立整个系统信号管道上的传播方程以及所有节点上的散射方程,综合得到系统电磁干扰的扩展BLT(Baum-Liu-Tesche)方程,并对扩展BLT方程进行求解得到线缆上的干扰强度,实现对点源辐射场透过带孔无限大屏蔽层耦合到传输线的电磁干扰的准确计算,本发明方法有效降低对计算资源的依赖并提高效率。
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公开(公告)号:CN115113128B
公开(公告)日:2024-09-24
申请号:CN202210965677.3
申请日:2022-08-12
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开了一种电磁场近场探头校准补偿方法,首先在测量环境下记录电磁场近场探头接收到的环境噪声数据,将电磁场探头放置在校准件或已知磁场分布的电子件上方固定位置,记录电磁场近场探头接收到的数据,根据探头结构建立探头仿真模型,建立校准件的仿真模型,在全波仿真软件中,将探头模型放置在校准件模型上方固定位置,记录探头端口接收到的数据,使用全波仿真软件或解析方法,单独计算校准件在固定位置的电场或磁场数据,考虑测量器件的传输损耗、环境噪声、探头自身对电磁场的扰动三个因素,对探头进行校准与补偿。本发明的方法适用于多种测量仪器,受校准件的限制少,提高了电磁场近场探头测量的精确度,可广泛用于电磁场近场测量领域。
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公开(公告)号:CN112464602B
公开(公告)日:2022-10-11
申请号:CN202011410609.8
申请日:2020-12-03
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/367 , G06F30/27 , G06N3/00 , G06F111/06
Abstract: 本发明公开一种多谐振点电阻及电感的高频SPICE模型建立方法,应用于电子元器件建模仿真领域,针对现有技术中存在的不能精确地建立实际的多谐振点电感、多谐振点电阻的高频模型的问题;本发明首先通过阻抗分析仪测试,获得所需要建立模型的电阻或电感的阻抗曲线的幅频数据、相频数据;然后根据得到的幅频数据、相频数据,建立等效电路模型;根据建立的等效电路模型,得到阻抗的幅频表达式;根据幅频数据、相频数据以及幅频表达式,基于最小二乘法和粒子群智能优化算法的非线性拟合;计算等效电路模型的电路参数;最后将电路参数与对应的等效电路模型封装为SPICE模型。
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公开(公告)号:CN113033059A
公开(公告)日:2021-06-25
申请号:CN202110429232.9
申请日:2021-04-21
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/23 , G06F111/10 , G06F113/04
Abstract: 本发明公开了一种弯曲线缆的辐照感应电流计算方法。本发明的方法根据Agrawal模型,将空间任意弯曲线缆均匀分段,利用链参数矩阵分别对线上分布电压源与两端的集总电压源在负载处产生的感应电流进行求解,最后叠加得到在负载处的总感应电流。本发明的方法通过对线缆分段来拟合实际的空间弯曲线缆,由于线缆分段每段的长度都远小于入射平面波的波长,因此拟合的精度很高;同时该方法基于Agrawal传输线理论,将入射平面波简化为电路中的电压源,简化了场线耦合物理模型的分析,避免了数值计算方法在空间中的网格划分过程,简化了计算过程,占用更少的计算资源,且计算效率更高。
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公开(公告)号:CN118070725A
公开(公告)日:2024-05-24
申请号:CN202410211026.4
申请日:2024-02-27
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/36 , G06F30/39 , G06F119/06
Abstract: 本发明公开一种屏蔽线缆高频电磁辐射的计算方法,应用于屏蔽线缆设计领域,针对电磁辐射问题已成为导致设备不能满足有关EMC标准的主要原因,而现有屏蔽线缆的电磁辐射预测存在周期长、适用频率范围有限的问题;本发明利用屏蔽衰减衡量线缆的电磁屏蔽性能,在高频范围内建立了芯线电流与屏蔽层电流的函数关系式;然后基于屏蔽层电流分布特性建立线缆电偶极子阵列等效模型,采用电偶极子辐射场的叠加原理建立线缆电磁辐射的计算方法;本发明方法的能够准确计算高频范围内屏蔽线缆的电磁辐射,从而准确评估线缆在高频范围内的电磁辐射水平。此外,本发明的方法获取仅需提供线缆的相关参数,即可准确、高效地计算线缆在高频范围内的电磁辐射。
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公开(公告)号:CN113033059B
公开(公告)日:2022-06-07
申请号:CN202110429232.9
申请日:2021-04-21
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/23 , G06F111/10 , G06F113/04
Abstract: 本发明公开了一种弯曲线缆的辐照感应电流计算方法。本发明的方法根据Agrawal模型,将空间任意弯曲线缆均匀分段,利用链参数矩阵分别对线上分布电压源与两端的集总电压源在负载处产生的感应电流进行求解,最后叠加得到在负载处的总感应电流。本发明的方法通过对线缆分段来拟合实际的空间弯曲线缆,由于线缆分段每段的长度都远小于入射平面波的波长,因此拟合的精度很高;同时该方法基于Agrawal传输线理论,将入射平面波简化为电路中的电压源,简化了场线耦合物理模型的分析,避免了数值计算方法在空间中的网格划分过程,简化了计算过程,占用更少的计算资源,且计算效率更高。
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公开(公告)号:CN107194159A
公开(公告)日:2017-09-22
申请号:CN201710308719.5
申请日:2017-05-04
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F19/00
Abstract: 本发明公开了一种外部激励下带孔阵腔体电磁谐振的解析方法。其包括将入射平面波的传播矢量分解为三个坐标轴方向的分量,将正入射平面波的电场分解为两个坐标轴方向的分量,计算带孔阵腔体外总场,选择一个小孔计算等效磁流元,计算磁流元在带孔阵腔体内的辐射电场,确定与磁流元的辐射电场系数有关联的磁场强度分量和谐振模式的指数,得到带孔阵腔体的谐振模式和谐振频率完成电磁谐振解析。本发明通过将任意入射和任意极化平面波分解为正入射平面波,并采用磁流元辐射代替小孔透射,实现对任意入射和任意极化平面波激励下带多个孔阵腔体的谐振模式和谐振频率进行预测,具有算法简洁、结果准确、效率高等优点。
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公开(公告)号:CN115293074B
公开(公告)日:2025-05-23
申请号:CN202210965684.3
申请日:2022-08-12
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/30 , G06F30/27 , G06F115/12
Abstract: 本发明公开了一种快速评估PCB间耦合参数的方法,通过获取需要评估耦合参数的两个PCB的近场磁场信息,建立两个PCB的磁偶极子等效模型,确认需要评估耦合参数的两个PCB所处相对位置信息,放入辐射源PCB与受扰源PCB等效模型,使用假想惠更斯面,包围受扰源PCB,移走受扰源PCB,分割假想惠更斯面,计算各面元外表面磁场,移走辐射源PCB,将受扰源PCB放入假想惠更斯面内,分割假想惠更斯面,计算各面元内表面磁场,运用互易原理,对前项后项公式推导,计算两个PCB间耦合参数。本发明的方法获取需要评估耦合参数的两个PCB的近场磁场信息,便可快速评估出两个PCB间的耦合参数,具有评估速度快、不受测试场地与设备条件限制、不需实际测试等优点。
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