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公开(公告)号:CN106768268A
公开(公告)日:2017-05-31
申请号:CN201611022908.8
申请日:2016-11-18
申请人: 电子科技大学
IPC分类号: G01H9/00
CPC分类号: G01H9/004
摘要: 本发明公开了一种低反射倾斜光栅阵列同Φ‑OTDR相结合的光纤振动传感系统。系统将低反射倾斜光栅阵列以相同的间距接入传感光纤中,且该间距的选取要同本Φ‑OTDR光纤传感系统的空间分辨率相同或满足空间分辨率为其整数倍,低反射倾斜光栅的反射率要求在1%以下,倾角为10°以下,利用低反射倾斜光栅的反射谱特性,可以达到提升Φ‑OTDR光纤振动传感系统的信噪比和灵敏度的效果的同时,具有对环境温度、应变不敏感的良好特性。
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公开(公告)号:CN106197322A
公开(公告)日:2016-12-07
申请号:CN201610835233.2
申请日:2016-09-20
申请人: 电子科技大学
IPC分类号: G01B11/25
CPC分类号: G01B11/254 , G01B11/2513
摘要: 本发明公开了一种面结构光三维测量系统,该系统将条纹投影结构光照明与条纹反射结构光照明有机融合在一起,采用复合迭代的算法,实现了不同粗糙度物体的三维表面形貌测量,包括漫反射物体、类镜面物体、镜面物体,克服了传统测量系统的测量对象单一的局限性。该系统主要由数字投影模块(DLP)、LCD显示屏、透镜、分束镜和CCD相机组成,结构紧凑,且仅采用一个透镜消除了系统采用条纹反射结构光照明时存在的系统多义性问题,可以更高精度测量不同粗糙度物体的三维表面形貌。本发明的主要增益:设计了一种可以高精度测量不同粗糙度物体三维表面形貌的面结构光三维测量系统。
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公开(公告)号:CN106197322B
公开(公告)日:2019-04-02
申请号:CN201610835233.2
申请日:2016-09-20
申请人: 电子科技大学
IPC分类号: G01B11/25
摘要: 本发明公开了一种面结构光三维测量系统,该系统将条纹投影结构光照明与条纹反射结构光照明有机融合在一起,采用复合迭代的算法,实现了不同粗糙度物体的三维表面形貌测量,包括漫反射物体、类镜面物体、镜面物体,克服了传统测量系统的测量对象单一的局限性。该系统主要由数字投影模块(DLP)、LCD显示屏、透镜、分束镜和CCD相机组成,结构紧凑,且仅采用一个透镜消除了系统采用条纹反射结构光照明时存在的系统多义性问题,可以更高精度测量不同粗糙度物体的三维表面形貌。本发明的主要增益:设计了一种可以高精度测量不同粗糙度物体三维表面形貌的面结构光三维测量系统。
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公开(公告)号:CN107144240A
公开(公告)日:2017-09-08
申请号:CN201710335639.9
申请日:2017-05-12
申请人: 电子科技大学
IPC分类号: G01B11/25 , G01N21/958 , G01N21/01
CPC分类号: G01B11/2513 , G01N21/01 , G01N21/958 , G01N2021/0112 , G01N2021/8809 , G01N2021/8829 , G01N2201/102
摘要: 本发明提供一种检测玻璃面板表面缺陷系统及方法,本发明将单透镜、远心光路与相位测量偏折术相结合,通过设置编码面结构光显示设备、分束镜、玻璃面板待测表面和图像采集装置在空间的位置使之满足反射定律,在编码面结构光显示设备与分束镜之间设置透镜,并使得编码面结构光显示设备位于透镜的物方焦平面上,通过计算机控制产生相互垂直的标准N步相移面结构光至玻璃面板待测表面,采集图像后经后端图像处理设备处理得到变形面结构光的调制度分布、最佳梯度分布与最佳高度分布。本发明解决了基于相位测量偏折术的传统系统在缺陷检测时由于系统多义性引起的相位与高度信息不准确的问题,进而提高玻璃面板表面缺陷检测的精度与准确度。
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公开(公告)号:CN106841237A
公开(公告)日:2017-06-13
申请号:CN201710254710.0
申请日:2017-04-18
申请人: 电子科技大学
IPC分类号: G01N21/958
CPC分类号: G01N21/958
摘要: 本发明公开了一种电子显示屏玻璃盖板表面缺陷的检测系统及方法,本发明新型检测系统包括结构光照明设备,透镜,图像采集设备和处理设备,在结构光照明设备与待测表面之间增加透镜使待测表面成像的调制度最高,提高了检测结果的准确性,通过相移方式获取的调度分布来直接反映待测表面的缺陷信息,进一步通过对调制度分布图进行图像处理,可以得到检测表面的二值化缺陷信息。本发明检测方法对环境光不敏感,简单实用,能够快速地得玻璃盖板表面缺陷分布,尤其适用于电子显示屏领域,也可用于检测其余平面镜面、平面类镜面物件的缺陷。
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