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公开(公告)号：CN110599433B
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN201910693162.0
申请日：2019-07-30
申请人： 西安电子科技大学
摘要： 本发明公开了一种基于动态场景的双曝光图像融合方法，包括获取第一曝光图像和第二曝光图像；根据自适应阈值对第一曝光图像和第二曝光图像进行处理得到二值图像，二值图像包括第一曝光图像和第二曝光图像的运动区域；根据Retinex理论对第一曝光图像和第二曝光图像进行亮度平衡处理对应得到第一亮度平衡图像和第二亮度平衡图像；将第一曝光图像和第二曝光图像分别与运动区域进行结合对应得到第一基础权重图像和第二基础权重图像；根据自适应细节增强的金字塔图像融合算法得到融合后的图像。本发明能够通过自适应阈值准确检测图像的运动区域，并通过亮度平衡算法平衡两帧图像的亮度，同时基于金字塔的自适应增强方法使得图像中欠曝光与过曝光区域信息得以清晰显现。
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公开(公告)号：CN111023996B
公开(公告)日：2021-05-14
申请号：CN201911128583.5
申请日：2019-11-18
申请人： 西安电子科技大学
摘要： 本发明涉及一种单帧动态三维测量方法，包括：对图像的RGB三个颜色通道分别进行编码，得到单帧条纹图；将单帧条纹图投影至待测物体表面，得到变形条纹图的强度分布；根据变形条纹图的强度分布，去除变形条纹图的背景强度，得到去除背景强度的变形条纹图；对去除背景强度的变形条纹图进行归一化处理，得到归一化处理结果；利用利萨如椭圆拟合方法对归一化处理结果进行处理，得到待测物体的相位信息；根据相位信息，得到待测物体的三维形貌信息。本发明的方法将利萨如椭圆拟合技术提取物体的相位信息应用到条纹投影系统，仅采用单帧条纹即可重建物体的三维形貌，计算更简便，重建的三维形貌具有较高的鲁棒性和精确度。
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公开(公告)号：CN111179368A
公开(公告)日：2020-05-19
申请号：CN201911369935.6
申请日：2019-12-26
申请人： 西安电子科技大学
摘要： 本发明公开了一种大视场多目标散斑成像方法、装置、电子设备及存储介质；所述方法包括：获取多个混合散斑图像；将混合散斑图像转换第一向量；对所转换的多个第一向量进行独立成分分析，得到分析结果；该分析结果包括多个第二向量，每个第二向量用于表征一个成像目标的散斑信息在分析目标中所占据的成分；将第二向量转换为参考散斑图像，并计算参考散斑图像的自相关信息；根据所计算自相关信息，重建多个成像目标的成像图像。本发明不受光学记忆效应范围的限制，相应的也不受成像目标数量的限制，从而可以实现大视场多目标散斑成像。
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公开(公告)号：CN110333205A
公开(公告)日：2019-10-15
申请号：CN201910563496.6
申请日：2019-06-26
申请人： 西安电子科技大学
IPC分类号： G01N21/49
摘要： 本发明公开了一种透过动态液体介质的散射成像装置和方法，所述装置包括光源及调节模块、空间光调制器、动态成像模块和图像探测模块，其中，光源及调节模块用于产生准直的高斯光束；空间光调制器上加载有零阶贝塞尔光束的相位图样，用于将高斯光束调制为无衍射的零阶贝赛尔光束；动态成像模块包括毛玻璃和动态散射介质，毛玻璃与动态散射介质之间设置有待测目标，毛玻璃能够沿垂直于光路的方向旋转，用于对零阶贝赛尔光束进行散射，动态散射介质用于获得待测目标处光场的频谱信息。本发明通过将入射的高斯光束光调制为无衍射的零阶贝赛尔光束，使得透过动态液体介质的散射成像效果更好，提高了成像分辨率。
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公开(公告)号：CN103727895B
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201410019594.0
申请日：2014-01-16
申请人： 电子科技大学
IPC分类号： G01B11/24
摘要： 本发明公开了一种基于单帧彩色复合光栅条纹反射的镜面三维面形测量方法，实验系统包括数码相机、显示屏、待测镜面、计算机，调整实验系统使数码相机通过待测镜面观测到显示屏，在显示屏上同时生成不同颜色的水平条纹和垂直条纹，然后用数码相机通过待测镜面物体记录变形的条纹，整个测量过程只需向待测镜面投影一帧彩色复合光栅条纹就可得到水平方向和垂直方向的梯度，最后对梯度积分得到待测镜面的三维形貌信息。利用本发明可以实现快速、高精度的镜面物体三维面形测量。
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公开(公告)号：CN104467977A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410558201.3
申请日：2014-10-20
申请人： 电子科技大学
摘要： 本发明公开了一种针对光通信系统模拟软件中的光调制器频率响应的建模，属于光电子技术领域，它包括设置光调制器的调制带宽，获取微波调制信号并对输入的微波调制信号做傅里叶变换，将时域的微波信号转换到频域上，以提取微波调制信号对应的频率信息，并反馈作用于对光信号的幅度调制，当微波调制信号是在(f1~f2)区间的扫频信号时，得到一个随着调制频率变化的输出光功率的变化曲线，即光调制器的频率响应曲线。本发明解决了目前光通信系统模拟软件中的光调制器无法自动识别微波调制信号的频率信息的难题，建立了光通信系统模拟软件中光调制器频率响应的模型，仿真结果更加真实，在光通信系统模拟软件中具有广泛应用的前景。
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公开(公告)号：CN103727895A
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：CN201410019594.0
申请日：2014-01-16
申请人： 电子科技大学
IPC分类号： G01B11/24
摘要： 本发明公开了一种基于单帧彩色复合光栅条纹反射的镜面三维面形测量方法，实验系统包括数码相机、显示屏、待测镜面、计算机，调整实验系统使数码相机通过待测镜面观测到显示屏，在显示屏上同时生成不同颜色的水平条纹和垂直条纹，然后用数码相机通过待测镜面物体记录变形的条纹，整个测量过程只需向待测镜面投影一帧彩色复合光栅条纹就可得到水平方向和垂直方向的梯度，最后对梯度积分得到待测镜面的三维形貌信息。利用本发明可以实现快速、高精度的镜面物体三维面形测量。
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公开(公告)号：CN103487441A
公开(公告)日：2014-01-01
申请号：CN201310438287.1
申请日：2013-09-24
申请人： 电子科技大学
摘要： 本发明提供了一种用于硅晶片缺陷检测和面形测量的方法，该方法将相位偏折轮廓术（PMD）用于硅晶片的面形测量中。基于PMD的镜面物体三维面形测量方法是一种高灵敏、高精度、快速、非相干的光学全场测量技术，并且实验装置简单，主要包括计算机、数码相机和显示屏。将PMD用于硅晶片面形测量中可以直接得到晶片表面的梯度分布，仅需对梯度求导数即可得到硅片表面的曲率分布，通过曲率分布检测缺陷，也可以对梯度积分得到硅片表面的高度数据，观测三维形貌。本发明的主要增益：提供了一种高精度、快速的全场测量技术对硅晶片表面缺陷检测和面形测量。
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公开(公告)号：CN111023995A
公开(公告)日：2020-04-17
申请号：CN201911128510.6
申请日：2019-11-18
申请人： 西安电子科技大学
摘要： 本发明涉及一种基于随机两帧相移条纹图的三维测量方法，包括：向待测物体依次投影第一条纹图和第二条纹图，得到第一变形条纹图和第二变形条纹图；分别对第一变形条纹图和第二变形条纹图进行背景滤除和调制度幅值矫正，得到第一矫正结果和第二矫正结果；利用利萨如椭圆拟合方法对第一矫正结果和第二矫正结果进行处理，得到待测物体的相位信息；根据相位信息，得到待测物体的三维形貌信息。本发明的方法利萨如椭圆拟合技术提取物体的相位信息应用到条纹投影系统，仅采用两帧具有不均匀背景强度和调制度的条纹图重建物体的三维形貌，计算更简便，重建的三维形貌具有较高的鲁棒性和精确度。
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