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公开(公告)号：CN118501565A
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202410548671.5
申请日：2024-05-06
申请人： 电子科技大学
摘要： 本发明的目的在于提供一种基于微波热声的高功率微波电场强度测量系统与测量方法，属于高功率微波测试技术领域。该装置基于微波热声效应的理论基础，利用重入式同轴谐振腔在低功率标准信号源下，构建高功率微波标准场环境，设计测试热声探头从而实现量化测量，同时构建校准曲线，基于标准曲线实现对电场强度的准确测量。该装置具有广泛的应用前景，对于高功率微波诊断的研究具有重要意义。
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公开(公告)号：CN118209952A
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202410335287.7
申请日：2024-03-22
申请人： 电子科技大学
IPC分类号： G01S7/41
摘要： 本发明的目的在于提供一种基于距离补偿的RCS近远场变换计算方法，属于RCS测试技术领域。该计算方法在测量近场回波信号时采用足够大的金属平板进行校准，可以拉近整体测试端面，提高测试的动态范围，有效减小中间路径的损耗干扰；接着通过测量近场接收到的回波信号，并考虑目标转动时测试面到目标的距离会随转动角度改变这一实际情况，引入距离补偿函数，将传统NFFFT计算公式推广至基于距离补偿的NFFFRT计算公式，为测试目标的隐身性能提供了更加准确的RCS计算方法。
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公开(公告)号：CN118112331A
公开(公告)日：2024-05-31
申请号：CN202410228589.4
申请日：2024-02-29
申请人： 电子科技大学
摘要： 本发明提供一种基于分离式扇形谐振腔的介电性能测试系统及方法，属于微波测试技术领域。区别于现有的分离式圆柱谐振器的结构，本发明采用一个扇形的分离式柱形谐振腔，同时在分离式谐振器的两表面边缘切断出一条缝隙以抑制杂模，最终实现了工作模式附近干扰模式的完全抑制，在宽频率范围内得到一个比较“纯净”的TE0n1模式频谱，单个谐振腔即可实现TE011～TE081八个模式的测量。除此之外，本发明的谐振腔的样品测试区域不到传统圆柱腔的五分之一，因此对应的待测样品尺寸也缩小了原来的五分之一以下，可以有效降低待测样品的加工成本。
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公开(公告)号：CN117807397A
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202410016203.3
申请日：2024-01-04
申请人： 电子科技大学
IPC分类号： G06F18/20 , G06F18/15 , G06F18/213 , G06F30/17 , G06F30/23 , G06T17/20 , G06F111/10
摘要： 本发明的目的在于提供一种基于SIE的开孔金属腔谐振特性分析方法，属于金属腔体谐振特性数值分析技术领域。考虑到传统特征值方法在宽频域上对开孔金属腔的内谐振频率查找难度大，且半封闭结构内谐振频点有多个高次模式电磁场分布受谐振电流模式影响较大，导致谐振模式无法直接确认的特点，本发明分析方法基于三角形面元对开孔金属腔谐振问题进行建模分析，建立储能效率最大化的内谐振广义特征值方程，对特征值进行突变点置零修正，提出内谐振因子用以确定谐振模式，具有在宽频域内准确分析开孔金属腔内谐振特性的特点。本发明分析方法具有求解精度高、待求未知量少的特点。
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公开(公告)号：CN117761408A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202311794417.5
申请日：2023-12-25
申请人： 电子科技大学
IPC分类号： G01R27/26
摘要： 本发明的目的在于提供一种基于圆柱凹型腔的面外复介电常数测试装置及方法，属于微波测试技术领域。本装置包括圆柱凹型腔，其靠近电容端侧壁对称设有两个矩形孔，用于放置待测样品；电容端设贯穿其底壁的缝隙，通过缝隙减少底壁与待测样品之间的气隙；除此之外，在圆柱凹型腔短路端设置与中心轴相连的半径呈90°夹角的耦合孔，用于设置耦合装置，实现了高频杂模抑制。本发明的装置结构实现了0.5～12GHz高精度材料面外复介电常数测试。
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公开(公告)号：CN115842234B
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202310112032.X
申请日：2023-02-14
申请人： 电子科技大学
IPC分类号： H01P7/08
摘要： 本发明属于微波测试技术领域，涉及微波介质材料复介电常数测试技术，具体提供一种带状线谐振器，用以解决覆刻方式的带状线谐振器存在的需要先验微波介质材料的电磁参数、不可调节及灵活性差的问题，侧边耦合方式的带状线谐振器存在的杂模多、损耗测不准的问题。本发明在金属导带、微波介质材料、上接地金属板、下接地金属板构成的基础结构中创造性的提出上下耦合方式，于上、下接地金属板的外侧(上、下表面)对称设置耦合探针；在复介电常数测试过程中，该结构能够去除传统耦合方式的辐射损耗，避免空气不匹配层的出现，进而减小复介电常数测试误差。
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公开(公告)号：CN117471171A
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN202311389660.9
申请日：2023-10-24
申请人： 电子科技大学
摘要： 本发明的目的在于提供一种圆柱腔中心加载金属圆片的微波表面电阻率测试装置，属于微波、毫米波材料电磁参数测试技术领域。该装置在中间分割的圆柱腔中插入金属圆片，通过圆柱腔的法兰和金属圆片，将电场束缚于腔内，从而可以用于测试金属板的表面电阻率，测试频率可达110GHz及以上，且可实现超宽频多模测试。
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公开(公告)号：CN117085962A
公开(公告)日：2023-11-21
申请号：CN202310740622.7
申请日：2023-06-20
申请人： 金锋馥(滁州)科技股份有限公司 , 电子科技大学
摘要： 本发明公开了一种自适应包裹尺寸变化的高效包裹分离控制方法，包括以下步骤：S01、将预定的阈值作为对待被识别的包裹的判断因素；S02、视觉系统采集并确定所述待被识别包裹的尺寸Xi，判断是否超出判断因素；S03、基于步骤02，当判定 时，第一时间启动针对超尺寸的包裹，执行对该区域差速自适应保护动作，并记录当前帧下目标个数Nf；S04、基于获取的所述目标个数Nf计算超阈值目标坐标(Xi，Yi)的分布位置。该发明提供的自适应包裹尺寸变化的高效包裹分离控制方法，在不影响系统效率的情况下通过检测包裹尺寸进而有效防止此类情况出现，同时可以根据用户需求或者为了提高效率将包裹按照规定进行方向排列依次排队从出口输出。
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公开(公告)号：CN116735976A
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202310502656.2
申请日：2023-05-06
申请人： 电子科技大学
IPC分类号： G01R27/26
摘要： 本发明公开了一种用于小区域微波测试的高灵敏度同轴谐振测试装置，属于微波、毫米波材料电磁参数测试技术领域。该装置是在传统同轴谐振腔的基础上，引入探针结构，以此构造出一端开路、一端短路的四分之一波长同轴谐振器。由于同轴谐振腔尺寸较大且没有介质填充，使得该装置有着高品质因数，测试灵敏度高；结构中探针与同轴谐振腔内导体采用插接方式连接，使其可以根据需求更换。通过更换不同长度的探针，调整装置长度来适用于宽频测试，解决了宽频测试的问题；相比传统的半波长或四分之一波长谐振器，本发明充分兼顾了高灵敏度和小区域检测的测试需求。
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公开(公告)号：CN115842234A
公开(公告)日：2023-03-24
申请号：CN202310112032.X
申请日：2023-02-14
申请人： 电子科技大学
IPC分类号： H01P7/08
摘要： 本发明属于微波测试技术领域，涉及微波介质材料复介电常数测试技术，具体提供一种新型耦合方式的带状线谐振器，用以解决覆刻方式的带状线谐振器存在的需要先验微波介质材料的电磁参数、不可调节及灵活性差的问题，侧边耦合方式的带状线谐振器存在的杂模多、损耗测不准的问题。本发明在金属导带、微波介质材料、上接地金属板、下接地金属板构成的基础结构中创造性的提出上下耦合方式，于上、下接地金属板的外侧(上、下表面)对称设置耦合探针；在复介电常数测试过程中，该结构能够去除传统耦合方式的辐射损耗，避免空气不匹配层的出现，进而减小复介电常数测试误差。
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