用于转移有用层的方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109564891A

    公开(公告)日:2019-04-02

    申请号:CN201780049093.9

    申请日:2017-08-01

    IPC分类号: H01L21/762

    CPC分类号: H01L21/76254

    摘要: 本发明涉及一种用于将有用层(3)转移到支撑体(4)上的方法,该方法包括以下步骤:通过将轻核素注入到第一衬底(1)中来形成脆化平面(2),以便在该平面与所述第一衬底(1)的表面之间形成有用层(3);将所述支撑体(4)施加到所述第一衬底(1)的所述表面上以便形成待破裂组件(5);脆化热处理所述待破裂组件(5);引发破裂波并沿着所述脆化平面(3)将其传播到所述第一衬底(1)中。根据本发明,所述破裂波是在所述脆化平面(2)的中心区域中引发的,并且该波的传播速度被控制为具有足够的速度。因此,所述破裂波与在其引发和/或传播期间发出的声振动的相互作用被限制到所述有用层(3)的周边区域。

    转移有用层的方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105023876A

    公开(公告)日:2015-11-04

    申请号:CN201510177940.2

    申请日:2015-04-15

    IPC分类号: H01L21/762

    摘要: 本发明涉及一种转移有用层的方法,具体涉及将有用层(3)转移到支撑体(4)上的方法,所述方法包括以下主要步骤:-以在脆化面(2)和第一基板(1)的表面之间形成有用层(3)的方式,通过在第一基板(1)中植入轻物质而形成脆化面(2);-将支撑体(4)施加到第一基板(1)的表面上,以形成待断裂组件(5),所述组件具有两个暴露侧(S1,S2);-对所述待断裂的组件(5)进行热脆化处理;-沿着脆化面(2)在所述第一基板(1)中引发破裂波并且其自身维持传播。所述待破裂组件(5)的所述侧(S1,S2)中的至少一侧在接触区上方与吸收元件(6a,6b)紧密接触,所述吸收元件(6a,6b)适于捕获和耗散在破裂波的引发和/或传播过程中发出的声振动。

    用于转移有用层的方法
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109564891B

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN201780049093.9

    申请日:2017-08-01

    IPC分类号: H01L21/762

    摘要: 本发明涉及一种用于将有用层(3)转移到支撑体(4)上的方法,该方法包括以下步骤:通过将轻核素注入到第一衬底(1)中来形成脆化平面(2),以便在该平面与所述第一衬底(1)的表面之间形成有用层(3);将所述支撑体(4)施加到所述第一衬底(1)的所述表面上以便形成待破裂组件(5);脆化热处理所述待破裂组件(5);引发破裂波并沿着所述脆化平面(3)将其传播到所述第一衬底(1)中。根据本发明,所述破裂波是在所述脆化平面(2)的中心区域中引发的,并且该波的传播速度被控制为具有足够的速度。因此,所述破裂波与在其引发和/或传播期间发出的声振动的相互作用被限制到所述有用层(3)的周边区域。

    转移有用层的方法
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105023876B

    公开(公告)日:2019-05-17

    申请号:CN201510177940.2

    申请日:2015-04-15

    IPC分类号: H01L21/762

    摘要: 本发明涉及一种转移有用层的方法,具体涉及将有用层(3)转移到支撑体(4)上的方法,所述方法包括以下主要步骤:‑以在脆化面(2)和第一基板(1)的表面之间形成有用层(3)的方式,通过在第一基板(1)中植入轻物质而形成脆化面(2);‑将支撑体(4)施加到第一基板(1)的表面上,以形成待断裂组件(5),所述组件具有两个暴露侧(S1,S2);‑对所述待断裂的组件(5)进行热脆化处理;‑沿着脆化面(2)在所述第一基板(1)中引发破裂波并且其自身维持传播。所述待破裂组件(5)的所述侧(S1,S2)中的至少一侧在接触区上方与吸收元件(6a,6b)紧密接触,所述吸收元件(6a,6b)适于捕获和耗散在破裂波的引发和/或传播过程中发出的声振动。

    制造用于射频应用的绝缘体上半导体结构的方法

    公开(公告)号:CN114930516A

    公开(公告)日:2022-08-19

    申请号:CN202180008062.5

    申请日:2021-01-07

    申请人: 索泰克公司

    摘要: 本发明涉及一种用于制造绝缘体上半导体结构(10)的方法,所述方法包括以下步骤:‑提供FD‑SOI衬底(1),FD‑SOI衬底(1)从其底部到其顶部依次包括:单晶衬底(2),单晶衬底(2)具有在500Ω.cm和30kΩ.cm之间的电阻率,在20旧ppma和40旧ppma之间的间隙氧含量(Oi),并且具有N型掺杂或P型掺杂;电绝缘层(3),电绝缘层(3)的厚度在20nm和400nm之间;单晶层(4),其具有P型掺杂;‑在大于或等于1175℃的温度下对FD‑SOI衬底(1)热处理大于或等于1小时的时间,以在衬底中形成P‑N结(5)。本发明还涉及这种绝缘体上半导体结构。