公开(公告)号：CN102073022B

公开(公告)日：2016-03-02

申请号：CN201010541690.3

申请日：2010-11-08

Applicant: 罗伯特.博世有限公司

Inventor： A·弗兰克 ,  P-J·陈 ,  D·C·梅泽尔 ,  A·布曼 ,  A·法伊 ,  M·埃卡特

IPC: G01R33/02 ,  G01R33/12

CPC classification number: G01R33/0286

Abstract: 本发明涉及一种磁强计，它包括基底(1)、设置在基底(1)上的点支承(2)、在点支承(2)上可倾斜地支承的振动结构(3)和用于确定振动结构(3)相对于基底(1)的倾斜的检测器(5)。在此该振动结构(3)具有以至少一圈围绕振动结构(3)的支承点(P)导引的电导线(4)。本发明还涉及一种用于通过这种磁强计测量磁通密度的方法。

公开(公告)号：CN102073022A

公开(公告)日：2011-05-25

申请号：CN201010541690.3

申请日：2010-11-08

Applicant: 罗伯特·博世有限公司

Inventor： A·弗兰克 ,  P·J·陈 ,  D·C·梅泽尔 ,  A·布曼 ,  A·法伊 ,  M·埃卡特

IPC: G01R33/02 ,  G01R33/12

CPC classification number: G01R33/0286

Abstract: 本发明涉及一种磁强计，它包括基底(1)、设置在基底(1)上的点支承(2)、在点支承(2)上可倾斜地支承的振动结构(3)和用于确定振动结构(3)相对于基底(1)的倾斜的检测器(5)。在此该振动结构(3)具有以至少一圈围绕振动结构(3)的支承点(P)导引的电导线(4)。本发明还涉及一种用于通过这种磁强计测量磁通密度的方法。