半导体装置
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    发明公开
    半导体装置 审中-公开

    公开(公告)号:CN117897807A

    公开(公告)日:2024-04-16

    申请号:CN202280058306.5

    申请日:2022-09-26

    发明人: 鹤见直明

    摘要: 半导体装置包括:芯片焊盘,配置在上述芯片焊盘上的半导体元件,形成在上述芯片焊盘与上述半导体元件之间且将上述半导体元件接合于上述芯片焊盘的元件接合层,覆盖上述芯片焊盘、上述半导体元件以及上述元件接合层的密封树脂,以及形成在上述密封树脂与上述元件接合层的边界部且阻挡来自上述密封树脂的腐蚀性离子的阻挡层。也可以是,上述密封树脂具有形成上述密封树脂的周围外部形状的端面,上述芯片焊盘包含以上述密封树脂的端面为起点向上述密封树脂的外侧突出的突出部。