MCU上电自检电路及芯片、电子设备

    公开(公告)号:CN117406699A

    公开(公告)日:2024-01-16

    申请号:CN202311697950.X

    申请日:2023-12-12

    Abstract: 本发明涉及芯片设计领域,具体公开了一种MCU上电自检电路及芯片、电子设备,其中MCU包括用于给内核供电的第一LDO,上电自检电路包括:第一电压检测电路、上电检测电路、请求电路、延时重启电路和状态控制器,第一电压检测电路分别与第一LDO和上电检测电路相连,请求电路分别与上电检测电路、延时重启电路和状态控制器相连,状态控制器分别与第一LDO、第一电压检测电路、上电检测电路和延时重启电路相连。其中,第一电压检测电路和上电检测电路用于检测第一LDO是否完成上电;状态控制器、控制延时重启电路和请求电路用于控制第一LDO重新上电。该自检电路可实现针对第一LDO的上电检测和自动重启,避免MCU因第一LDO上电异常而整体重启,使MCU的工作效率较高。

    低功耗芯片和电子设备
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN117171082B

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN202311446113.X

    申请日:2023-11-02

    Abstract: 本发明公开了一种低功耗芯片和电子设备,低功耗芯片,包括:设置在电源可关断域的多个功能逻辑模块、多个串行移位输入输出逻辑电路、测试控制模块,设置在电源常开域的保持存储器、数据校验模块和低功耗控制电路,低功耗控制电路被配置为在芯片进入低功耗保持状态的情况下,控制数据校验模块与测试控制模块之间的第一数据传输通道打通,以便测试控制模块将状态数据整合后,再通过第一数据传输通道将整合后的状态数据发送给数据校验模块,数据校验模块被配置为对整合后的状态数据进行校验,以生成校验码,并将整合后的状态数据和校验码发送给保持存储器进行存储。该芯片能够大大缩短进入低功耗保持状态的时间,并能够提高芯片的可靠性。

    电源管理系统和芯片设备

    公开(公告)号:CN115840499B

    公开(公告)日:2023-05-26

    申请号:CN202310117226.9

    申请日:2023-02-15

    Abstract: 本发明公开了一种电源管理系统和芯片设备,系统包括:中央处理器、电源管理单元、系统时钟和稳定器;系统时钟与中央处理器、电源管理单元连接,以给中央处理器、电源管理单元提供时钟信号;电源管理单元与中央处理器、稳定器连接,用于在接收到中央处理器发送的睡眠模式请求后,输出第一时钟模式选择信号至系统时钟,以使系统时钟进入低频低功耗模式,并输出第一电位选择信号至稳定器,以使稳定器进行降压调整,以及在降压完成后输出第一组合时钟使能信号至系统时钟,以关闭系统时钟。该系统在睡眠模式下,可进一步调整稳定器的电压来降低功耗,且可通过硬件控制默认的系统启动时钟,不需要额外的低频时钟实现数字控制,硬件占用面积小,成本低。

    电源管理系统和芯片设备

    公开(公告)号:CN115840499A

    公开(公告)日:2023-03-24

    申请号:CN202310117226.9

    申请日:2023-02-15

    Abstract: 本发明公开了一种电源管理系统和芯片设备,系统包括:中央处理器、电源管理单元、系统时钟和稳定器;系统时钟与中央处理器、电源管理单元连接,以给中央处理器、电源管理单元提供时钟信号;电源管理单元与中央处理器、稳定器连接,用于在接收到中央处理器发送的睡眠模式请求后,输出第一时钟模式选择信号至系统时钟,以使系统时钟进入低频低功耗模式,并输出第一电位选择信号至稳定器,以使稳定器进行降压调整,以及在降压完成后输出第一组合时钟使能信号至系统时钟,以关闭系统时钟。该系统在睡眠模式下,可进一步调整稳定器的电压来降低功耗,且可通过硬件控制默认的系统启动时钟,不需要额外的低频时钟实现数字控制,硬件占用面积小,成本低。

    MCU上电自检电路及芯片、电子设备

    公开(公告)号:CN117406699B

    公开(公告)日:2024-04-02

    申请号:CN202311697950.X

    申请日:2023-12-12

    Abstract: 本发明涉及芯片设计领域,具体公开了一种MCU上电自检电路及芯片、电子设备,其中MCU包括用于给内核供电的第一LDO,上电自检电路包括:第一电压检测电路、上电检测电路、请求电路、延时重启电路和状态控制器,第一电压检测电路分别与第一LDO和上电检测电路相连,请求电路分别与上电检测电路、延时重启电路和状态控制器相连,状态控制器分别与第一LDO、第一电压检测电路、上电检测电路和延时重启电路相连。其中,第一电压检测电路和上电检测电路用于检测第一LDO是否完成上电;状态控制器、控制延时重启电路和请求电路用于控制第一LDO重新上电。该自检电路可实现针对第一LDO的上电检测和自动重启,避免MCU因第一LDO上电异常而整体重启,使MCU的工作效率较高。

    芯片及其测试电路
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116930723A

    公开(公告)日:2023-10-24

    申请号:CN202311187533.0

    申请日:2023-09-14

    Abstract: 本发明公开了一种芯片及其测试电路,其中,芯片包括电压常开区域和电压可关断区域,测试电路包括:第一供电单元,第一供电单元适于连接芯片的系统电源,以给电压可关断区域供电,其中,系统电源还适于给电压常开区域供电;位于电压常开区域的第一测试单元,第一测试单元被配置为在芯片需进入测试模式的情况下,控制第一供电单元停止工作,以便外部PMIC电源给电压可关断区域供电。该测试电路在芯片需要进入测试模式时,控制内部的第一供电单元停止供电,然后外部PMIC电源才给电压可关断区域供电,避免了内部电源和外部PMIC电源同时驱动对拉的情况发生,从而避免对芯片内部造成损害。

    超时监测电路、芯片
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN118425749B

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN202410898731.6

    申请日:2024-07-05

    Inventor: 陈岗 陈诗卓 过艺

    Abstract: 本发明公开了一种超时监测电路、芯片,涉及芯片技术领域。其中,电路包括:状态控制器,用于在接收到系统低功耗请求信号后,输出低功耗进入计数器使能信号至进入超时监测模块,并在检测到芯片进入低功耗模式成功时,输出低功耗进入成功信号至进入超时监测模块;进入超时监测模块,用于在接收到低功耗进入计数器使能信号时开始计时,得到第一计时时间,并在第一计时时间大于或者等于进入低功耗监测预设时间,且未接收到低功耗进入成功信号时,输出进入超时监测复位信号至复位模块;复位模块,用于在接收到进入超时监测复位信号时,输出超时监测复位信号,以复位芯片;常开慢速时钟,用于为状态控制器和进入超时监测模块分别提供工作时钟。

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