电荷检测质谱分析
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111742390B

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN201980014374.X

    申请日:2019-02-22

    IPC分类号: H01J49/02 H01J49/42 H01J49/00

    摘要: 本文公开了用于执行电荷检测质谱分析(CDMS)的各种方法和设备。具体地说,公开了用于监测来自CDMS装置的检测器信号以确定所述CDMS装置的离子阱(10)中存在多少个离子的技术。例如,如果不存在离子,则可以提前终止测量。类似地,如果存在多于一个离子,则可以提前终止所述测量,或者可以从所述阱(10)中移除离子,直到留下仅单个离子。还提供了用于增加所述阱(10)中有单个离子的概率的技术。还提供了一种用于衰减离子束的技术。

    质谱仪
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101223625B

    公开(公告)日:2012-02-29

    申请号:CN200680025375.7

    申请日:2006-06-01

    IPC分类号: H01J49/00

    CPC分类号: H01J49/0036

    摘要: 公开了一种质谱学方法,其中分析来自离子检测器的电压信号。获得每个电压信号的二阶微分并且确定观察到的电压峰的开始和结束时间。然后确定每个电压峰的强度和平均时间并且存储强度和时间值。然后通过将与从多次实验运转观察到的每个电压峰相关的强度和时间值相组合来形成中间合成质谱。然后整合各时间和强度数据对以产生平滑连续质谱。然后可以通过确定连续质谱的二阶微分来进一步处理连续质谱。可以确定在连续质谱中观察到的质量峰的开始和结束时间。然后可以确定在连续质谱中观察到的每个质量峰的强度和质荷比。然后可以显示或输出仅包括每种离子的强度值和质荷比的最终分立质谱。

    多反射飞行时间质量分析器

    公开(公告)号:CN112106172B

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN201980031216.5

    申请日:2019-05-03

    IPC分类号: H01J49/40

    摘要: 一种质量光谱仪包括:多反射飞行时间(MRTOF)质量分析器或质量分离器,其具有两个无栅离子镜2,所述无栅离子镜在第一维度(Z维度)上伸长且被配置成当离子在所述第一维度上行进时在第二正交维度(X维度)上多次反射离子;所述光谱仪被配置成按以下模式操作:(i)用于与所述质量分析器或分离器中的背景气体分子具有第一相互作用速率的离子的第一模式,使得所述离子在所述离子镜2之间被反射第一次数;以及(ii)用于与所述质量分析器或分离器中的背景气体分子具有较高的第二相互作用速率的离子的第二模式,使得离子在所述离子镜2之间被反射较少的第二次数。

    多反射飞行时间质量分析器
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112106172A

    公开(公告)日:2020-12-18

    申请号:CN201980031216.5

    申请日:2019-05-03

    IPC分类号: H01J49/40

    摘要: 一种质量光谱仪包括:多反射飞行时间(MRTOF)质量分析器或质量分离器,其具有两个无栅离子镜2,所述无栅离子镜在第一维度(Z维度)上伸长且被配置成当离子在所述第一维度上行进时在第二正交维度(X维度)上多次反射离子;所述光谱仪被配置成按以下模式操作:(i)用于与所述质量分析器或分离器中的背景气体分子具有第一相互作用速率的离子的第一模式,使得所述离子在所述离子镜2之间被反射第一次数;以及(ii)用于与所述质量分析器或分离器中的背景气体分子具有较高的第二相互作用速率的离子的第二模式,使得离子在所述离子镜2之间被反射较少的第二次数。

    MALDI靶板
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110476221A

    公开(公告)日:2019-11-19

    申请号:CN201880020726.8

    申请日:2018-04-12

    IPC分类号: H01J49/04

    摘要: 公开了一种MALDI离子源,该MALDI离子源包括靶板(2),靶板(2)具有前表面(4)、后表面(6)和用于接收液体样本的至少一个样本接收阱(9)或用于接收液体样本(10)的从后表面(6)中的开口(12)延伸到前表面(4)中的开口(14)的至少一个样本接收通道(8),其中,每个阱(9)或通道(8)具有≥1μL的容积。该离子源还包括激光器(16),其用于使靶板(2)上或靶板(2)中的液体样本(10)电离,其中,激光器(16)为被设置和配置成具有≥20Hz的脉冲重复率的脉冲激光器或为连续激光器。

    质谱仪
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101223625A

    公开(公告)日:2008-07-16

    申请号:CN200680025375.7

    申请日:2006-06-01

    IPC分类号: H01J49/02 G06F19/00 H01J49/00

    CPC分类号: H01J49/0036

    摘要: 公开了一种质谱学方法,其中分析来自离子检测器的电压信号。获得每个电压信号的二阶微分并且确定观察到的电压峰的开始和结束时间。然后确定每个电压峰的强度和平均时间并且存储强度和时间值。然后通过将与从多次实验运转观察到的每个电压峰相关的强度和时间值相组合来形成中间合成质谱。然后整合各时间和强度数据对以产生平滑连续质谱。然后可以通过确定连续质谱的二阶微分来进一步处理连续质谱。可以确定在连续质谱中观察到的质量峰的开始和结束时间。然后可以确定在连续质谱中观察到的每个质量峰的强度和质荷比。然后可以显示或输出仅包括每种离子的强度值和质荷比的最终分立质谱。

    电荷检测质谱分析
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117059468A

    公开(公告)日:2023-11-14

    申请号:CN202311031129.4

    申请日:2019-02-22

    IPC分类号: H01J49/00 H01J49/02 H01J49/42

    摘要: 本文公开了用于执行电荷检测质谱分析(CDMS)的各种方法和设备。具体地说,公开了用于监测来自CDMS装置的检测器信号以确定所述CDMS装置的离子阱(10)中存在多少个离子的技术。例如,如果不存在离子,则可以提前终止测量。类似地,如果存在多于一个离子,则可以提前终止所述测量,或者可以从所述阱(10)中移除离子,直到留下仅单个离子。还提供了用于增加所述阱(10)中有单个离子的概率的技术。还提供了一种用于衰减离子束的技术。

    电荷检测质谱分析
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116666185A

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202310621220.5

    申请日:2019-02-22

    IPC分类号: H01J49/02 H01J49/42 H01J49/00

    摘要: 本文公开了用于执行电荷检测质谱分析(CDMS)的各种方法和设备。具体地说,公开了用于监测来自CDMS装置的检测器信号以确定所述CDMS装置的离子阱(10)中存在多少个离子的技术。例如,如果不存在离子,则可以提前终止测量。类似地,如果存在多于一个离子,则可以提前终止所述测量,或者可以从所述阱(10)中移除离子,直到留下仅单个离子。还提供了用于增加所述阱(10)中有单个离子的概率的技术。还提供了一种用于衰减离子束的技术。