质谱仪
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101223625A

    公开(公告)日:2008-07-16

    申请号:CN200680025375.7

    申请日:2006-06-01

    IPC分类号: H01J49/02 G06F19/00 H01J49/00

    CPC分类号: H01J49/0036

    摘要: 公开了一种质谱学方法,其中分析来自离子检测器的电压信号。获得每个电压信号的二阶微分并且确定观察到的电压峰的开始和结束时间。然后确定每个电压峰的强度和平均时间并且存储强度和时间值。然后通过将与从多次实验运转观察到的每个电压峰相关的强度和时间值相组合来形成中间合成质谱。然后整合各时间和强度数据对以产生平滑连续质谱。然后可以通过确定连续质谱的二阶微分来进一步处理连续质谱。可以确定在连续质谱中观察到的质量峰的开始和结束时间。然后可以确定在连续质谱中观察到的每个质量峰的强度和质荷比。然后可以显示或输出仅包括每种离子的强度值和质荷比的最终分立质谱。

    质谱仪
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101223625B

    公开(公告)日:2012-02-29

    申请号:CN200680025375.7

    申请日:2006-06-01

    IPC分类号: H01J49/00

    CPC分类号: H01J49/0036

    摘要: 公开了一种质谱学方法,其中分析来自离子检测器的电压信号。获得每个电压信号的二阶微分并且确定观察到的电压峰的开始和结束时间。然后确定每个电压峰的强度和平均时间并且存储强度和时间值。然后通过将与从多次实验运转观察到的每个电压峰相关的强度和时间值相组合来形成中间合成质谱。然后整合各时间和强度数据对以产生平滑连续质谱。然后可以通过确定连续质谱的二阶微分来进一步处理连续质谱。可以确定在连续质谱中观察到的质量峰的开始和结束时间。然后可以确定在连续质谱中观察到的每个质量峰的强度和质荷比。然后可以显示或输出仅包括每种离子的强度值和质荷比的最终分立质谱。