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公开(公告)号:CN102967819B
公开(公告)日:2014-12-17
申请号:CN201210051692.3
申请日:2012-03-01
申请人: 补丁科技股份有限公司
IPC分类号: G01R31/28
CPC分类号: G01R31/31932 , G01R31/31727 , G11C29/022 , G11C29/50012
摘要: 本发明提出一种高速测试电路与方法。该高速测试电路接收自一测试仪而来的测试仪频率,并对一待测电路进行测试,此高速测试电路包含:一倍频电路,其接收自该测试仪频率,产生N倍频率的频率输出,其中N为正实数;一测试频率产生器,其根据倍频电路的输出及测试仪频率,产生一测试频率,此测试频率在低频与高频之间切换;一测试讯号产生器,其根据该测试频率而操作,此测试讯号产生器产生测试讯号,以供传送给待测电路;以及一比较电路,其根据待测电路对测试讯号的响应讯号,产生比对结果,其中,此高速测试电路在高频测试频率下对待测电路进行高速测试,而在低频测试频率下执行低速动作。
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公开(公告)号:CN102967819A
公开(公告)日:2013-03-13
申请号:CN201210051692.3
申请日:2012-03-01
申请人: 补丁科技股份有限公司
IPC分类号: G01R31/28
CPC分类号: G01R31/31932 , G01R31/31727 , G11C29/022 , G11C29/50012
摘要: 本发明提出一种高速测试电路与方法。该高速测试电路接收自一测试仪而来的测试仪频率,并对一待测电路进行测试,此高速测试电路包含:一倍频电路,其接收自该测试仪频率,产生N倍频率的频率输出,其中N为正实数;一测试频率产生器,其根据倍频电路的输出及测试仪频率,产生一测试频率,此测试频率在低频与高频之间切换;一测试讯号产生器,其根据该测试频率而操作,此测试讯号产生器产生测试讯号,以供传送给待测电路;以及一比较电路,其根据待测电路对测试讯号的响应讯号,产生比对结果,其中,此高速测试电路在高频测试频率下对待测电路进行高速测试,而在低频测试频率下执行低速动作。
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