高速测试电路与方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102967819B

    公开(公告)日:2014-12-17

    申请号:CN201210051692.3

    申请日:2012-03-01

    IPC分类号: G01R31/28

    摘要: 本发明提出一种高速测试电路与方法。该高速测试电路接收自一测试仪而来的测试仪频率,并对一待测电路进行测试,此高速测试电路包含:一倍频电路,其接收自该测试仪频率,产生N倍频率的频率输出,其中N为正实数;一测试频率产生器,其根据倍频电路的输出及测试仪频率,产生一测试频率,此测试频率在低频与高频之间切换;一测试讯号产生器,其根据该测试频率而操作,此测试讯号产生器产生测试讯号,以供传送给待测电路;以及一比较电路,其根据待测电路对测试讯号的响应讯号,产生比对结果,其中,此高速测试电路在高频测试频率下对待测电路进行高速测试,而在低频测试频率下执行低速动作。

    高速测试电路与方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102967819A

    公开(公告)日:2013-03-13

    申请号:CN201210051692.3

    申请日:2012-03-01

    IPC分类号: G01R31/28

    摘要: 本发明提出一种高速测试电路与方法。该高速测试电路接收自一测试仪而来的测试仪频率,并对一待测电路进行测试,此高速测试电路包含:一倍频电路,其接收自该测试仪频率,产生N倍频率的频率输出,其中N为正实数;一测试频率产生器,其根据倍频电路的输出及测试仪频率,产生一测试频率,此测试频率在低频与高频之间切换;一测试讯号产生器,其根据该测试频率而操作,此测试讯号产生器产生测试讯号,以供传送给待测电路;以及一比较电路,其根据待测电路对测试讯号的响应讯号,产生比对结果,其中,此高速测试电路在高频测试频率下对待测电路进行高速测试,而在低频测试频率下执行低速动作。