公开(公告)号：CN108572291A

公开(公告)日：2018-09-25

申请号：CN201810199883.1

申请日：2018-03-12

申请人： 基思利仪器有限责任公司

发明人： G.索波列夫斯基 ,  J.R.诺布尔 ,  F.J.弗雷斯四世

IPC分类号： G01R31/00

CPC分类号： G01R31/31924 ,  G01R31/31715 ,  G01R31/31717 ,  G01R31/31718 ,  G01R31/31908 ,  G01R31/31912 ,  G01R31/31932 ,  G01R31/00

摘要： 本发明涉及自动设备检测和连接验证。公开了一种包括多个端口的测试和测量仪器。端口被配置成将测试信号源发到待测设备（DUT）中并从DUT接收信号响应。该测试和测量仪器还包括测量单元，其被配置成测量信号响应。该测试和测量仪器进一步包括处理器，其被配置成将信号响应与数据结构进行比较。该处理器还基于比较的结果来确定耦合到端口中的至少一个的至少一个DUT组件的分类和/或与所述至少一个DUT组件的连接。

公开(公告)号：CN107888172A

公开(公告)日：2018-04-06

申请号：CN201710852792.9

申请日：2017-09-20

申请人： 瑞萨电子株式会社

发明人： 福冈一树 ,  植村俊文 ,  北地祐子 ,  冈崎叶助 ,  村山晓

IPC分类号： H03K17/22 ,  H03K3/011 ,  H03K3/03 ,  G01R19/165

CPC分类号： G01R19/16552 ,  G01R31/2851 ,  G01R31/31703 ,  G01R31/3177 ,  G01R31/318328 ,  G01R31/31932 ,  G01R31/31937 ,  G06F1/24 ,  G06F1/28 ,  H03K3/0315 ,  H03K5/133 ,  H03K17/22 ,  G01R19/16576 ,  H03K3/011 ,  H03K2217/0027

摘要： 本公开涉及半导体装置、半导体系统和半导体装置的控制方法。本发明的一个目的在于提供能够准确地监测要监测的电路的最低操作电压的半导体装置、半导体系统和半导体装置的控制方法。根据一个实施例，半导体系统的监测器单元包括：电压监测器，该电压监测器由与供应给作为要监测的电路的内部电路的第一电源电压不同的第二电源电压驱动，并监测第一电源电压；以及延迟监测器，该延迟监测器由第一电源电压驱动，并监测内部电路中的关键路径的信号传播时间段。

公开(公告)号：CN102967819B

公开(公告)日：2014-12-17

申请号：CN201210051692.3

申请日：2012-03-01

申请人： 补丁科技股份有限公司

发明人： 丁达刚 ,  王智彬 ,  王明弘 ,  吴俊鹏 ,  田立勤

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/31932 ,  G01R31/31727 ,  G11C29/022 ,  G11C29/50012

摘要： 本发明提出一种高速测试电路与方法。该高速测试电路接收自一测试仪而来的测试仪频率，并对一待测电路进行测试，此高速测试电路包含：一倍频电路，其接收自该测试仪频率，产生N倍频率的频率输出，其中N为正实数；一测试频率产生器，其根据倍频电路的输出及测试仪频率，产生一测试频率，此测试频率在低频与高频之间切换；一测试讯号产生器，其根据该测试频率而操作，此测试讯号产生器产生测试讯号，以供传送给待测电路；以及一比较电路，其根据待测电路对测试讯号的响应讯号，产生比对结果，其中，此高速测试电路在高频测试频率下对待测电路进行高速测试，而在低频测试频率下执行低速动作。

公开(公告)号：CN101133340A

公开(公告)日：2008-02-27

申请号：CN200680007171.0

申请日：2006-03-07

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 多田秀树 ,  堀光男 ,  片冈孝浩 ,  关口宏之

IPC分类号： G01R31/319 ,  G01R31/28

CPC分类号： G01R31/31932 ,  G01R31/31928 ,  G01R31/31937

摘要： 一种测试装置，利用测试由电子元件输出的多个输出讯号，各个发生变化的时序的相关性，而能以更高的精度来识别电子元件的良否。此测试装置将测试信号供给至电子元件，并将该电子元件输出的多个输出讯号来与期待值比较以测试电子元件。此测试装置包括：基准时序检测部，检测出一个输出讯号发生变化的现象；设定部，预先设定：由一个输出讯号发生变化到另一个输出讯号发生变化为止的最小时间；取入部，由检测出一个输出讯号发生变化时起，在已经过该最小时间的时序，取得另一个输出讯号之的值；以及识别部，取入部取得的该另一个输出讯号的值，与经过最小时间后的另一个输出讯号所应该取得的值不一致时，识别该电子元件为不良品。

公开(公告)号：CN1846141A

公开(公告)日：2006-10-11

申请号：CN200480025335.3

申请日：2004-09-08

申请人： 株式会社爱德万测试

发明人： 梅村芳春 ,  冈安俊幸 ,  淡路利明 ,  山川雅裕

IPC分类号： G01R31/316

CPC分类号： G01R31/31932 ,  G01R31/3191

摘要： 一种用于对装置测试的测试设备，包括：定时发生器，用于生成指明施加测试信号的定时的定时信号；多个定时延迟部件，用于延迟所述定时信号；多个驱动器，用于施加所述测试信号；采样器，用于对所述测试信号进行采样，以输出采样电压；比较器，用于输出指明所述采样电压是否高于参考电压的比较结果；确定部件，用于确定所述采样电压是否与所述参考电压一致；和定时校准部件，用于校准由所述多个定时延迟部件提供的定时信号中的延迟时间，从而使得将所述测试信号施加到该被测试装置的定时彼此一致。

公开(公告)号：CN102422173A

公开(公告)日：2012-04-18

申请号：CN200980159217.4

申请日：2009-05-25

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 鹫津信荣

IPC分类号： G01R31/319

CPC分类号： G01R33/032 ,  G01R31/31922 ,  G01R31/31932 ,  G01R33/0029

摘要： 本发明提供一种接收装置，其使用从接收信号的边缘再生的再生时钟来导入所述接收信号。该接收装置具有：生成再生时钟的再生时钟生成部；与再生时钟的脉冲对应，产生相位彼此相异的多个选通的多重选通产生部；检测部，基于多个选通的各自时序中的接收信号的值，检测相对于多个选通的接收信号的边缘位置；调整部，其对应接收信号的边缘位置，调整再生时钟的相位；以及导入部，其在相对于再生时钟偏离了预先设定的设定相位差的量的时序中，导入接收信号。

公开(公告)号：CN101133340B

公开(公告)日：2011-02-23

申请号：CN200680007171.0

申请日：2006-03-07

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 多田秀树 ,  堀光男 ,  片冈孝浩 ,  关口宏之

IPC分类号： G01R31/319 ,  G01R31/28

CPC分类号： G01R31/31932 ,  G01R31/31928 ,  G01R31/31937

摘要： 一种测试装置，利用测试由电子元件输出的多个输出讯号，各个发生变化的时序的相关性，而能以更高的精度来识别电子元件的良否。此测试装置将测试信号供给至电子元件，并将该电子元件输出的多个输出讯号来与期待值比较以测试电子元件。此测试装置包括：基准时序检测部，检测出一个输出讯号发生变化的现象；设定部，预先设定：由一个输出讯号发生变化到另一个输出讯号发生变化为止的最小时间；取入部，由检测出一个输出讯号发生变化时起，在已经过该最小时间的时序，取得另一个输出讯号之的值；以及识别部，取入部取得的该另一个输出讯号的值，与经过最小时间后的另一个输出讯号所应该取得的值不一致时，识别该电子元件为不良品。

公开(公告)号：CN100507587C

公开(公告)日：2009-07-01

申请号：CN200510123708.7

申请日：2005-11-18

申请人： 安捷伦科技有限公司

发明人： 罗纳德·J·派弗 ,  凯文·L·维贝

IPC分类号： G01R31/28 ,  G01R31/00

CPC分类号： G01R31/31924 ,  G01R31/31932

摘要： 本发明公开了一种电子放电电路。放电电路包括具有第一电流源输入和第一电流源输出的第一电流源以及具有第一、第二、第三和第四控制触点的电流控制电路。电子电路的电子电路元件具有第一和第二元件触点。如果第一控制触点和第一电流源输入电连接，第二控制触点和第一电流源输出电连接，第三控制触点和第一元件触点电连接，且第四控制触点和第二元件触点电连接，并且如果电子电路元件被充电，则对电子电路元件放电的电流被限制为来自第一电流源的电流，否则，当这样连接时，对电子电路元件放电的电流为0，并且来自第一电流源的电流流入第二控制触点，并从第一控制触点流出。

公开(公告)号：CN101310342A

公开(公告)日：2008-11-19

申请号：CN200780000113.X

申请日：2007-03-22

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 小泽大树 ,  佐藤新哉

IPC分类号： G11C29/44 ,  G11C16/06 ,  G11C17/00 ,  G01R31/28

CPC分类号： G01R31/31932 ,  G11C29/56 ,  G11C29/56008 ,  G11C2029/5606

摘要： 本发明提供一种对用于存储附加了错误订正符号的数据流的被测试存储器(以下称为DUT)进行有效测试的测试装置。该测试装置将从DUT读取的数据流所包含的各比特与期望值相比较。该比较结果作为表示DUT的每个存储单元是否合格的比特合格/失效信息被存储在第一失效存储器(以下称为FM)中。存储装置在每一页统计与期望值不一致的比特数，并在DUT的每一级别及每一页，判断与期望值不一致的比特数是否满足该级别的条件。该判断结果作为在每个级别表示各页是否合格的页合格/失效信息被存储在第二FM中。如果包含有对应某存储单元的比特的页满足某级别条件的比特合格信息存储在第二FM中，则测试装置将第一FM的比特合格/失效信息变更为表示该存储单元合格的值进行输出。

公开(公告)号：CN101273559A

公开(公告)日：2008-09-24

申请号：CN200680035072.3

申请日：2006-09-22

申请人： 泰拉丁公司

发明人： 罗纳德·A·萨特斯奇夫 ,  欧内斯特·P·沃克

IPC分类号： H04B17/00

CPC分类号： G01R31/31922 ,  G01R31/31932

摘要： 一种系统和设备产生时间标记，用于标识和记录诸如在数据信号或者时钟信号中接收的边缘之类的事件的时间。可以通过将外部时钟信号路由到具有递增的延迟值的延迟元件来产生一组选通脉冲。数据信号或者被测装置的时钟信号可以被应用到由选所述通脉冲进行时钟控制的一组锁存器的每一个的输入。所述一组锁存器可以由此捕获所述数据信号或者时钟信号的一系列采样。所述系列的采样可以被编码为时钟周期内的边缘时间。可将时钟周期计数器添加到所述边缘时间以产生所述时间标记。