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公开(公告)号：CN114649011B
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202210338741.5
申请日：2022-03-31
申请人： 西安紫光国芯半导体有限公司
IPC分类号： G11C7/10 , G11C11/413
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公开(公告)号：CN109753394B
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN201811643058.2
申请日：2018-12-29
申请人： 西安紫光国芯半导体有限公司
摘要： 本发明一种实时调试固件配置信息的电路及方法，电路包括寄存器链，和与固件配置信号一一对应的选择器；选择器的一个输入端连接固件配置信号，另一个输入端连接寄存器链输出的固件配置切换信号，控制端连接寄存器链输出的固件配置选择控制信号，输出端输出的选择信号用于固件配置；方法包括步骤1，在寄存器链中分别查找发出固件配置切换信号和固件配置选择控制信号的目标寄存器的位置；步骤2，通过芯片支持的配置接口协议配置寄存器链中的目标寄存器；步骤3，通过固件配置选择控制信号，对选择器中输入的固件配置信号和固件配置切换信号进行选择，控制输出的选择信号用于固件配置。确保不破坏之前的芯片配置，极大降低测试的复杂度和成本。
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公开(公告)号：CN109753394A
公开(公告)日：2019-05-14
申请号：CN201811643058.2
申请日：2018-12-29
申请人： 西安紫光国芯半导体有限公司
摘要： 本发明一种实时调试固件配置信息的电路及方法，电路包括寄存器链，和与固件配置信号一一对应的选择器；选择器的一个输入端连接固件配置信号，另一个输入端连接寄存器链输出的固件配置切换信号，控制端连接寄存器链输出的固件配置选择控制信号，输出端输出的选择信号用于固件配置；方法包括步骤1，在寄存器链中分别查找发出固件配置切换信号和固件配置选择控制信号的目标寄存器的位置；步骤2，通过芯片支持的配置接口协议配置寄存器链中的目标寄存器；步骤3，通过固件配置选择控制信号，对选择器中输入的固件配置信号和固件配置切换信号进行选择，控制输出的选择信号用于固件配置。确保不破坏之前的芯片配置，极大降低测试的复杂度和成本。
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公开(公告)号：CN114649011A
公开(公告)日：2022-06-21
申请号：CN202210338741.5
申请日：2022-03-31
申请人： 西安紫光国芯半导体有限公司
IPC分类号： G11C7/10 , G11C11/413
摘要： 本申请公开一种存储器的数据传输装置、数据传输方法及相关设备，涉及半导体技术领域，能够提高数据传输装置对于传输数据位宽的兼容性。存储器的数据传输装置，包括：配置模块，所述配置模块用于获取所述存储器的位宽和传输数据的位宽；处理模块，所述处理模块与所述配置模块通讯连接，响应于所述传输数据的位宽与所述存储器的位宽不匹配，所述处理模块用于基于所述存储器的位宽对所述传输数据进行位宽转换，并基于转换后的位宽将位宽转换后的所述传输数据传输至所述存储器。
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公开(公告)号：CN117093521A
公开(公告)日：2023-11-21
申请号：CN202210517547.3
申请日：2022-05-12
申请人： 西安紫光国芯半导体有限公司
发明人： 夏川
摘要： 本发明公开了一种双端口存储器的读写方法、电路及堆叠存储器，其中所述的双端口存储器的读写方法，包括：响应于第一端口与第二端口同时使能，则判断第一端口与第二端口接收到的处理信号是否存在冲突；响应于所述第一端口与第二端口对应的处理信号存在冲突，则基于第一端口与第二端口的优先级执行与处理信号匹配的操作。本发明可提高双端口存储器的读写操作效率。
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公开(公告)号：CN114740329A
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202210334591.0
申请日：2022-03-30
申请人： 西安紫光国芯半导体有限公司
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/3185 , H03L7/18
摘要： 本申请涉及芯片测试技术领域。公开了一种数据比对装置、数据比对方法及芯片测试仪，该数据比对装置包括：数据比对模组，数据比对模组包括第一输入端、第二输入端和输出端；第二输入端用于连接外部设备，被配置为从外部设备接收期望数据；第一输入端用于连接芯片测试设备，芯片测试设备用于测试待测试芯片，并输出待测试芯片的测试数据，第一输入端被配置为从芯片测试设备接收测试数据；其中，响应于芯片测试设备输出测试数据，第一输入端接收测试数据，并将测试数据与期望数据进行比对，以得到数据比对结果。通过上述的数据比对装置，能够根据寄存模组存储的参数实时地比对测试数据和期望数据，保证芯片测试的实时性以及提高芯片测试效率。
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