公开(公告)号：CN118735025A

公开(公告)日：2024-10-01

申请号：CN202410365443.4

申请日：2024-03-28

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 约翰·卡利吉安尼斯 ,  刘少鹏 ,  詹姆斯·维拉登伯格·米勒 ,  朱培洪 ,  大卫·坎廷 ,  乔纳森·R·霍特曼

IPC: G06Q10/04 ,  G01B11/24 ,  G01B11/02 ,  G06F18/24 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/09

Abstract: 控制电路可以评估来自第一部件的检查的检查结果，然后将这些检查结果输入到第一机器学习模型。检查结果包括潜在磨损指示。通过一种方法，使用训练语料库来训练第一机器学习模型，该训练语料库包括至少与第一部件相似的先前被检查部件的检查结果。第一机器学习模型可以输出评估信息，该评估信息通过一种方法将一些潜在磨损指示识别为相关。通过一种方法，上述评估信息可以被输入到使用训练语料库进行训练的第二机器学习模型，该训练语料库包括来自相同第一部件的先前检查的历史结果，并且其中第二机器学习模型输出关于第一部件的重复物理处理是否会产生特定结果的预测信息。

公开(公告)号：CN111220582A

公开(公告)日：2020-06-02

申请号：CN201911172989.3

申请日：2019-11-26

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 边霄 ,  史蒂文斯·布沙尔 ,  大卫·坎廷 ,  史蒂芬尼·哈雷尔 ,  约翰·卡里吉亚尼斯 ,  大卫·斯科特·迪温斯基 ,  伯纳德·布莱

IPC: G01N21/64

Abstract: 一种检查系统，包括一个或多个处理器，该一个或多个处理器以紫外线(UV)设定获得其上具有荧光染料的工件的第一图像，并且以可见光设定获得工件的第二图像。通过一个或多个成像设备在相对于工件的相同位置产生第一图像和第二图像。一个或多个处理器基于一个或多个像素的光特性来识别第一图像的候选区，并且确定与第一图像的候选区处于类似地点的第二图像的对应候选区。一个或多个处理器分析两个候选区，以检测在工件的表面上的潜在缺陷以及潜在缺陷相对于工件的表面的地点。