具有第二射线管/检测器修补的CT成像系统和方法

    公开(公告)号:CN101375798B

    公开(公告)日:2012-02-22

    申请号:CN200810214276.4

    申请日:2008-08-29

    CPC classification number: A61B6/4014 A61B6/032 A61B6/4241 G01T1/2985

    Abstract: 本发明涉及具有第二射线管/检测器修补的CT成像系统和方法。一种CT成像系统(10),包括可旋转台架(12),具有接收要扫描的目标物体(22)的开口(48);第一x射线发射源(90,190),连接到所述可旋转台架(12)并且配置为朝目标物体(22)发射x射线;以及第二x射线发射源(92,192),连接到所述可旋转台架(12)并且配置为朝目标物体(22)发射x射线。第一检测器(100,200)配置为接收从第一x射线发射源(90,190)发射的x射线,第二检测器(106,206),配置为接收从第二x射线发射源(92,192)发射的x射线。第一检测器(100,200)的第一部分配置为工作在积分模式,第二检测器(106,220)的第一部分配置为工作在至少光子计数模式。

    用于双能源计算机X射线断层摄像(CT)系统的快速切换方法

    公开(公告)号:CN101569533A

    公开(公告)日:2009-11-04

    申请号:CN200910138164.X

    申请日:2009-04-29

    Abstract: 公开了一种在双能源计算机X射线断层摄像(CT)系统(100)中便于在两个明显不同峰值千伏特(kVp)投影之间进行切换的方法。该方法包括设置X射线管(104)的电流数值,其中X射线管(104)可以两个或者多个明显不同的kVp向目标发射X射线。调整在两个kVp之间的相对视图时间(s),以便通过将电流设置基本上保持恒定不变来调制电流-视图时间(mAs)的乘积。另外,根据mAs乘积计算持续时间比率(R)。持续时间比率(R)定义了在其后必须切换kVp的持续时间。

    具有第二射线管/检测器修补的CT成像系统和方法

    公开(公告)号:CN101375798A

    公开(公告)日:2009-03-04

    申请号:CN200810214276.4

    申请日:2008-08-29

    CPC classification number: A61B6/4014 A61B6/032 A61B6/4241 G01T1/2985

    Abstract: 本发明涉及具有第二射线管/检测器修补的CT成像系统和方法。一种CT成像系统(10),包括可旋转台架(12),具有接收要扫描的目标物体(22)的开口(48);第一x射线发射源(90,190),连接到所述可旋转台架(12)并且配置为朝目标物体(22)发射x射线;以及第二x射线发射源(92,192),连接到所述可旋转台架(12)并且配置为朝目标物体(22)发射x射线。第一检测器(100,200)配置为接收从第一x射线发射源(90,190)发射的x射线,第二检测器(106,206),配置为接收从第二x射线发射源(92,192)发射的x射线。第一检测器(100,200)的第一部分配置为工作在积分模式,第二检测器(106,220)的第一部分配置为工作在至少光子计数模式。

    用于双能量CT的快速KVP切换的系统和方法

    公开(公告)号:CN101726502B

    公开(公告)日:2014-03-12

    申请号:CN200910211325.3

    申请日:2009-10-26

    CPC classification number: H01J35/06 H01J35/045 H01J2235/068

    Abstract: CT系统包括:可旋转机架,其具有用于接纳待扫描对象的开口;以及x射线源,其耦合到机架并且配置成通过开口投射x射线。x射线源包括靶、配置成向靶发射第一电子束的第一阴极、耦合到第一阴极的第一栅格电极、配置成向靶发射第二电子束的第二阴极以及耦合到第二阴极的第二栅格电极。系统包括:发生器,配置成将第一阴极激励到第一kVp并且将第二阴极激励到第二kVp;以及检测器,连到机架并且定位成接收经过开口的x射线。系统还包括控制器,它配置成将栅格电压施加到第一栅格电极以阻挡第一电子束向靶的发射,将栅格电压施加到第二栅格电极以阻挡第二电子束向靶的发射,以及从检测器采集双能量成像数据。

    源于有效原子序数计算的材料成分检测

    公开(公告)号:CN101598686A

    公开(公告)日:2009-12-09

    申请号:CN200910140680.6

    申请日:2009-06-05

    Inventor: X·吴

    Abstract: 本发明名称为“源于有效原子序数计算的材料成分检测”。提供一种用于计算形成通过放射线形态成像的物体的材料的原子序数的技术。该方法包括访问物体的第一单色图像和第二单色图像(76),第一单色图像在第一能量级采集,并且第二单色图像在第二能量级采集。第一单色图像与第二单色图像之间的质量衰减系数的比率可获得(78)。基于质量衰减系数的比率,可计算物体的材料的原子序数(82)。

    用于双能量CT的快速KVP切换的系统和方法

    公开(公告)号:CN101726502A

    公开(公告)日:2010-06-09

    申请号:CN200910211325.3

    申请日:2009-10-26

    CPC classification number: H01J35/06 H01J35/045 H01J2235/068

    Abstract: 用于双能量CT的快速KVP切换的系统和方法。CT系统包括:可旋转机架,其具有用于接纳待扫描对象的开口;以及x射线源,其耦合到机架并且配置成通过开口投射x射线。x射线源包括靶、配置成向靶发射第一电子束的第一阴极、耦合到第一阴极的第一栅格电极、配置成向靶发射第二电子束的第二阴极以及耦合到第二阴极的第二栅格电极。系统包括:发生器,配置成将第一阴极激励到第一kVp并且将第二阴极激励到第二kVp;以及检测器,连到机架并且定位成接收经过开口的x射线。系统还包括控制器,它配置成将栅格电压施加到第一栅格电极以阻挡第一电子束向靶的发射,将栅格电压施加到第二栅格电极以阻挡第二电子束向靶的发射,以及从检测器采集双能量成像数据。

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