一种SiC MOSFET器件键合线老化监测电路及在线监测方法

    公开(公告)号:CN116626464A

    公开(公告)日:2023-08-22

    申请号:CN202310578346.9

    申请日:2023-05-22

    IPC分类号: G01R31/26

    摘要: 本发明公开一种SiC MOSFET器件键合线老化监测电路及在线监测方法,所述电路包括峰值检测电路、模数转换电路和控制运算单元;峰值检测电路包括第一峰值检测电路和第二峰值检测电路;第一峰值检测电路获取器件外部KS端子和S端子之间的电压VKS‑S,第二峰值检测电路获取器件电路中杂散电感上的电压VCIR;模数转换电路用于对峰值检测电路获取的电压值进行转换,并传给控制运算单元;控制运算单元发出指令,并对模数转换电路获取的数据进行计算,将VKS‑S和VCIR的比值作为SiC MOSFET器件键合线疲劳老化的特征量指标。具有构思巧妙,设计合理,结构简单等特点,能够在器件开通瞬态过程中提取出老化特征量并进行键合线老化监测。

    基于频率耦合特征量的并网稳定性分析方法

    公开(公告)号:CN113972692A

    公开(公告)日:2022-01-25

    申请号:CN202111315006.4

    申请日:2021-11-08

    IPC分类号: H02J3/38

    摘要: 本发明公开了一种基于频率耦合特征量的并网稳定性分析方法,包括步骤:S1.确定考虑频率耦合现象的等效导纳模型;S2.基于考虑频率耦合现象的等效导纳模型,定义频率耦合特征量;S3.构建频率耦合特征量的求解方程;S4.测量不同电网阻抗下的等效导纳,并将所述等效导纳带入所述求解方程,计算得到频率耦合特征量;S5.将所述频率耦合特征量作为表征参数来分析并网的稳定性。本发明能够有效可行地测量频率耦合特征量,避免了互导纳的测量,进而对并网系统的稳定性进行准确有效地分析。

    一种SiC MOSFET器件栅极退化监测方法及监测电路

    公开(公告)号:CN116859205A

    公开(公告)日:2023-10-10

    申请号:CN202310888313.4

    申请日:2023-07-19

    IPC分类号: G01R31/26

    摘要: 本发明提供一种沟槽栅型SiC MOSFET器件栅极退化监测方法和监测电路。该方法利用SiC MOSFET器件第三象限零栅压、不同结温下的输出特性曲线交点处的体二极管压降作为特征量。在双脉冲电路中,下管待测SiC MOSFET器件的栅压始终保持零栅压;在电感电流通过下管待测SiC MOSFET器件续流时,侦测交点电流下待测SiC MOSFET器件的体二极管压降值,通过与全新器件在该交点电流下的体二极管压降值作对比以判断待测SiC MOSFET器件是否发生了栅极退化。本发明能够忽略结温的影响实现SiC MOSFET器件栅极退化的准确监测,且是一个很好的在线监测的候选方法,可以避免因停机检测造成的经济损失。