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公开(公告)号：CN114216895B
公开(公告)日：2023-08-15
申请号：CN202111298561.0
申请日：2021-11-04
申请人： 钢研纳克检测技术股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种辉光放电分析表征用样品盒及使用方法。样品盒包括样品盒体、样品盒盖、第二阴极板、样品精确定位夹具、顶块和定位弹簧；样品盒盖和第二阴极板分别安装在样品盒体的前端和后端；样品精确定位夹具可拆卸地固接在样品盒体的内壁上，用于夹持样品并通过刻度线准确定位样品，样品精确定位夹具的后端面与样品的分析表面位于同一平面，并均与第二阴极板紧密接触；顶块和定位弹簧依次布置在样品精确定位夹具与样品盒盖之间，将样品精确定位夹具压紧定位。本发明大大地扩展了辉光放电分析表征的样品分析的适用范围，改善了辉光放电分析表征性能，具有样品位置定位精确、结构简单、使用方便可靠的特点。
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公开(公告)号：CN114354576B
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN202210004052.0
申请日：2022-01-05
申请人： 钢研纳克检测技术股份有限公司
摘要： 本发明提供了一种用于辉光分析中的小样品分析方法，包括：S1，将小样品的待分析面置于镶样机的底部中间位置，通过热镶的方法将小样品镶嵌在导电树脂中，小样品的待分析面对外裸露，对镶嵌好的小样品进行磨抛处理，以符合辉光分析对样品表面的要求；S2，对于磨抛处理后的小样品周边的导电树脂区域，覆盖微米级厚的难溅射高纯金属箔；S3，将以上步骤处理好的小样品放入辉光分析仪中进行分析，放置小样品时，小样品的待分析面的中心对准辉光源阳极筒的中心，使小样品处于辉光分析区域；S4，设置好相应的辉光放电参数，按辉光分析程序进行分析。本发明用于对面积小的小样品和薄片/膜小样品进行辉光放电分析，具有操作简便、费用低、快速实用等优点。
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公开(公告)号：CN114354576A
公开(公告)日：2022-04-15
申请号：CN202210004052.0
申请日：2022-01-05
申请人： 钢研纳克检测技术股份有限公司
摘要： 本发明提供了一种用于辉光分析中的小样品分析方法，包括：S1，将小样品的待分析面置于镶样机的底部中间位置，通过热镶的方法将小样品镶嵌在导电树脂中，小样品的待分析面对外裸露，对镶嵌好的小样品进行磨抛处理，以符合辉光分析对样品表面的要求；S2，对于磨抛处理后的小样品周边的导电树脂区域，覆盖微米级厚的难溅射高纯金属箔；S3，将以上步骤处理好的小样品放入辉光分析仪中进行分析，放置小样品时，小样品的待分析面的中心对准辉光源阳极筒的中心，使小样品处于辉光分析区域；S4，设置好相应的辉光放电参数，按辉光分析程序进行分析。本发明用于对面积小的小样品和薄片/膜小样品进行辉光放电分析，具有操作简便、费用低、快速实用等优点。
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公开(公告)号：CN115493902A
公开(公告)日：2022-12-20
申请号：CN202211127081.2
申请日：2022-09-16
申请人： 钢研纳克检测技术股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种用于材料显微组织观测的小样品的制备装置及其使用方法，所述制备装置包括：样品磨抛夹具、固定螺丝和样品支柱，样品磨抛夹具内放置样品支柱，样品支柱上粘接待磨抛的小样品；样品磨抛夹具的侧壁设置多个螺丝孔，固定螺丝穿过螺丝孔，抵在样品支柱的侧壁，当小样品的表面与样品磨抛夹具的磨抛面相齐平，固定螺丝与样品支柱抵紧，将放入的样品支柱固定。所述使用方法对装配完毕带有小样品的制备装置按正常的磨抛流程进行样品制备，制备完成后小样品的磨抛面即可直接用于材料显微组织观测。本发明可以满足对薄、小样品的方便、高效、稳定的磨抛制备，同时磨抛完的小样品可以装配在制备装置上直接进行显微组织观测和离子束处理。
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公开(公告)号：CN116148293B
公开(公告)日：2023-08-15
申请号：CN202310443808.6
申请日：2023-04-24
申请人： 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/2202 , G01N23/2251
摘要： 本发明公开了一种基于辉光溅射制备的材料显微组织三维重构方法，涉及材料分析表征技术领域，包括辉光溅射逐层制备定位、显微组织图像采集定位和显微组织三维重构定位，分别通过以上不同阶段的样品位置定位，从而实现对样品同一位置沿表面深度方向的逐层制备，使用扫描电镜对样品同一区域的深度方向上不同层进行显微组织图像的采集，以及可将采集到带有标记点的不同层的显微组织图像用于三维重构。本发明可以实现对mm~cm级大尺寸样品的位置精确定位及逐层制备、相同区域的显微组织图像采集及满足材料组织结构三维重构对定位的需求，方法系统连贯、操作简便。
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公开(公告)号：CN116148293A
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202310443808.6
申请日：2023-04-24
申请人： 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/2202 , G01N23/2251
摘要： 本发明公开了一种基于辉光溅射制备的材料显微组织三维重构方法，涉及材料分析表征技术领域，包括辉光溅射逐层制备定位、显微组织图像采集定位和显微组织三维重构定位，分别通过以上不同阶段的样品位置定位，从而实现对样品同一位置沿表面深度方向的逐层制备，使用扫描电镜对样品同一区域的深度方向上不同层进行显微组织图像的采集，以及可将采集到带有标记点的不同层的显微组织图像用于三维重构。本发明可以实现对mm~cm级大尺寸样品的位置精确定位及逐层制备、相同区域的显微组织图像采集及满足材料组织结构三维重构对定位的需求，方法系统连贯、操作简便。
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公开(公告)号：CN112067391A
公开(公告)日：2020-12-11
申请号：CN202010951252.8
申请日：2020-09-11
申请人： 钢研纳克检测技术股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种用于材料显微表征的辉光放电溅射样品制备的装置及方法，装置包括辉光放电溅射单元、辉光放电供能源、气路自动控制单元、光谱仪和计算机；对辉光放电溅射单元结构通过模拟优化以更加适合样品制备，并通过施加一个磁场于辉光等离子体实现在样品表面大尺寸范围内均匀样品溅射；光谱仪用于监控样品溅射深度方向上元素光谱信号，以实现不同层组织结构的精确制备；结合样品位置标记与精确空间坐标(x,y,z)信息的获取，实现样品制备表面空间坐标与组织结构的对应。本发明可以实现样品mm～cm级大尺寸平坦制备、对材料组织结构无损伤、可沿样品表面深度方向逐层制备，制备快速、费用低。
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公开(公告)号：CN109884104B
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN201910192461.6
申请日：2019-03-14
申请人： 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/2202 , G01N23/2251
摘要： 本发明涉及一种材料组织结构大尺寸高通量定量表征三维重构设备和方法，所述设备包括辉光放电溅射单元、样品传送装置、扫描电镜单元和GPU计算机工作站。辉光放电溅射单元可实现样品大尺寸(cm级)、近平坦、快速制备样品，并可控地实现沿样品表面深度方向逐层剥蚀制样，快速扫描电镜实现样品特征图谱大尺寸、高通量地获取，样品传送装置负责将样品在辉光放电溅射光源和扫描电镜之间来回准确定位地传送，GPU计算机工作站将获取的样品特征图谱拼接、处理、识别和定量分布表征，以及对逐层溅射制样的样品组织结构进行三维重构；该设备和方法能实现cm级大尺寸样品的快速制备、特征图谱高通量的获取与评价、微观组织结构的定量统计分布表征及三维重构。
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公开(公告)号：CN112067391B
公开(公告)日：2023-10-10
申请号：CN202010951252.8
申请日：2020-09-11
申请人： 钢研纳克检测技术股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种用于材料显微表征的辉光放电溅射样品制备的装置及方法，装置包括辉光放电溅射单元、辉光放电供能源、气路自动控制单元、光谱仪和计算机；对辉光放电溅射单元结构通过模拟优化以更加适合样品制备，并通过施加一个磁场于辉光等离子体实现在样品表面大尺寸范围内均匀样品溅射；光谱仪用于监控样品溅射深度方向上元素光谱信号，以实现不同层组织结构的精确制备；结合样品位置标记与精确空间坐标(x,y,z)信息的获取，实现样品制备表面空间坐标与组织结构的对应。本发明可以实现样品mm～cm级大尺寸平坦制备、对材料组织结构无损伤、可沿样品表面深度方向逐层制备，制备快速、费用低。
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公开(公告)号：CN114216895A
公开(公告)日：2022-03-22
申请号：CN202111298561.0
申请日：2021-11-04
申请人： 钢研纳克检测技术股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种辉光放电分析表征用样品盒及使用方法。样品盒包括样品盒体、样品盒盖、第二阴极板、样品精确定位夹具、顶块和定位弹簧；样品盒盖和第二阴极板分别安装在样品盒体的前端和后端；样品精确定位夹具可拆卸地固接在样品盒体的内壁上，用于夹持样品并通过刻度线准确定位样品，样品精确定位夹具的后端面与样品的分析表面位于同一平面，并均与第二阴极板紧密接触；顶块和定位弹簧依次布置在样品精确定位夹具与样品盒盖之间，将样品精确定位夹具压紧定位。本发明大大地扩展了辉光放电分析表征的样品分析的适用范围，改善了辉光放电分析表征性能，具有样品位置定位精确、结构简单、使用方便可靠的特点。
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