一种变流器
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101345470A

    公开(公告)日:2009-01-14

    申请号:CN200810212230.9

    申请日:2008-09-04

    摘要: 本发明涉及一种变流器包括连接器,所述连接器包括第一插座和第二插座,以及分别与第一插座和第二插座配合的第一短接插头和第二短接插头;第一插座为耐压试验侧插座,用于连接变流器耐压试验时需要短接的线;第二插座为正常工作侧插座,用于连接变流器正常工作时需要检测的线或者进行故障模拟的信号线;第一短接插头与第一插座配合插装时,短接第一插座中相应的需要短接的线;第二短接插头与第二插座配合插装时,短接第二插座中相应的需要短接的线。本发明提供一种变流器,不但满足电路的电气性能要求,而且也能兼顾方便的试验操作、提高试验效率,并且为变流器提供了集中的检测点,增加了故障模拟工作的可行性。

    一种变流器
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101345470B

    公开(公告)日:2011-01-12

    申请号:CN200810212230.9

    申请日:2008-09-04

    摘要: 本发明涉及一种变流器包括连接器,连接器包括第一、二插座,以及分别与第一、二插座配合的第一、二短接插头;第一插座为耐压试验侧插座,用于连接变流器耐压试验时需要短接的线;第二插座为正常工作侧插座,用于连接变流器正常工作时需要检测的线或者进行故障模拟的信号线;第一短接插头与第一插座配合插装时,短接第一插座中相应的需要短接的线;第二短接插头与第二插座配合插装时,短接第二插座中相应的需要短接的线;第一、二短接插头具体为满足第一、二短接插头的功能活动短接插头。本发明提供一种变流器,不但满足电路的电气性能要求,也能兼顾方便的试验操作、提高试验效率,并且为变流器提供了集中的检测点,增加了故障模拟工作的可行性。

    一种半导体功率器件斩波测试电路及方法

    公开(公告)号:CN101344572B

    公开(公告)日:2010-06-09

    申请号:CN200810212231.3

    申请日:2008-09-04

    IPC分类号: G01R31/26 G01R31/28 G01R19/00

    摘要: 本发明公开了一种半导体功率器件斩波测试电路,采用电感作为测试负载,在对第一半导体功率器件的恢复电压进行测试时,连接电感和电源正极,在对第二半导体功率器件的恢复电压进行测试时,连接电感和电源负极。本发明还公开了一种半导体功率器件斩波测试方法,当对第一半导体功率器件进行测试时,控制第二半导体功率器件动作,测得第一半导体功率器件的恢复电压值,当对第二半导体功率器件进行测试时,控制第一半导体功率器件动作,测得第二半导体功率器件的恢复电压值。本发明所提供的测试电路及方法可以实现对半导体功率器件中续流二极管的恢复电压的有效测试。

    一种变流器检测方法及系统

    公开(公告)号:CN101344565A

    公开(公告)日:2009-01-14

    申请号:CN200810212232.8

    申请日:2008-09-04

    IPC分类号: G01R31/00 G01R31/02

    摘要: 本发明涉及一种变流器检测方法包括将变流器与可调电源相连;预先设定所述变流器中额定输入电压、电流及控制参数之间比例关系的缩小比例;调节可调电源,使所述变流器的实际输入电压为所述额定输入电压的所述缩小比例的倍数;将所述实际输入电压、电流及控制参数按照所述缩小比例的倒数倍数放大后控制所述变流器;检测所述变流器内部部件的工作状况。本发明提供一种变流器检测方法及系统,在接入高压电源前尽可能的找出故障隐患,降低了高压检测的风险。

    一种变流器检测方法及系统

    公开(公告)号:CN101344565B

    公开(公告)日:2010-05-12

    申请号:CN200810212232.8

    申请日:2008-09-04

    IPC分类号: G01R31/00 G01R31/02

    摘要: 本发明涉及一种变流器检测方法包括将变流器与可调电源相连;预先设定所述变流器中额定输入电压、电流及控制参数之间比例关系的缩小比例;调节可调电源,使所述变流器的实际输入电压为所述额定输入电压的所述缩小比例的倍数;将所述实际输入电压、电流及控制参数按照所述缩小比例的倒数倍数放大后控制所述变流器;检测所述变流器内部部件的工作状况。本发明提供一种变流器检测方法及系统,在接入高压电源前尽可能的找出故障隐患,降低了高压检测的风险。

    一种半导体功率器件斩波测试电路及方法

    公开(公告)号:CN101344572A

    公开(公告)日:2009-01-14

    申请号:CN200810212231.3

    申请日:2008-09-04

    IPC分类号: G01R31/26 G01R31/28 G01R19/00

    摘要: 本发明公开了一种半导体功率器件斩波测试电路,采用电感作为测试负载,在对第一半导体功率器件的恢复电压进行测试时,连接电感和电源正极,在对第二半导体功率器件的恢复电压进行测试时,连接电感和电源负极。本发明还公开了一种半导体功率器件斩波测试方法,当对第一半导体功率器件进行测试时,控制第二半导体功率器件动作,测得第一半导体功率器件的恢复电压值,当对第二半导体功率器件进行测试时,控制第一半导体功率器件动作,测得第二半导体功率器件的恢复电压值。本发明所提供的测试电路及方法可以实现对半导体功率器件中续流二极管的恢复电压的有效测试。

    一种变流装置的散热装置

    公开(公告)号:CN201260124Y

    公开(公告)日:2009-06-17

    申请号:CN200820054320.5

    申请日:2008-09-02

    IPC分类号: H02M1/00 H05K7/20

    摘要: 一种变流装置的散热系统结构,在器件箱内至少装有电力电子功率器件、电抗器、电力电子控制器件,以及电力电子功率器件散热器,且散热器置于与电力电子功率器件和电力电子控制器件隔离的散热风道内,电力电子功率器件通过隔板与散热风道隔离,电力电子控制器件也通过隔板与散热风道隔离;在器件箱一侧的下部开有风道的进风口,在器件箱另一侧的上部开有风道的出风口,散热器置于进风口与出风口之间的风道段内,整个散热风道是从器件箱下部进风口进入到散热器下面,再通过散热器下面上升到散热器上面,再经由器件箱上部出风口,形成的一条先由入口进入,在散热器处再由下往上,再通往出口的风道。在散热器段的风道下部设有强制吹风风机。