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公开(公告)号：CN102590635B
公开(公告)日：2014-07-02
申请号：CN201210000835.8
申请日：2012-01-04
申请人： 阿尔卑斯电气株式会社
发明人： 尾屋隼一郎
IPC分类号： G01R27/26
CPC分类号： G06F3/044 , G06F3/0416 , H03K2217/960725
摘要： 一种电容检测装置，能以比调整用电容元件的最小值更高精度来调整偏移。电容检测装置(10)具备偏移调整电路(14)，偏移调整电路(14)用于从自电荷读取机构(12)向积分器(13)传输的电荷中去除偏移，偏移调整电路(14)具备：可变电容元件(21)，其由多个电容元件构成，且通过对被并联连接于传输线路的电容元件个数进行切换来设定为规定电容值；和调整用电容元件(23)，其与可变电容元件(21)并联连接，且是构成可变电容元件(21)的电容元件的最小值。偏移调整电路(14)被驱动控制为：在M次反复由可变电容元件(21)进行偏移去除的期间，仅N次(M＞N，M、N为自然数)由调整用电容元件(23)进行偏移去除。
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公开(公告)号：CN102221646A
公开(公告)日：2011-10-19
申请号：CN201110065420.4
申请日：2011-03-11
申请人： 阿尔卑斯电气株式会社
IPC分类号： G01R27/26
摘要： 本发明的电容检测装置和电容检测方法即使在噪声多的环境下，也能够稳定地检测静电电容的变化。该电容检测装置包括：以规定周期将用于充电被检测电容(Cf、Cs)的电压电平切换为多个电压电平的开关(SW1、SW2)；被分配充电到被检测电容(Cf、Cs)的电荷的多个分配电容(Cdp、Cdn)；以规定周期将用于初始化分配电容(Cdp、Cdn)的电压电平设定为多个电压电平的第二开关(SW5、SW6)；按照从被检测电容(Cf、Cs)互补地向分配电容分配电荷来作为相反极性的电荷量的方式，切换连接的其他开关(SW3、SW4)；以及将充电到分配电容(Cdp、Cdn)的电荷变换为电压的电荷放大器(12)。
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公开(公告)号：CN103329076B
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201280004987.3
申请日：2012-01-05
申请人： 阿尔卑斯电气株式会社
发明人： 尾屋隼一郎
CPC分类号： G06F3/044 , G06F2203/04111
摘要： 本发明的目的为，提供一种检测时的响应速度快，而且消耗功率更小的坐标输入装置。该静电电容式的坐标输入装置其结构为，具备：第1电极群，具有多个按规定间隔排列的第1电极列；以及第2电极群，具有多个按规定间隔排列的第2电极列；第1电极群和第2电极群被绝缘，并且被交叉敷设，第1电极列通过沿着第1方向连结着多个第1电极而形成，第2电极列通过沿着第2方向连结着多个第2电极而形成，在俯视时，第1电极与第2电极错开位置而配设，第1电极的形状以及第2电极的形状是环状。
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公开(公告)号：CN102590635A
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN201210000835.8
申请日：2012-01-04
申请人： 阿尔卑斯电气株式会社
发明人： 尾屋隼一郎
IPC分类号： G01R27/26
CPC分类号： G06F3/044 , G06F3/0416 , H03K2217/960725
摘要： 一种电容检测装置，能以比调整用电容元件的最小值更高精度来调整偏移。电容检测装置(10)具备偏移调整电路(14)，偏移调整电路(14)用于从自电荷读取机构(12)向积分器(13)传输的电荷中去除偏移，偏移调整电路(14)具备：可变电容元件(21)，其由多个电容元件构成，且通过对被并联连接于传输线路的电容元件个数进行切换来设定为规定电容值；和调整用电容元件(23)，其与可变电容元件(21)并联连接，且是构成可变电容元件(21)的电容元件的最小值。偏移调整电路(14)被驱动控制为：在M次反复由可变电容元件(21)进行偏移去除的期间，仅N次(M＞N，M、N为自然数)由调整用电容元件(23)进行偏移去除。
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公开(公告)号：CN102332894A
公开(公告)日：2012-01-25
申请号：CN201110148900.7
申请日：2011-06-03
申请人： 阿尔卑斯电气株式会社
发明人： 尾屋隼一郎
IPC分类号： H03H17/02
CPC分类号： H03H17/0286 , H03H17/026 , H03H17/0282 , H03H17/0671 , H03H2218/10 , H03K17/955 , H03K2217/960745
摘要： 本发明提供一种数字滤波器，其和前级的模拟部中的模拟运算动作的匹配性良好，对于模拟部的输出能在噪声位置形成陷波，从而改善噪声除去性能。该数字滤波器(1)在前级配置有模拟运算结果的比特数据输出按每N个时钟而发生变化的模拟部(2)，并且以和所述模拟部(2)同步的时钟进行动作，从所述模拟部(2)输出的比特数据中除去噪声，该数字滤波器(1)构成为具备：Sinc N阶滤波器(11)，其将提取采样的移动平均的Sinc滤波器级联为N级而形成；和K抽头数的移动平均滤波器(12)，其连接于Sinc N阶滤波器(11)的输出级。
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公开(公告)号：CN103329076A
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：CN201280004987.3
申请日：2012-01-05
申请人： 阿尔卑斯电气株式会社
发明人： 尾屋隼一郎
CPC分类号： G06F3/044 , G06F2203/04111
摘要： 本发明的目的为，提供一种检测时的响应速度快，而且消耗功率更小的坐标输入装置。该静电电容式的坐标输入装置其结构为，具备：第1电极群，具有多个按规定间隔排列的第1电极列；以及第2电极群，具有多个按规定间隔排列的第2电极列；第1电极群和第2电极群被绝缘，并且被交叉敷设，第1电极列通过沿着第1方向连结着多个第1电极而形成，第2电极列通过沿着第2方向连结着多个第2电极而形成，在俯视时，第1电极与第2电极错开位置而配设，第1电极的形状以及第2电极的形状是环状。
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公开(公告)号：CN102221645A
公开(公告)日：2011-10-19
申请号：CN201110064989.9
申请日：2011-03-15
申请人： 阿尔卑斯电气株式会社
IPC分类号： G01R27/26
CPC分类号： G01R27/2605
摘要： 本发明提供一种电容检测装置，能够谋求增加在规定时间内的取入次数来改善检测灵敏度，并回避由于电荷平均化而引起的电压变动量的减少来改善检测精度。该电容检测装置具备：开关(SW21、SW23)，在第1区间将被检测电容(C21)以及参照电容(C22)充电为Vdd，并且将参照电容(C23)以及(C24)充电为地，在第2区间，将被检测电容(C21)以及参照电容(C22)充电为地，并且将参照电容(C23)以及(C24)充电为Vdd；开关(SW22、SW24)，在充电期间，切断被检测电容(C21)以及参照电容(C22)、和参照电容(C23)以及(C24)之间，在电容分配时刻，连接被检测电容(C21)以及参照电容(C22)、和参照电容(C23)以及(C24)；和差动放大器(AMP1)，其差动输入被电荷平均化而保持在参照电容(C23)以及(C24)中的电压。
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公开(公告)号：CN102221646B
公开(公告)日：2014-09-24
申请号：CN201110065420.4
申请日：2011-03-11
申请人： 阿尔卑斯电气株式会社
IPC分类号： G01R27/26
摘要： 本发明的电容检测装置和电容检测方法即使在噪声多的环境下，也能够稳定地检测静电电容的变化。该电容检测装置包括：以规定周期将用于充电被检测电容(Cf、Cs)的电压电平切换为多个电压电平的开关(SW1、SW2)；被分配充电到被检测电容(Cf、Cs)的电荷的多个分配电容(Cdp、Cdn)；以规定周期将用于初始化分配电容(Cdp、Cdn)的电压电平设定为多个电压电平的第二开关(SW5、SW6)；按照从被检测电容(Cf、Cs)互补地向分配电容分配电荷来作为相反极性的电荷量的方式，切换连接的其他开关(SW3、SW4)；以及将充电到分配电容(Cdp、Cdn)的电荷变换为电压的电荷放大器(12)。
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