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公开(公告)号:CN103577015A
公开(公告)日:2014-02-12
申请号:CN201310331780.3
申请日:2013-08-01
申请人: 阿尔卑斯电气株式会社
发明人: 藤由达巳
IPC分类号: G06F3/044
CPC分类号: G01R35/00 , G01R27/2605 , G06F3/0418 , H03K2217/960725
摘要: 提供一种抑制电路规模的扩大及消耗电力的增大、抑制噪声的影响、能够将微小的静电电容的变化以高的S/N比稳定地检测的静电电容检测电路以及输入设备。该静电电容检测电路(1)具备:电荷放大器(10),具有在反馈路径中设有电容器(Cfb)的运算放大器(11),包括传感器电极(2)的电极间电容(Cm)的检测电荷及由外来噪声带来的电荷的信号流入;切换电路(SW4-1、SW5-1、SW4-2、SW5-2),能够切换经由反馈路径连接在电荷放大器(10)的输入输出端上的电容器(Cfb)的方向,通过施加在传感器电极(2)的驱动信号,根据从传感器电极的检测侧电极流入的电荷的方向切换电容器(Cfb)的方向。
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公开(公告)号:CN1400580A
公开(公告)日:2003-03-05
申请号:CN02126564.X
申请日:2002-07-24
申请人: 阿尔卑斯电气株式会社
IPC分类号: G09G3/36
CPC分类号: G09G3/3648 , G09G3/3607 , G09G3/3614 , G09G3/3688 , G09G2310/0297
摘要: 一种显示装置,具有在一对基板中一方的基板上形成多条呈矩阵状相互交叉的数据线及扫描线,把数据线中的第1组数据线引出到作为所述基板的其中一边的第1边上,把多条数据线中的第1组数据线以外的第2组数据线引出到基板的边中的与第1边相对位置上的第2边上,基板的面被多条数据线及扫描线分隔成多个点,由多个相邻的规定个数的点的组构成多个像素(Ga1、Ga2、Ga3、...)的显示部(1a),与构成显示部上1个像素的规定个数的点相连的数据线全部被引出到基板边中的同一边上。从而可提供一种不需要倒频电路、小型廉价且能够显示彩色自然画面的显示装置。
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公开(公告)号:CN102221646A
公开(公告)日:2011-10-19
申请号:CN201110065420.4
申请日:2011-03-11
申请人: 阿尔卑斯电气株式会社
IPC分类号: G01R27/26
摘要: 本发明的电容检测装置和电容检测方法即使在噪声多的环境下,也能够稳定地检测静电电容的变化。该电容检测装置包括:以规定周期将用于充电被检测电容(Cf、Cs)的电压电平切换为多个电压电平的开关(SW1、SW2);被分配充电到被检测电容(Cf、Cs)的电荷的多个分配电容(Cdp、Cdn);以规定周期将用于初始化分配电容(Cdp、Cdn)的电压电平设定为多个电压电平的第二开关(SW5、SW6);按照从被检测电容(Cf、Cs)互补地向分配电容分配电荷来作为相反极性的电荷量的方式,切换连接的其他开关(SW3、SW4);以及将充电到分配电容(Cdp、Cdn)的电荷变换为电压的电荷放大器(12)。
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公开(公告)号:CN102105851B
公开(公告)日:2013-07-31
申请号:CN200980129411.8
申请日:2009-07-21
申请人: 阿尔卑斯电气株式会社
IPC分类号: G06F3/044
CPC分类号: G06F3/044
摘要: 本发明提供一种对使用环境的限制少,也不会因振动对设备造成影响,而且具有不需要持有特定的输入装置的简单的构成的静电电容式运动检测装置以及利用其的输入装置。在本发明的静电电容式检测装置中,在进行X轴方向的运动检测的情况下,通过切换电路(214)使驱动电极(12a,12d)的极性均为正(D+),使检测电极(12b)的极性为正(S+),并使检测电极(12c)的极性为负(S-)。在这样的运动检测电路中,用驱动电路(211)使驱动电极(12a、12d)驱动,并能够根据此时由检测电路A、B(212,213)检测出的静电电容的差分来求得被检测体的X轴方向的位置。
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公开(公告)号:CN100367039C
公开(公告)日:2008-02-06
申请号:CN200510063872.3
申请日:2005-04-07
申请人: 阿尔卑斯电气株式会社
发明人: 藤由达巳
CPC分类号: G06K9/0002
摘要: 本发明可削减集成电路内部的芯片面积,即电容(反馈电容器)形成部分的面积,解决了制造成本的上升以及检测电压的增益调节的问题。本发明的电容检测电路中,相对多个列配线对置地形成行配线,检测出列配线和行配线交叉部分的电容变化,将该电容变化转换为电信号,该电容检测电路具有:驱动上述列配线的列配线驱动装置;比较器,连接在上述行配线上,将与被驱动的列配线的交叉部分的电容中产生的电荷转换为测量电压,将该测定电压与设定值比较以输出充放电信号;对应于上述充放电信号进行电荷的充放电的恒流源;以及通过上述充放电的电流积累电荷的电容器,其中上述电容器的两端的电压作为电信号输出。
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公开(公告)号:CN108139768A
公开(公告)日:2018-06-08
申请号:CN201680059408.3
申请日:2016-10-13
申请人: 阿尔卑斯电气株式会社
摘要: 与输出信号(Qu1)含有的第1矩形波(W1)的第3高次谐波和输入信号(Vi)之积对应的信号成分、以及与第1矩形波(W1)的第5次高次谐波和输入信号(Vi)之积对应的信号成分通过与输出信号(Qu2)含有的第2矩形波(W2)的基波和输入信号(Vi)之积对应的信号成分、以及与输出信号(Qu3)含有的第2矩形波(W3)的基波和输入信号(Vi)之积对应的信号成分被抵消。
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公开(公告)号:CN107534415A
公开(公告)日:2018-01-02
申请号:CN201680021645.0
申请日:2016-04-01
申请人: 阿尔卑斯电气株式会社
CPC分类号: G06F7/548 , G06G7/16 , H03D7/1425 , H03D7/1466 , H03D7/1483 , H03D2200/006 , H03D2200/0074 , H03D2200/0086
摘要: 提供结构简单、输入信号的电平的范围宽、因温度而导致的特性的变动小的正弦波相乘装置。利用输出信号(Su2)所包含的对应于第二矩形波(W2)的基波和输入信号(Si)之积的信号成分以及输出信号(Su3)所包含的对应于第二矩形波(W3)的基波和输入信号(Si)之积的信号成分来抵消输出信号(Su1)所包含的对应于第一矩形波(W1)的第三高次谐波和输入信号(Si)之积的信号成分以及对应于第一矩形波(W1)的第五次高次谐波和输入信号(Si)之积的信号成分。
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公开(公告)号:CN103577015B
公开(公告)日:2017-03-01
申请号:CN201310331780.3
申请日:2013-08-01
申请人: 阿尔卑斯电气株式会社
发明人: 藤由达巳
IPC分类号: G06F3/044
CPC分类号: G01R35/00 , G01R27/2605 , G06F3/0418 , H03K2217/960725
摘要: 提供一种抑制电路规模的扩大及消耗电力的增大、抑制噪声的影响、能够将微小的静电电容的变化以高的S/N比稳定地检测的静电电容检测电路以及输入设备。该静电电容检测电路(1)具备:电荷放大器(10),具有在反馈路径中设有电容器(Cfb)的运算放大器(11),包括传感器电极(2)的电极间电容(Cm)的检测电荷及由外来噪声带来的电荷的信号流入;切换电路(SW4-1、SW5-1、SW4-2、SW5-2),能够切换经由反馈路径连接在电荷放大器(10)的输入输出端上的电容器(Cfb)的方向,通过施加在传感器电极(2)的驱动信号,根据从传感器电极的检测侧电极流入的电荷的方向切换电容器(Cfb)的方向。
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公开(公告)号:CN102221646B
公开(公告)日:2014-09-24
申请号:CN201110065420.4
申请日:2011-03-11
申请人: 阿尔卑斯电气株式会社
IPC分类号: G01R27/26
摘要: 本发明的电容检测装置和电容检测方法即使在噪声多的环境下,也能够稳定地检测静电电容的变化。该电容检测装置包括:以规定周期将用于充电被检测电容(Cf、Cs)的电压电平切换为多个电压电平的开关(SW1、SW2);被分配充电到被检测电容(Cf、Cs)的电荷的多个分配电容(Cdp、Cdn);以规定周期将用于初始化分配电容(Cdp、Cdn)的电压电平设定为多个电压电平的第二开关(SW5、SW6);按照从被检测电容(Cf、Cs)互补地向分配电容分配电荷来作为相反极性的电荷量的方式,切换连接的其他开关(SW3、SW4);以及将充电到分配电容(Cdp、Cdn)的电荷变换为电压的电荷放大器(12)。
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公开(公告)号:CN102105851A
公开(公告)日:2011-06-22
申请号:CN200980129411.8
申请日:2009-07-21
申请人: 阿尔卑斯电气株式会社
CPC分类号: G06F3/044
摘要: 本发明提供一种对使用环境的限制少,也不会因振动对设备造成影响,而且具有不需要持有特定的输入装置的简单的构成的静电电容式运动检测装置以及利用其的输入装置。在本发明的静电电容式检测装置中,在进行X轴方向的运动检测的情况下,通过切换电路(214)使驱动电极(12a,12d)的极性均为正(D+),使检测电极(12b)的极性为正(S+),并使检测电极(12c)的极性为负(S-)。在这样的运动检测电路中,用驱动电路(211)使驱动电极(12a、12d)驱动,并能够根据此时由检测电路A、B(212,213)检测出的静电电容的差分来求得被检测体的X轴方向的位置。
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