一种声级计检定装置转台

    公开(公告)号:CN113959559B

    公开(公告)日:2024-09-10

    申请号:CN202111313754.9

    申请日:2021-11-08

    IPC分类号: G01H17/00

    摘要: 本发明属于声学计量技术领域,涉及一种声级计检定装置转台,包括支撑装置;驱动组件,设置在支撑装置上侧;转台,设置在驱动组件上侧且与驱动组件的输出件连接,驱动组件用于带动转台实现周向的角度调整;多个夹具,用于分别装夹标准传声器与多个被检仪器,均布设置在转台上,夹具沿着转台的径向方向位置可调;检测装置,设置在转台上,用于采集转台的旋转角度;消声材料层,包覆在支撑装置、驱动组件、转台和多个夹具外,用于吸收回声,消除支架结构对自由声场的破坏;控制器,设置在支座上,分别与检测装置和驱动组件电连接。本发明可在不破坏自由声场的状态下同时对多台声级计进行检定,提高了检定效率、降低了检定员的劳动强度。

    一种增材制造设备的制备精度评价方法及系统

    公开(公告)号:CN117516438B

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202410003843.0

    申请日:2024-01-03

    摘要: 本发明公开了一种增材制造设备的制备精度评价方法及系统,属于设备校准技术领域,通过计算被计量的增材制造设备的工作空间尺寸的长宽比,确定制备测试件的数量,确定测试件的结构和尺寸,并通过被计量的增材制造设备制备测试件;利用三维计量设备建立工件坐标系,测量制备的测试件盘型底座的底面及外圆柱面、定位孔内圆柱面相应的长度尺寸和角度,获得测量尺寸数据,计算示值误差E和RMS,对被计量的增材制造设备的制备精度进行评价。该方法仅用一种测试件,便可以对增材制造设备工作空间的至少7个不同位置或方向进行同时检验,同时可以保证计量与增材制造设备实际工作中的坐标系重合,能够对设备进行综合评价同时可以实现更高精度的计量。

    一种平晶平面度检测用夹持辅助装置及方法

    公开(公告)号:CN117308830B

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202311217459.2

    申请日:2023-09-20

    IPC分类号: G01B11/30 B25B11/00

    摘要: 本发明公开了一种平晶平面度检测用夹持辅助装置,包括设有取料口的平面等厚干涉仪本体、L形连杆、安装环和位置调节机构;L形连杆设置在平面等厚干涉仪本体的外侧,L形连杆的水平端滑动卡装在水平开设于平面等厚干涉仪本体的侧壁上的槽口内,安装环设置在平面等厚干涉仪本体内,且与L形连杆的水平端固定,安装环上设有用于固定平晶的夹持机构;位置调节机构设置在平面等厚干涉仪本体的外侧,且输出端与L形连杆的竖直端连接,位置调节机构用于调节平晶位于平面等厚干涉仪本体内的位置。本发明相比手动调节被检平晶的定位点来说,具备调节精准的优势,而且调节好后,能够将被检平晶的位置进行固定,避免平晶因外力因素造成位置偏移。

    一种增材制造设备的制备精度评价方法及系统

    公开(公告)号:CN117516438A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202410003843.0

    申请日:2024-01-03

    摘要: 本发明公开了一种增材制造设备的制备精度评价方法及系统,属于设备校准技术领域,通过计算被计量的增材制造设备的工作空间尺寸的长宽比,确定制备测试件的数量,确定测试件的结构和尺寸,并通过被计量的增材制造设备制备测试件;利用三维计量设备建立工件坐标系,测量制备的测试件盘型底座的底面及外圆柱面、定位孔内圆柱面相应的长度尺寸和角度,获得测量尺寸数据,计算示值误差E和RMS,对被计量的增材制造设备的制备精度进行评价。该方法仅用一种测试件,便可以对增材制造设备工作空间的至少7个不同位置或方向进行同时检验,同时可以保证计量与增材制造设备实际工作中的坐标系重合,能够对设备进行综合评价同时可以实现更高精度的计量。

    读数显微镜专用检定装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113865828A

    公开(公告)日:2021-12-31

    申请号:CN202111135645.2

    申请日:2021-09-27

    IPC分类号: G01M11/00

    摘要: 本发明公开了读数显微镜专用检定装置,属于计量器具检测技术领域。包括夹持结构、升降结构和载物台;升降结构上端固定连接夹持结构;载物台包括底板、中板、顶板和透明圆台,所述底板固定连接升降结构的下端,底板和中板之间设有横向导向结构,中板和顶板之间设有纵向导向结构,顶板和透明圆台之间转动轴连接。升降结构能够通过调节夹持结构的高度,实现读数显微镜与放置于透明圆台上的玻璃线纹尺间的距离的改变,用于调节焦距,本申请很好地解决了读数显微镜在实际检定过程中的夹持不稳和对线不易的问题。

    一种校准用线位移传感器装夹姿态调整系统及调整方法

    公开(公告)号:CN113790690B

    公开(公告)日:2024-04-02

    申请号:CN202111362043.0

    申请日:2021-11-17

    IPC分类号: G01B21/04

    摘要: 本发明属于传感器计量校准技术领域,涉及一种校准用线位移传感器装夹姿态调整系统,包括装夹平台,其高度、倾角、周向转角、在二维平面上的位置可调;第一装夹组件,用于装夹待校准的线位移传感器,第一装夹组件位于装夹平台的上侧,与装夹平台可拆卸式连接;第二装夹组件,设置在第一装夹组件的一侧;二维位置传感器,设置在第二装夹组件上,与待校准的线位移传感器相对设置;控制器,与装夹平台和二维位置传感器分别电连接。本发明解决了在对高精度线位移传感器校准中存在的姿态调整困难问题,减小了因传感器装夹姿态微小偏差造成的测量误差对校准精度的影响,并提高线位移传感器的校准精度与校准效率,降低了对操作人员经验的依赖程度。

    激光对中仪校准装置及其校准方法

    公开(公告)号:CN113375698A

    公开(公告)日:2021-09-10

    申请号:CN202110844280.4

    申请日:2021-07-26

    IPC分类号: G01C25/00 G01B11/02

    摘要: 本发明涉及仪器校准技术领域,具体的涉及一种激光对中仪校准装置,包括基座和间隔设置在基座对应两侧的发射端支架和接收端支架,还包括升降机构和转动装置,转动装置包括水平转角机构和垂直转角机构;升降机构设在基座上,升降机构顶设有激光对中仪发射端,发射端支架顶设有位移传感器,位移传感器位于激光对中仪发射端上方;水平转角机构与接收端支架连接,垂直转角机构与水平转角机构连接,垂直转角机构上设置有激光对中仪接收端和倾角传感器;通过升降机构、水平转角机构和垂直转角机构来实现竖直偏移、水平倾角和竖直倾角测量的校准,结构简单,操作方便,学习成本低,工作效率高,大大降低了对激光对中仪校准的难度。

    一种平晶平面度检测用夹持辅助装置及方法

    公开(公告)号:CN117308830A

    公开(公告)日:2023-12-29

    申请号:CN202311217459.2

    申请日:2023-09-20

    IPC分类号: G01B11/30 B25B11/00

    摘要: 本发明公开了一种平晶平面度检测用夹持辅助装置,包括设有取料口的平面等厚干涉仪本体、L形连杆、安装环和位置调节机构;L形连杆设置在平面等厚干涉仪本体的外侧,L形连杆的水平端滑动卡装在水平开设于平面等厚干涉仪本体的侧壁上的槽口内,安装环设置在平面等厚干涉仪本体内,且与L形连杆的水平端固定,安装环上设有用于固定平晶的夹持机构;位置调节机构设置在平面等厚干涉仪本体的外侧,且输出端与L形连杆的竖直端连接,位置调节机构用于调节平晶位于平面等厚干涉仪本体内的位置。本发明相比手动调节被检平晶的定位点来说,具备调节精准的优势,而且调节好后,能够将被检平晶的位置进行固定,避免平晶因外力因素造成位置偏移。

    一种声级计检定装置转台

    公开(公告)号:CN113959559A

    公开(公告)日:2022-01-21

    申请号:CN202111313754.9

    申请日:2021-11-08

    IPC分类号: G01H17/00

    摘要: 本发明属于声学计量技术领域,涉及一种声级计检定装置转台,包括支撑装置;驱动组件,设置在支撑装置上侧;转台,设置在驱动组件上侧且与驱动组件的输出件连接,驱动组件用于带动转台实现周向的角度调整;多个夹具,用于分别装夹标准传声器与多个被检仪器,均布设置在转台上,夹具沿着转台的径向方向位置可调;检测装置,设置在转台上,用于采集转台的旋转角度;消声材料层,包覆在支撑装置、驱动组件、转台和多个夹具外,用于吸收回声,消除支架结构对自由声场的破坏;控制器,设置在支座上,分别与检测装置和驱动组件电连接。本发明可在不破坏自由声场的状态下同时对多台声级计进行检定,提高了检定效率、降低了检定员的劳动强度。