公开(公告)号：CN107796300A

公开(公告)日：2018-03-13

申请号：CN201710786178.7

申请日：2017-09-04

申请人： ABB瑞士股份有限公司

发明人： 顾逊 ,  S.V.马彻塞 ,  K.博内特

IPC分类号： G01B9/02

摘要： 为了测量基于干涉的闭环相位调制光学传感器装置中的干涉的对比度，反馈控制器(12)中的反馈环路的增益被评估。这个增益被发现是对比度的量度。以这种方式评估的对比度例如能够被用于在确定传感器装置的被测量时的周期消除歧义。传感器装置能够例如是高电压传感器或电流传感器。

公开(公告)号：CN106796125A

公开(公告)日：2017-05-31

申请号：CN201580009312.1

申请日：2015-02-19

申请人： ABB 瑞士股份有限公司

发明人： 顾逊 ,  S.V.马彻塞 ,  K.博内特 ,  A.弗兰克

IPC分类号： G01D5/26 ,  G01D5/353 ,  G01R15/24 ,  G01R33/032

CPC分类号： G01D5/266 ,  G01D5/353 ,  G01D5/35303 ,  G01R15/241 ,  G01R33/032 ,  G01R33/0327

摘要： 提供一种传感器，其具有：感测元件(8)，由此被测对象引起两个波之间的相对相移；相位调制器(5)，将调制添加到相对相移；至少两个检测器(10‑1，10‑2)，其中第一检测器(10‑1)响应于相对相移没有包含如由被测对象所引起的相对相移而检测干扰信号，并且其中第二检测器(10‑2)响应于相对相移包括如由被测对象所引起的相对相移而检测干扰信号；以及还包括信号处理单元(11)，其适合分析两个所检测干扰信号，并且从其中得出被测对象值。

公开(公告)号：CN107796978B

公开(公告)日：2019-11-08

申请号：CN201710786706.9

申请日：2017-09-04

申请人： ABB瑞士股份有限公司

发明人： X.古 ,  K.博内特 ,  S.V.马彻塞

IPC分类号： G01R19/00 ,  G01R15/24 ,  G01R35/00

摘要： 为了测量电压，电光元件(5)放置在通过电压所生成的电场中，以及光经过法拉第旋转器(4)和电光元件(5)从光源(9)传递到反射器(6)上，以及从其中经过电光元件(5)和法拉第旋转器(4)回传，由此生成光的两种偏振之间的电压相关相移。干涉对比度以及所述偏振之间的总相移的主值被测量并且转换成具有等于对比度的绝对值和等于主值的相位的复值。这个复值使用校准值来补偿和缩放，以计算补偿复值。电压从补偿复值来得出。

公开(公告)号：CN107430157A

公开(公告)日：2017-12-01

申请号：CN201580077979.5

申请日：2015-03-19

申请人： ABB瑞士股份有限公司

发明人： S.V.马彻塞 ,  顾逊 ,  B.布于克卡维 ,  K.博内特 ,  T.埃福德

IPC分类号： G01R15/24

摘要： 本发明涉及不透气体舱(1a)和光学电压传感器的组件，该光学电压传感器还包括模块(1c)。模块(1c)包括电光晶体(9)和电极(7,8)，其中电光晶体(9)为模块(1c)的机械地连接两个电极(7,8)且桥接两个电极(7,8)的电位的唯一元件。该组件特别适合于测量直流电压。

公开(公告)号：CN107430157B

公开(公告)日：2020-05-19

申请号：CN201580077979.5

申请日：2015-03-19

申请人： ABB瑞士股份有限公司

发明人： S.V.马彻塞 ,  顾逊 ,  B.布于克卡维 ,  K.博内特 ,  T.埃福德

IPC分类号： G01R15/24

摘要： 本发明涉及不透气体舱(1a)和光学电压传感器的组件，该光学电压传感器还包括模块(1c)。模块(1c)包括电光晶体(9)和电极(7,8)，其中电光晶体(9)为模块(1c)的机械地连接两个电极(7,8)且桥接两个电极(7,8)的电位的唯一元件。该组件特别适合于测量直流电压。

公开(公告)号：CN106796125B

公开(公告)日：2019-06-18

申请号：CN201580009312.1

申请日：2015-02-19

申请人： ABB ,  瑞士股份有限公司

发明人： 顾逊 ,  S.V.马彻塞 ,  K.博内特 ,  A.弗兰克

IPC分类号： G01D5/26 ,  G01D5/353 ,  G01R15/24 ,  G01R33/032

CPC分类号： G01D5/266 ,  G01D5/353 ,  G01D5/35303 ,  G01R15/241 ,  G01R33/032 ,  G01R33/0327

摘要： 提供一种传感器，其具有：感测元件(8)，由此被测对象引起两个波之间的相对相移；相位调制器(5)，将调制添加到相对相移；至少两个检测器(10‑1，10‑2)，其中第一检测器(10‑1)响应于相对相移没有包含如由被测对象所引起的相对相移而检测干扰信号，并且其中第二检测器(10‑2)响应于相对相移包括如由被测对象所引起的相对相移而检测干扰信号；以及还包括信号处理单元(11)，其适合分析两个所检测干扰信号，并且从其中得出被测对象值。

公开(公告)号：CN107796978A

公开(公告)日：2018-03-13

申请号：CN201710786706.9

申请日：2017-09-04

申请人： ABB瑞士股份有限公司

发明人： X.古 ,  K.博内特 ,  S.V.马彻塞

IPC分类号： G01R19/00 ,  G01R15/24 ,  G01R35/00

摘要： 为了测量电压，电光元件(5)放置在通过电压所生成的电场中，以及光经过法拉第旋转器(4)和电光元件(5)从光源(9)传递到反射器(6)上，以及从其中经过电光元件(5)和法拉第旋转器(4)回传，由此生成光的两种偏振之间的电压相关相移。干涉对比度以及所述偏振之间的总相移的主值被测量并且转换成具有等于对比度的绝对值和等于主值的相位的复值。这个复值使用校准值来补偿和缩放，以计算补偿复值。电压从补偿复值来得出。

公开(公告)号：CN106062506A

公开(公告)日：2016-10-26

申请号：CN201580009647.3

申请日：2015-02-19

申请人： ABB瑞士股份有限公司

发明人： 顾逊 ,  S.V.马彻塞 ,  K.博内特 ,  A.弗兰克

IPC分类号： G01B9/02 ,  G01D5/26 ,  G01D5/353 ,  G01R15/24

CPC分类号： G01D5/266 ,  G01D5/35309

摘要： 提供一种干涉测定传感器，其具有：一个或多个波生成器(20，20')，其生成至少第一集合和第二集合，第一集合由均以第一波长为中心的两个波组成，第二集合由均以不同的第二波长为中心的两个波组成；以及感测元件(22)，由此被测对象分别引起第一集合的波之间的第一相对相移以及第二集合的波之间的第二相对相移；至少一个检测器(26，26')，其测量第一集合的波之间的第一干扰信号以及第二集合的波之间的第二干扰信号；以及还包含信号处理单元(31)，其适合从第一和第二干扰信号在2π范围内分别明确确定表示第一和第二相对相移的主值的两个量，并且从其组合来得出被测对象值。

公开(公告)号：CN106062506B

公开(公告)日：2021-06-01

申请号：CN201580009647.3

申请日：2015-02-19

申请人： ABB电网瑞士股份公司

发明人： 顾逊 ,  S.V.马彻塞 ,  K.博内特 ,  A.弗兰克

IPC分类号： G01B9/02 ,  G01D5/26 ,  G01D5/353 ,  G01R15/24

摘要： 提供一种干涉测定传感器，其具有：一个或多个波生成器(20，20')，其生成至少第一集合和第二集合，第一集合由均以第一波长为中心的两个波组成，第二集合由均以不同的第二波长为中心的两个波组成；以及感测元件(22)，由此被测对象分别引起第一集合的波之间的第一相对相移以及第二集合的波之间的第二相对相移；至少一个检测器(26，26')，其测量第一集合的波之间的第一干扰信号以及第二集合的波之间的第二干扰信号；以及还包含信号处理单元(31)，其适合从第一和第二干扰信号在2π范围内分别明确确定表示第一和第二相对相移的主值的两个量，并且从其组合来得出被测对象值。

公开(公告)号：CN103718050A

公开(公告)日：2014-04-09

申请号：CN201280037164.0

申请日：2012-05-29

申请人： ABB研究有限公司

发明人： O.斯泰格 ,  J.帕斯卡尔 ,  K.博内特 ,  S.V.马彻塞 ,  S.维德马思

IPC分类号： G01R15/24

摘要： 公开用于测量两个端子（1a，1b）之间的电压（V，Vn）、特别地高压体系中的AC电压的方法和装置。该方法和/或装置依靠电光元件（2；2a，2b，2c）中的电光效应。该电光效应在行进通过电光元件（2；2a，2b，2c）的两个垂直偏振光波中引入例如不同的光学相移。从而，可以测量指示在第n电光元件（2；2a，2b，2c）的位置处或第n电光元件（2；2a，2b，2c）长度上的电场的信号（Sn）。根据本发明，信号（Sn）中的模糊通过使用关于额外的参考信号或正交信号（Sn'）的假定测试而解决。通过将多个这些电光元件串联设置在端子之间，从成本效率和绝缘方面获得优势。此外，公开了用于测量高压的装置。